各個(gè)ST的SF流程的詳細(xì)功能
2010年01月11日 11:27 m.sdkjxy.cn 作者：佚名 用戶評論（0）
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各個(gè)ST的SF流程的詳細(xì)功能
T的SF流程
在Cert流程表中, 各個(gè)流程段所做的工作是不同的:
01-03 預(yù)處理(可能清除所有FW)
04-0F 伺服測試(包括掃描缺陷軌道)
10-1F 通道優(yōu)化測試
20-2F 伺服參數(shù)調(diào)試
30-3E 缺陷掃描,分析,處理 (精確掃描壞扇區(qū)并作屏蔽)
40-4E 邏輯方式工作測試 (沒有任何修復(fù)作用,僅作為出廠前的可*性測試, 只要在任何一個(gè)過程發(fā)現(xiàn)有錯誤就認(rèn)為該硬盤不適宜出廠)
4F-50 失敗或成功的最后處理
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