2635B/吉時(shí)利2635B數(shù)字源表
2635B/吉時(shí)利2635B數(shù)字源表
吉時(shí)利 2635B 是單通道高分辨率源測(cè)量單元（SMU），核心亮點(diǎn)為 0.1fA 電流測(cè)量分辨率、±200V/±1.5A DC（±10A 脈沖）輸出、30W 功率、TSP 技術(shù)與 TSP?Link 擴(kuò)展，適配低電流高精度器件測(cè)試與系統(tǒng)集成，兼顧臺(tái)式研發(fā)與自動(dòng)化產(chǎn)線。以下從核心參數(shù)、功能特點(diǎn)、應(yīng)用場(chǎng)景、選型差異等維度展開(kāi)說(shuō)明：
核心參數(shù)表
| 參數(shù) | 指標(biāo) |
|---|---|
| 通道配置 | 1 個(gè)獨(dú)立通道，電氣隔離 |
| 電壓范圍 | ±200V，最小測(cè)量分辨率 100nV |
| 電流范圍 | ±1.5A DC，±10A 脈沖，最小測(cè)量分辨率 0.1fA |
| 輸出功率 | 30W（單通道） |
| 測(cè)量分辨率 | 6? 位 |
| 輸出模式 | 四象限電壓 / 電流源與測(cè)量，支持恒壓、恒流、脈沖模式 |
| 通信接口 | USB 2.0、LXI?C、GPIB、RS?232、14 路數(shù)字 I/O、TSP?Link |
| 顯示 | 雙行真空熒光顯示（VFD） |
| 尺寸（H×W×D） | 133 mm × 425 mm × 495 mm |
| 重量 | 約 11.8 kg |
| 擴(kuò)展能力 | 支持 TSP?Link、接觸檢查功能 |
核心功能與優(yōu)勢(shì)
- 0.1fA 超高電流分辨率：電流測(cè)量下限達(dá) 0.1fA（10?1?A），遠(yuǎn)超 2634B 的 1fA，適配半導(dǎo)體反向漏電流、納米材料微弱輸運(yùn)特性等嚴(yán)苛低電流場(chǎng)景。
- 四象限源測(cè)一體：同步輸出與測(cè)量電壓 / 電流，覆蓋正向 / 反向偏置、源 / 阱模式，滿足二極管、MOSFET、傳感器等器件全工況 I?V 分析。
- TSP 高速測(cè)試：內(nèi)置測(cè)試腳本處理器，可嵌入完整測(cè)試程序，相比傳統(tǒng) PC?儀器通信速度提升約 190%，減少總線交互，提高吞吐效率。
- TSP?Link 擴(kuò)展：支持多通道并行測(cè)試，無(wú)需主機(jī)即可實(shí)現(xiàn)儀器間同步與觸發(fā)，適配系統(tǒng)級(jí)自動(dòng)化測(cè)試需求。
- 14 路數(shù)字 I/O：可直接連接測(cè)試工位、機(jī)械手等自動(dòng)化設(shè)備，便于產(chǎn)線集成與流程控制。
- 內(nèi)置 Java 測(cè)試軟件：支持瀏覽器遠(yuǎn)程控制，無(wú)需額外編程即可快速開(kāi)展 I?V 特性分析與遠(yuǎn)程監(jiān)測(cè)。
- 2400 源表軟件仿真：兼容吉時(shí)利 2400 指令集，可直接遷移舊測(cè)試代碼，降低系統(tǒng)升級(jí)成本。
典型應(yīng)用場(chǎng)景
- 超低電流器件測(cè)試：半導(dǎo)體二極管反向漏電流、MOSFET 柵極漏電流、光電器件暗電流等高精度測(cè)量。
- 納米材料與器件：石墨烯、碳納米管、二維材料等低功耗納米結(jié)構(gòu)的輸運(yùn)特性與 I?V 掃描。
- 傳感器與分立元件：高阻電阻、精密電容漏電流、MEMS 傳感器的微弱電流特性分析。
- 系統(tǒng)級(jí)自動(dòng)化測(cè)試：通過(guò) TSP?Link 擴(kuò)展多通道并行測(cè)試，適配半導(dǎo)體產(chǎn)線的器件篩選與可靠性監(jiān)測(cè)。
深圳市宏鑫誠(chéng)電子有限公司深耕進(jìn)口電子測(cè)量?jī)x器領(lǐng)域，專注于為客戶提供優(yōu)異的銷售、維修、租賃、回收、計(jì)量方案。
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