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SN74BCT8374ANT

制造商：Texas Instruments (TI)

描述：Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP

Datasheet：

在線詢價(jià)

器件參數(shù)

Function

  • 高電平輸出電流
    -15 mA
  • 頻率
    70 MHz
  • 邏輯類型
    掃描測(cè)試設(shè)備，帶D型邊沿觸發(fā)式觸發(fā)器
  • 邏輯功能
    D-Type
  • 輸出行數(shù)
    8
  • 輸出端數(shù)量
    8
  • 輸出電流
    64 mA
  • 輸入行數(shù)
    8
  • 電源電壓
    4.5 V, 5.5 V
  • 極性
    Non-Inverting
  • 時(shí)鐘邊緣觸發(fā)器類型
    Positive Edge
  • 接通延遲時(shí)間
    11 ns
  • 回路數(shù)量
    1
  • 元件數(shù)量
    1
  • 低電平輸出電流
    64 mA
  • 位數(shù)
    8
  • 位數(shù)
    8
  • 傳播延遲
    8.5 ns

Physical

  • 重量
    0.061853 oz
  • 引腳數(shù)
    24
  • 工作溫度
    0 °C, 70 °C
  • 安裝方式
    Through Hole
  • 包裝方式
    Rail/Tube
  • 包裝數(shù)量
    60
  • 制造商封裝
    DIP

Compliance

  • 無鉛
    Lead Free
庫(kù)存量：0
預(yù)計(jì)交期：
數(shù)量
單價(jià)
總價(jià)(階梯最低數(shù)量總價(jià))

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