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按產(chǎn)品類型
更多分類

SN74BCT8373ADWR

制造商:Texas Instruments (TI)

描述:Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC

Datasheet:

在線詢價

器件參數(shù)

Function

  • 邏輯類型
    掃描測試設(shè)備,帶D型鎖存器
  • 邏輯功能
    D-Type
  • 輸出電流
    64 mA
  • 電源電壓
    5.5 V
  • 極性
    Non-Inverting
  • 位數(shù)
    8
  • 位數(shù)
    8

Physical

  • 工作溫度
    0 °C, 70 °C
  • 安裝方式
    表面貼裝
  • 包裝方式
    Tape and Reel
  • 制造商封裝
    SOIC

Compliance

  • 無鉛
    無鉛 / 符合限制有害物質(zhì)指令(RoHS)規(guī)范要求
庫存量:0
預(yù)計交期:
數(shù)量
單價
總價(階梯最低數(shù)量總價)

替代物料

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