動(dòng)態(tài)
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發(fā)布了文章 2024-08-13 09:37
技術(shù)干貨 | AI浪潮下的光模塊可靠性
人工智能（AI）技術(shù)的快速發(fā)展對(duì)數(shù)據(jù)處理和傳輸提出了前所未有的挑戰(zhàn)。在深度學(xué)習(xí)、自然語(yǔ)言處理和計(jì)算機(jī)視覺(jué)等AI應(yīng)用中，訓(xùn)練和學(xué)習(xí)需要巨大的數(shù)據(jù)量傳遞和交互。2023年GPT-4模型所需訓(xùn)練的參數(shù)量有1.8萬(wàn)億，要完成這么大的數(shù)據(jù)量的運(yùn)算，需要上萬(wàn)個(gè)GPU同時(shí)工作。如此龐大的數(shù)據(jù)傳輸對(duì)于傳統(tǒng)銅纜而言是個(gè)巨大的挑戰(zhàn)，因此光模塊在數(shù)據(jù)傳輸中發(fā)揮著非常重要的作用。光 -
發(fā)布了文章 2024-07-05 10:22
車(chē)規(guī)級(jí) | 功率半導(dǎo)體模塊封裝可靠性試驗(yàn)-熱阻測(cè)試
在因?yàn)楣β势骷嚓P(guān)原因所引起電子系統(tǒng)失效的原因中，有超過(guò)50%是因?yàn)闇囟冗^(guò)高導(dǎo)致的熱失效。結(jié)溫過(guò)高會(huì)導(dǎo)致電子系統(tǒng)性能降低、可靠性降低、壽命降低、引發(fā)器件結(jié)構(gòu)內(nèi)部的缺陷。隨著器件小尺寸化、高集成化的趨勢(shì)，有限的空間承載的功率密度越來(lái)越大，對(duì)熱性能測(cè)試的研究成為了行業(yè)的熱門(mén)議題。因此，熱阻測(cè)試對(duì)功率器件試可靠性驗(yàn)證及對(duì)汽車(chē)電子系統(tǒng)保障中起著關(guān)鍵性的作用。 -
發(fā)布了文章 2024-06-11 16:06
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發(fā)布了文章 2024-05-17 14:45
合作案例｜鈞聯(lián)電子自主研發(fā)的SiC功率模塊順利通過(guò)AQG-324認(rèn)證
2024年3月，合肥鈞聯(lián)汽車(chē)電子有限公司（以下簡(jiǎn)稱(chēng)“鈞聯(lián)電子”）自主研發(fā)的SiC功率模塊（型號(hào)JLBH800N120SAM）順利通過(guò)AQG-324車(chē)規(guī)級(jí)功率模塊可靠性測(cè)試認(rèn)證，廣電計(jì)量提供本次AQG324車(chē)規(guī)級(jí)可靠性測(cè)試服務(wù)方案。廣電計(jì)量出具的AQG-324報(bào)告廣電計(jì)量合肥總經(jīng)理王繼忠為鈞聯(lián)電子總經(jīng)理陳兆銀頒發(fā)證AQG-324測(cè)試認(rèn)證內(nèi)容包含模塊測(cè)試、模塊特 -
發(fā)布了文章 2024-04-23 11:31
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發(fā)布了文章 2024-04-15 11:32
技術(shù)分享 | ISO 26262中的安全分析之FMEA
本期內(nèi)容以系統(tǒng)架構(gòu)設(shè)計(jì)為例，講解如何在ISO26262產(chǎn)品開(kāi)發(fā)過(guò)程中實(shí)施安全分析，半導(dǎo)體層面的芯片設(shè)計(jì)也可以參考本文相關(guān)內(nèi)容執(zhí)行安全分析。安全分析方法ISO26262要求根據(jù)不同ASIL等級(jí)組合地使用“演繹分析”和“歸納分析”，如表1所示：表1：安全分析方法根據(jù)表1所列信息，開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)會(huì)常常誤認(rèn)為ASILB是不需要執(zhí)行“演繹分析”。事實(shí)上，ISO26262的要 -
發(fā)布了文章 2024-04-12 08:37
一文了解整車(chē)EMC測(cè)試
EMC測(cè)試概述EMC測(cè)試基本概念EMC是指電磁兼容性，它是指電子設(shè)備在電磁環(huán)境下正常工作且不對(duì)周?chē)h(huán)境造成不良影響的能力。EMC測(cè)試就是評(píng)估電子設(shè)備在電磁環(huán)境下工作時(shí)所產(chǎn)生的電磁干擾（EMI）和電磁敏感度（EMS），是產(chǎn)品質(zhì)量最重要的指標(biāo)之一。EMC測(cè)試方法EMC測(cè)試主要包括輻射測(cè)試和傳導(dǎo)測(cè)試兩種方法。EMC測(cè)試的場(chǎng)地一般為開(kāi)闊場(chǎng)、半電波暗室或屏蔽室。輻射測(cè)2.8k瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2024-04-11 11:48
技術(shù)分享 | 芯片粘接空洞的超聲檢測(cè)
隨著電子封裝技術(shù)向小型化發(fā)展，芯片散熱問(wèn)題逐漸成為阻礙其具有高可靠性的瓶頸，特別是功率器件，芯片粘接空洞是造成器件散熱不良而失效的主要原因。因此，在對(duì)元器件的篩選檢測(cè)工作中，往往需要通過(guò)超聲檢測(cè)手段，檢測(cè)并評(píng)價(jià)芯片粘接質(zhì)量，一旦粘接空洞達(dá)到相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，均會(huì)被判為不合格并剔除，以保障其使用可靠性。要開(kāi)展好芯片粘接質(zhì)量的超聲檢測(cè)工作，正確分析辨認(rèn)粘接空洞，需4.1k瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2024-04-10 10:42
NVH技術(shù)干貨 | 汽車(chē)零部件調(diào)制音問(wèn)題分析研究
在實(shí)際工程中，越來(lái)越多的汽車(chē)零部件（帶小電機(jī)、螺桿等）會(huì)出現(xiàn)調(diào)制現(xiàn)象，如波浪音、沙沙音、噠噠聲等，會(huì)給人不悅的感覺(jué)，本文結(jié)合實(shí)際工程案例，討論零部件出現(xiàn)調(diào)制音問(wèn)題的主要原因和分析方法，并從后期整改端和前期設(shè)計(jì)端給予一定的經(jīng)驗(yàn)分享。調(diào)制音問(wèn)題分析一般NVH問(wèn)題可以簡(jiǎn)化為“源-路徑-接受者”模型，針對(duì)調(diào)制音問(wèn)題分析，我們采用逆向思維“接受者-源-路徑”。首先針對(duì)3k瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2024-04-09 11:29
專(zhuān)家訪談 | 關(guān)注汽車(chē)數(shù)據(jù)安全監(jiān)管與合規(guī)：不同應(yīng)用場(chǎng)景適用哪些法律法規(guī)？（汽車(chē)安全③：數(shù)據(jù)安全）
隨著智能網(wǎng)聯(lián)汽車(chē)的普及、自動(dòng)駕駛技術(shù)的發(fā)展，汽車(chē)已成為智能手機(jī)外又一重要的數(shù)據(jù)采集端口。汽車(chē)通過(guò)攝像頭、傳感器、麥克風(fēng)、雷達(dá)、娛樂(lè)系統(tǒng)等車(chē)載設(shè)備收集駕駛員與乘客的個(gè)人信息、高精地圖信息、環(huán)境地標(biāo)信息，用于提高用戶(hù)駕駛體驗(yàn)和提供智能駕駛功能。同時(shí)，汽車(chē)收集的大量數(shù)據(jù)通過(guò)車(chē)載通信設(shè)備，上傳或共享給車(chē)企的數(shù)據(jù)平臺(tái)或短距通信終端等。有數(shù)據(jù)顯示，一輛自動(dòng)駕駛汽車(chē)每秒鐘1.8k瀏覽量
