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• 發(fā)布了文章 2022-06-13 11:29

  上海伯東美國(guó) inTEST 熱流儀 MCU 芯片高低溫沖擊測(cè)試

  

  上海伯東美國(guó) inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)可以快速提供需要的模擬環(huán)境溫度, 解決了因?yàn)榄h(huán)境受限的 MCU 芯片高低溫測(cè)試難題.微控制器 MCU 芯片廣泛應(yīng)用于消費(fèi)電子 (手機(jī), 打印機(jī)), 計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò), 工業(yè)控制, 醫(yī)療設(shè)備, 汽車電子以及智慧家庭等領(lǐng)域. 其中, 汽車是 MCU 芯片最大的應(yīng)用市場(chǎng), 傳統(tǒng)汽車單車會(huì)平均用到 70個(gè)左右, 而新能源汽車則需要用

  高低溫測(cè)試機(jī) MCU芯片

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• 發(fā)布了文章 2022-06-13 11:18

  上海伯東美國(guó)inTEST 熱流儀光通信模塊, 光纖收發(fā)器高低溫測(cè)試應(yīng)用

  

  光通信器件在出廠前需要做元件級(jí)測(cè)試, 主要包括對(duì)光纖收發(fā)器內(nèi)部關(guān)鍵器件在電工作的電性能測(cè)試, 失效分析, 可靠性評(píng)估等, 例如溫度循環(huán)測(cè)試 Thermal cycle 與溫度沖擊測(cè)試 Thermal shock.?inTEST ThermoStream 高低溫測(cè)試機(jī)與傳統(tǒng)溫度試驗(yàn)箱對(duì)比, 升降溫速率更快; 可針對(duì)眾多元器件中的某一單個(gè)收發(fā)器, 將其隔離出來(lái)單

  高低溫測(cè)試機(jī)

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