動(dòng)態(tài)
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發(fā)布了文章 2023-12-02 08:17
光纖微裂紋檢測(cè)儀適用于產(chǎn)線的多通道測(cè)試
單通道能否滿足產(chǎn)線測(cè)試呢？顯然是不能的。以光模塊廠家為例，一個(gè)光模塊可能有多個(gè)通道，每個(gè)通道都需要檢測(cè)。使用單通道測(cè)試，一個(gè)器件就需要反復(fù)插拔多次、掃描多次、保存多次結(jié)果，這樣效率太低了，顯然產(chǎn)線不會(huì)接受這種方式。OLI支持產(chǎn)線多通道測(cè)試，一次就能掃描完一個(gè)光模塊，極大節(jié)省測(cè)試時(shí)間。當(dāng)前OLI（光纖微裂紋檢測(cè)儀）標(biāo)準(zhǔn)版支持12通道測(cè)試，用戶也可根據(jù)需求定制更 -
發(fā)布了文章 2023-09-15 08:19
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發(fā)布了文章 2023-08-05 08:21
OLI測(cè)試硅光芯片耦合質(zhì)量
硅光是以光子和電子為信息載體的硅基電子大規(guī)模集成技術(shù)。光纖到硅基耦合是芯片設(shè)計(jì)十分重要的一環(huán)，耦合質(zhì)量決定著集成硅光芯片上光信號(hào)和外部信號(hào)互聯(lián)質(zhì)量，耦合過(guò)程中最困難的地方在于兩者光模式尺寸不匹配，硅光芯片中光模式約為幾百納米，而光纖中則為幾個(gè)微米，幾何尺寸上巨大差異造成模場(chǎng)的嚴(yán)重失配。光纖微裂紋診斷儀（OLI）對(duì)硅光芯片耦合質(zhì)量檢測(cè)非常有優(yōu)勢(shì)，以亞毫米級(jí)別的 -
發(fā)布了文章 2023-07-31 23:04
OLI測(cè)試硅光芯片內(nèi)部裂紋
硅光是以光子和電子為信息載體的硅基電子大規(guī)模集成技術(shù)，能夠突破傳統(tǒng)電子芯片的極限性能，是5G通信、大數(shù)據(jù)、人工智能、物聯(lián)網(wǎng)等新型產(chǎn)業(yè)的基礎(chǔ)支撐。準(zhǔn)確測(cè)量硅光芯片內(nèi)部鏈路情況，讓硅光芯片設(shè)計(jì)和生產(chǎn)都變得十分有意義。光纖微裂紋診斷儀（OLI）對(duì)硅光芯片耦合質(zhì)量和內(nèi)部裂紋損傷檢測(cè)非常有優(yōu)勢(shì)，可精準(zhǔn)探測(cè)到光鏈路中每個(gè)事件節(jié)點(diǎn)，具有靈敏度高、定位精準(zhǔn)、穩(wěn)定性高、簡(jiǎn)單易 -
發(fā)布了文章 2023-06-30 10:04
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發(fā)布了文章 2023-05-31 08:20
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發(fā)布了文章 2023-05-23 08:20
昊衡科技-OLI用于光器件微裂紋檢測(cè)
OLI是一款低成本高精度光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)。其原理基于光學(xué)相干檢測(cè)技術(shù)，利用白光的低相干性可實(shí)現(xiàn)光纖鏈路或光學(xué)器件的微損傷檢測(cè)。通過(guò)讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測(cè)量整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗，進(jìn)而判斷此測(cè)量范圍內(nèi)鏈路的性能。圖1.OLI低成本光學(xué)鏈路診斷儀本次測(cè)試使用了探測(cè)深度為-90dB的OLI光纖微裂紋檢測(cè)儀。圖2為待光測(cè)器件，該器件為MPO接頭，器件內(nèi) -
發(fā)布了文章 2023-05-04 17:10
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發(fā)布了文章 2023-04-24 19:52
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發(fā)布了文章 2023-04-14 16:11
昊衡OFDR分布式光纖傳感設(shè)備推出新功能-空間曲面形態(tài)重構(gòu)
導(dǎo)讀：昊衡科技是國(guó)產(chǎn)OFDR分布式光纖傳感商用產(chǎn)品的成熟供應(yīng)商和光纖傳感細(xì)分領(lǐng)域的領(lǐng)頭羊，公司近期推出OSI設(shè)備空間曲面形態(tài)重構(gòu)新功能，可應(yīng)用于風(fēng)電、汽車、土木等行業(yè)，對(duì)整個(gè)待測(cè)系統(tǒng)健康管理和保障系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行有著重要意義。為展示新功能，昊衡科技向大家演示了板狀結(jié)構(gòu)形變監(jiān)測(cè)與空間形態(tài)實(shí)時(shí)檢測(cè)。團(tuán)隊(duì)在板狀結(jié)構(gòu)表面布設(shè)分布式光纖傳感器，結(jié)合自研OFDR設(shè)備（OSI
