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前言

2026年5月19日中星聯(lián)華科技攜手北京大學集成電路學院，成功舉辦「芯篇章——走進高?！瓜盗屑夹g大講堂北京學站活動。本次講座以「ADC/DAC/PLL/SerDes與高速信號完整性解析」為主題，由中星聯(lián)華技術支持總監(jiān)蘇水金擔任主講人，圍繞芯片測試領域的核心技術與工程實踐進行了系統(tǒng)性講解。

北京大學集成電路學院是國內(nèi)電子信息領域的重點院系，在信號處理、集成電路、光電子等方向具有深厚的學術積累與科研實力，長期為半導體與通信行業(yè)輸送高水平工程技術人才。本次技術交流活動的舉辦，旨在進一步推動校企之間的技術互動與資源共享，促進高校學術研究與產(chǎn)業(yè)工程實踐的深度對接。

當前，我國科研儀器自主研發(fā)進程持續(xù)加速，芯片測試能力建設已成為產(chǎn)業(yè)鏈條中的關鍵環(huán)節(jié)。在此背景下，中星聯(lián)華「走進高校」系列以工程經(jīng)驗分享和技術交流為核心，致力于為高校師生搭建接觸產(chǎn)業(yè)一線的常態(tài)化平臺。

聚焦理論知識，拓寬實戰(zhàn)視野

現(xiàn)場，中星聯(lián)華技術支持總監(jiān)蘇水金以其豐富的行業(yè)經(jīng)驗與扎實的專業(yè)素養(yǎng),以ADC/DAC/PLL/SerDes芯片、高速信號完整性為主題為大家展開講解。

首先系統(tǒng)梳理了當前主流ADC/DAC芯片的發(fā)展現(xiàn)狀，重點講解了動態(tài)參數(shù)測試（SNR、SINAD、SFDR、THD、ENOB）與靜態(tài)參數(shù)測試（INL、DNL）的測試原理與方法，并結合實際通信場景介紹了EVM、ACLR等關鍵指標的測試實踐；之后圍繞鎖相環(huán)的基本工作原理，詳細闡述了相位噪聲、頻率穩(wěn)定性、時鐘抖動等核心性能指標的測試方案與常見問題；介紹完模擬芯片相關內(nèi)容后又從高速串行總線的發(fā)展趨勢切入，深入解析了SerDes芯片的內(nèi)部架構，包括PMD（物理介質相關層）、PMA（物理介質附件層）、PCS（物理編碼子層）的功能與測試要點，分享了目前主流協(xié)議、私有協(xié)議、相關標準的發(fā)展情況，并結合TX和RX驗證測試的實際案例進行了分享；然后從信號完整性問題的根本來源出發(fā)，系統(tǒng)講解了SI（信號完整性）、PI（電源完整性）、EMI（電磁干擾）三大問題的成因與應對思路，并圍繞協(xié)議標準、抖動分析、眼圖判讀、CDR（時鐘數(shù)據(jù)恢復）原理進行了深入闡述。在高速信號完整性的方面，系統(tǒng)的講解了插入損耗、回波損耗和串擾的產(chǎn)生原因及測試方法，在均衡技術方面，講座涵蓋了FFE、CTLE、DFE三種主流均衡方案的原理與參數(shù)設置方法，同時介紹了NRZ、PAM3、PAM4等編碼技術在當前高速接口中的應用場景。此外，講座還就國內(nèi)外ADC、SerDes芯片的技術水平差異及應用場景進行了客觀對比；最后在理論講解基礎上，現(xiàn)場展示了中星聯(lián)華超低相噪微波信號源與高性能誤碼率測試儀（BERT）的測試操作流程，結合具體芯片測試案例，系統(tǒng)分享了測試參數(shù)設置、關鍵指標判定及實際工程中的經(jīng)驗與注意事項。

科技點亮未來

講座期間，現(xiàn)場座無虛席，感謝北京大學集成電路學院精心組織此次技術交流活動，通過與現(xiàn)場的師生們交流，我司深切感受到了深切感受到了北京大學的學術氛圍和專研精神。在互動環(huán)節(jié)中，現(xiàn)場師生圍繞國產(chǎn)ADC芯片性能對標、信號完整性測試工具選型、SerDes車載通信測試需求、芯片測試方向職業(yè)發(fā)展等議題展開了深入交流，主講人逐一進行了詳細解答。

中星聯(lián)華方面表示，公司將持續(xù)推進「走進高?！瓜盗屑夹g交流活動，進一步拓展校企合作領域，創(chuàng)新合作模式。未來計劃走進更多重點高校，圍繞芯片測試、高速信號完整性、衛(wèi)星通信測試等方向，持續(xù)為高校師生提供來自產(chǎn)業(yè)一線的技術分享與實踐指導，助力國產(chǎn)芯片測試技術能力建設與行業(yè)人才培養(yǎng)。

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