昊衡科技文章

• 光纖微裂紋檢測(cè)儀適用于產(chǎn)線的多通道測(cè)試2023-12-02 08:17

  

  單通道能否滿足產(chǎn)線測(cè)試呢？顯然是不能的。以光模塊廠家為例，一個(gè)光模塊可能有多個(gè)通道，每個(gè)通道都需要檢測(cè)。使用單通道測(cè)試，一個(gè)器件就需要反復(fù)插拔多次、掃描多次、保存多次結(jié)果，這樣效率太低了，顯然產(chǎn)線不會(huì)接受這種方式。OLI支持產(chǎn)線多通道測(cè)試，一次就能掃描完一個(gè)光模塊，極大節(jié)省測(cè)試時(shí)間。當(dāng)前OLI（光纖微裂紋檢測(cè)儀）標(biāo)準(zhǔn)版支持12通道測(cè)試，用戶也可根據(jù)需求定制更

  光纖 檢測(cè)儀 模塊 測(cè)試 1220瀏覽量

• OLI 光纖微裂紋檢測(cè)儀介紹2023-09-15 08:19

  

  今天小編來(lái)跟大家探討下我司推出的OLI光纖微裂紋檢測(cè)儀。首先理解下OLI的原理，OLI其原理基于白光干涉，可以簡(jiǎn)單理解為，設(shè)備出光光源為白光，該光源分為兩路，一路在設(shè)備內(nèi)部作為參考光，一路進(jìn)入待測(cè)器件作為信號(hào)光，參考光和信號(hào)光在相同光程的地方會(huì)發(fā)生干涉，且誤差在百微米內(nèi)，這也意味著OLI有著超高的定位精度。OLI讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測(cè)量整個(gè)掃描范

  光纖 檢測(cè)儀 白光干涉儀 1725瀏覽量

• OLI測(cè)試硅光芯片耦合質(zhì)量2023-08-05 08:21

  

  硅光是以光子和電子為信息載體的硅基電子大規(guī)模集成技術(shù)。光纖到硅基耦合是芯片設(shè)計(jì)十分重要的一環(huán)，耦合質(zhì)量決定著集成硅光芯片上光信號(hào)和外部信號(hào)互聯(lián)質(zhì)量，耦合過(guò)程中最困難的地方在于兩者光模式尺寸不匹配，硅光芯片中光模式約為幾百納米，而光纖中則為幾個(gè)微米，幾何尺寸上巨大差異造成模場(chǎng)的嚴(yán)重失配。光纖微裂紋診斷儀（OLI）對(duì)硅光芯片耦合質(zhì)量檢測(cè)非常有優(yōu)勢(shì)，以亞毫米級(jí)別的

  測(cè)試 硅光芯片 耦合 芯片 2186瀏覽量

• OLI測(cè)試硅光芯片內(nèi)部裂紋2023-07-31 23:04

  

  硅光是以光子和電子為信息載體的硅基電子大規(guī)模集成技術(shù)，能夠突破傳統(tǒng)電子芯片的極限性能，是5G通信、大數(shù)據(jù)、人工智能、物聯(lián)網(wǎng)等新型產(chǎn)業(yè)的基礎(chǔ)支撐。準(zhǔn)確測(cè)量硅光芯片內(nèi)部鏈路情況，讓硅光芯片設(shè)計(jì)和生產(chǎn)都變得十分有意義。光纖微裂紋診斷儀（OLI）對(duì)硅光芯片耦合質(zhì)量和內(nèi)部裂紋損傷檢測(cè)非常有優(yōu)勢(shì)，可精準(zhǔn)探測(cè)到光鏈路中每個(gè)事件節(jié)點(diǎn)，具有靈敏度高、定位精準(zhǔn)、穩(wěn)定性高、簡(jiǎn)單易

  檢測(cè) 測(cè)試 芯片 1776瀏覽量

• 昊衡科技-OLI用于光纖彎曲檢測(cè)2023-06-30 10:04

  

  今天小編想跟大家探討一下，關(guān)于光纖的一個(gè)小細(xì)節(jié)問(wèn)題：光纖是否可以彎曲？答案是可以的，但卻有一定的限制，不同的彎曲半徑、不同的光纖類型等，光纖彎曲特性的表征也會(huì)不一樣。光纖的傳播方式主要是全反射原理。光信號(hào)于光纖垂直端射入，在與光纖的軸心線重合時(shí)沿軸心線向前傳播，如果光纖的彎曲度過(guò)大，就會(huì)造成一部分的光信號(hào)無(wú)法通過(guò)而反射回去。昊衡科技推出的OLI光纖微裂紋檢測(cè)

  光纖 檢測(cè) 1223瀏覽量

• 昊衡科技：OLI-國(guó)產(chǎn)高性能光纖微裂紋檢測(cè)儀2023-05-31 08:20

  

  OLI是昊衡科技推出的一款低成本光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)，基于白光干涉原理，通過(guò)相干檢測(cè)技術(shù)，精確測(cè)量整個(gè)鏈路的回波損耗分布，進(jìn)而判斷鏈路的性能。圖1OLI低成本光學(xué)鏈路診斷儀保偏光纖有兩個(gè)主要的傳輸軸，分別稱為光纖的快軸和慢軸（如圖2所示），其中快軸折射率小、光傳輸速度快，慢軸折射率大、光傳輸速度慢。精確測(cè)量快慢軸時(shí)延差對(duì)于評(píng)估光纖制備、光器件制造及光通信鏈路非常

  光纖 檢測(cè)儀 1546瀏覽量

• 昊衡科技-OLI用于光器件微裂紋檢測(cè)2023-05-23 08:20

  

  OLI是一款低成本高精度光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)。其原理基于光學(xué)相干檢測(cè)技術(shù)，利用白光的低相干性可實(shí)現(xiàn)光纖鏈路或光學(xué)器件的微損傷檢測(cè)。通過(guò)讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測(cè)量整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗，進(jìn)而判斷此測(cè)量范圍內(nèi)鏈路的性能。圖1.OLI低成本光學(xué)鏈路診斷儀本次測(cè)試使用了探測(cè)深度為-90dB的OLI光纖微裂紋檢測(cè)儀。圖2為待光測(cè)器件，該器件為MPO接頭，器件內(nèi)

  光器件 檢測(cè) 1548瀏覽量

• 昊衡科技|OLI動(dòng)態(tài)范圍升級(jí)至-90dB2023-05-04 17:10

  

  昊衡科技以白光干涉為原理的光纖微裂紋檢測(cè)儀,測(cè)試長(zhǎng)度從最初的6cm已升級(jí)至1m，橫向測(cè)試長(zhǎng)度升級(jí)的同時(shí)也在不斷研究拓展縱向探測(cè)深度，現(xiàn)昊衡科技光纖微裂紋檢測(cè)儀（OLI）測(cè)試深度由-80dB升級(jí)至-90dB。圖1.低成本光學(xué)鏈路診斷儀（OLI）以下是光纖微裂紋檢測(cè)儀（OLI）測(cè)試波分復(fù)用器，OLI能明顯測(cè)試出器件內(nèi)部-90dB附近反射峰值。圖2.-90dB探測(cè)

  檢測(cè)儀 測(cè)試 1574瀏覽量

• 昊衡科技OFDR分布式光纖傳感設(shè)備可升級(jí)多通道2023-04-24 19:52

  

  近期，昊衡科技OSI-D動(dòng)態(tài)分布式光纖傳感系統(tǒng)新增了多通道功能，用戶可在原有的OSI-D單通道基礎(chǔ)上，增加模塊、更新軟件，進(jìn)行二通道和四通道的升級(jí)。OSI系列分布式光纖傳感系統(tǒng)原理基于OFDR技術(shù)，它通過(guò)獲得整根光纖的瑞利散射信號(hào)進(jìn)行分布式應(yīng)變溫度測(cè)量，具有高精度、高分辨、分布式等特點(diǎn)。昊衡科技的OSI系列產(chǎn)品模塊化開(kāi)放性設(shè)計(jì)，方便軟硬件的升級(jí)和定制化，以滿

  傳感 光纖 1769瀏覽量

• 昊衡OFDR分布式光纖傳感設(shè)備推出新功能-空間曲面形態(tài)重構(gòu)2023-04-14 16:11

  

  導(dǎo)讀：昊衡科技是國(guó)產(chǎn)OFDR分布式光纖傳感商用產(chǎn)品的成熟供應(yīng)商和光纖傳感細(xì)分領(lǐng)域的領(lǐng)頭羊，公司近期推出OSI設(shè)備空間曲面形態(tài)重構(gòu)新功能，可應(yīng)用于風(fēng)電、汽車、土木等行業(yè)，對(duì)整個(gè)待測(cè)系統(tǒng)健康管理和保障系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行有著重要意義。為展示新功能，昊衡科技向大家演示了板狀結(jié)構(gòu)形變監(jiān)測(cè)與空間形態(tài)實(shí)時(shí)檢測(cè)。團(tuán)隊(duì)在板狀結(jié)構(gòu)表面布設(shè)分布式光纖傳感器，結(jié)合自研OFDR設(shè)備（OSI

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