EVAL - ADuM4221EBZ評(píng)估板:隔離半橋柵極驅(qū)動(dòng)器評(píng)測利器
在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,柵極驅(qū)動(dòng)器的性能對(duì)于功率電路的穩(wěn)定運(yùn)行至關(guān)重要。今天我們就來深入了解一下EVAL - ADuM4221EBZ評(píng)估板,它主要用于評(píng)估ADuM4221隔離半橋柵極驅(qū)動(dòng)器,該驅(qū)動(dòng)器采用了ADI公司的iCoupler?技術(shù),具備諸多出色特性。
文件下載:EVAL-ADUM4221EBZ.pdf
評(píng)估板特性亮點(diǎn)
可調(diào)節(jié)死區(qū)時(shí)間
死區(qū)時(shí)間的可調(diào)節(jié)性為電路設(shè)計(jì)提供了更高的靈活性,能有效避免上下橋臂直通,增強(qiáng)電路的安全性和穩(wěn)定性。比如在不同負(fù)載和工作頻率下,通過調(diào)整死區(qū)時(shí)間可以優(yōu)化電路性能。
寬輸出電壓范圍
輸出電壓范圍可達(dá)35V,這使得該評(píng)估板能夠適配多種不同的功率器件,滿足不同應(yīng)用場景的需求。
便捷的連接方式
配備螺絲端子,方便進(jìn)行各種連接操作,同時(shí)還預(yù)留了外部串聯(lián)柵極電阻和電容負(fù)載測試的焊盤,方便工程師進(jìn)行多樣化的測試和設(shè)計(jì)。
多種器件支持
支持TO - 220或TO - 252封裝的IGBT或MOSFET,為不同功率器件的測試和應(yīng)用提供了便利。
自舉選項(xiàng)
具備自舉功能,通過合理配置可以實(shí)現(xiàn)用單個(gè)電源為二次側(cè)供電,簡化了電源設(shè)計(jì)。
簡易半橋設(shè)置
通過跳線設(shè)置,可以輕松實(shí)現(xiàn)半橋電路的搭建,降低了測試和設(shè)計(jì)的難度。
評(píng)估板內(nèi)容及所需設(shè)備
評(píng)估板包含EVAL - ADuM4221EBZ評(píng)估板。所需的測試設(shè)備包括:
- 初級(jí)側(cè)電源:0V至6.5V,100mA。
- 兩個(gè)次級(jí)側(cè)電源:0V至35V,250mA。
- 方波發(fā)生器:0V至5V。
評(píng)估板的硬件配置與使用
初始配置
在出廠配置下,評(píng)估板用于在無負(fù)載條件下測試基本柵極驅(qū)動(dòng)器功能??梢允褂寐萁z端子或測試引腳進(jìn)行輸入、輸出和信號(hào)連接。不過在初次使用前,需要完成一些準(zhǔn)備步驟。比如R9至R14電阻未安裝,這些位置用于放置外部串聯(lián)電阻,作為被驅(qū)動(dòng)器件的充放電路徑。
被測設(shè)備焊盤布局
- 芯片:U1為ADuM4221的焊盤。
- 電容:C1、C4、C6為0.1μF旁路電容,C5和C7為10μF旁路電容,C2(未安裝)為1μF電容。
- 功率器件:Q1和Q2可安裝TO - 220封裝的MOSFET或IGBT,Q3和Q4可安裝TO - 252封裝的MOSFET或IGBT。
- 電阻:R9至R14為柵極電阻,用于控制輸出的轉(zhuǎn)換速率,可安裝1Ω至10Ω的1206尺寸貼片電阻。
- 電容負(fù)載:C3和C8的焊盤用于放置電容負(fù)載,模擬柵極電容。
- 自舉電路:D1和R8可用于為高端驅(qū)動(dòng)器提供自舉電源。
- 可變電阻:R3(未安裝)為最大500kΩ的可變電阻。
評(píng)估板設(shè)置
- 柵極電阻:建議使用1Ω至10Ω的1206尺寸表面貼裝外部柵極電阻,根據(jù)負(fù)載所需的驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度進(jìn)行選擇。
- 二極管:二極管D2和D3未安裝,但可用于提供不同的導(dǎo)通和關(guān)斷路徑。
- 功率器件:可在Q1或Q3以及Q2或Q4的焊盤上安裝IGBT或MOSFET。
- 跳線設(shè)置:
- 跳線P13和P14分別用于短路低端和高端的外部串聯(lián)電阻,以便觀察過沖或測量峰值電流。
- R2位置放置了10kΩ的死區(qū)時(shí)間電阻,可更換為10kΩ至500kΩ范圍內(nèi)的電阻,以調(diào)整ADuM4221高低端輸出之間的死區(qū)時(shí)間。也可使用電位器R3(未安裝)進(jìn)行更快速的死區(qū)時(shí)間調(diào)整。
- 電阻R4和跳線P3可用于將高端邏輯輸入端接50Ω負(fù)載,電阻R5和跳線P4可用于低端邏輯輸入。
- 跳線P6可將VIA連接到VDD1或GND,跳線P8可將VIB連接到VDD1或GND。
- 在P6和P7之間放置跳線可將VIA連接到外部輸入電壓信號(hào)VINA,在P8和P9之間放置跳線可將VIB連接到VINB。
電源連接
- 連接輸入VDD1電源(2.5V至6.5V),正極接VDD1引腳,負(fù)極接GND引腳。
- 連接VDDB電源(4.5V至35V),正極接VDDB引腳,負(fù)極接GND引腳。
- 連接VDDA電源(4.5V至35V),正極接VDDA引腳,負(fù)極接GND引腳。注意GND、GND和GND_B相互隔離,高端IGBT發(fā)射極/MOSFET源極連接到GNDA,低端IGBT發(fā)射極/MOSFET源極連接到GND_B。
輸入/輸出連接
- VIA和VIB引腳為邏輯電平輸入,兼容3.3V和5V系統(tǒng)??赏ㄟ^跳線或測試引腳將VIA連接到VINA,將VIB連接到VINB。
- 由于內(nèi)置重疊保護(hù),任何時(shí)候只有一個(gè)輸出為高電平,默認(rèn)死區(qū)時(shí)間約為62ns(R2位置使用10kΩ電阻)。
- P5頭跳線在出廠配置下連接引腳2和引腳3以啟用設(shè)備輸出,連接引腳1和引腳2則禁用設(shè)備。禁用功能也可通過連接到禁用(DIS)測試引腳進(jìn)行外部控制。
- 評(píng)估板上的半橋輸出(HB)測試引腳為Q2/Q4集電極/漏極節(jié)點(diǎn),若使用半橋配置,可通過跳線P15將Q1/Q3發(fā)射極/源極連接到HB??偩€電壓(BUS)測試引腳連接到高端Q1和Q3 MOSFET/IGBT的漏極。
- 建議C9使用100μF電解電容,C10和C11使用2.2μF陶瓷電容。
自舉設(shè)置
若要在自舉設(shè)置中使用單個(gè)二次側(cè)電源,需安裝自舉二極管D1和電阻R8(阻值通常在1Ω至20Ω范圍內(nèi))。在半橋配置下,ADuM4221的兩個(gè)輸出可由VDDB電源供電。當(dāng)開關(guān)節(jié)點(diǎn)(GND_A)為低電平時(shí),C4和C5通過正向偏置的自舉二極管充電;當(dāng)開關(guān)節(jié)點(diǎn)上升到橋電壓時(shí),二極管反向偏置,由于C4和C5上的電荷,VDA到GND幾乎等于VDB,考慮到二極管的正向壓降。為使自舉功能正常工作,必須安裝Q1和Q2或Q3和Q4,而不是負(fù)載電容C3和C8,并且需要在P15上放置跳線。同時(shí),開關(guān)頻率必須足夠高,占空比必須受限,以確保為C4和C5提供足夠的電荷來驅(qū)動(dòng)Q1或Q3的柵極。
總結(jié)
EVAL - ADuM4221EBZ評(píng)估板為工程師提供了一個(gè)全面、便捷的平臺(tái),用于評(píng)估ADuM4221隔離半橋柵極驅(qū)動(dòng)器的性能。通過合理配置和使用該評(píng)估板,工程師可以更好地了解和優(yōu)化柵極驅(qū)動(dòng)器在不同應(yīng)用場景下的性能。大家在使用過程中有沒有遇到過一些特殊的問題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。
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電子設(shè)計(jì)
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