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SN74BCT8374ADW

制造商:Texas Instruments (TI)

描述:IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Datasheet:

在線詢價
  • Digikey
    Digikey

器件參數(shù)

Function

  • 高電平輸出電流
    -15 mA
  • 頻率
    70 MHz
  • 邏輯類型
    掃描測試設(shè)備,帶D型邊沿觸發(fā)式觸發(fā)器
  • 邏輯功能
    D-Type
  • 輸出端數(shù)量
    8
  • 輸出電流
    64 mA
  • 電源電壓
    4.5 V, 5 V, 5.5 V
  • 極性
    Non-Inverting
  • 時鐘邊緣觸發(fā)器類型
    Positive Edge
  • 接通延遲時間
    11 ns
  • 元件數(shù)量
    1
  • 低電平輸出電流
    64 mA
  • 位數(shù)
    8
  • 位數(shù)
    8
  • 傳播延遲
    11 ns

Physical

  • 重量
    0.022025 oz
  • 焊端樣式
    SMD
  • 抗輻射加固
    No
  • 引腳數(shù)
    24
  • 工作溫度
    0 °C, 70 °C
  • 安裝方式
    Surface Mount
  • 包裝方式
    Rail/Tube
  • 包裝數(shù)量
    25
  • 制造商封裝
    SOIC-24-300mil

Compliance

  • 無鉛
    Lead Free
  • REACH SHVC Compliant
    No SVHC
庫存量:0
預(yù)計交期:
數(shù)量
單價
總價(階梯最低數(shù)量總價)

EDA模型
下載zip

原理圖符號
封裝
3D模型

替代物料

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