吉時(shí)利6487五位半單通道皮安表
吉時(shí)利6487五位半單通道皮安表
吉時(shí)利 6487 是 5 位半單通道皮安表 / 電壓源，在 6485 基礎(chǔ)上新增 0-500V 程控直流電壓源，主打 20fA-20mA 微弱電流 + 10Ω-101?Ω 超高阻測(cè)量，≤200μV 輸入壓降、1000 讀數(shù) / 秒、浮地 500V 測(cè)量，適配絕緣電阻 / 半導(dǎo)體漏電流 / 光電 I-V 測(cè)試，兼顧研發(fā)與產(chǎn)線自動(dòng)化。以下是詳細(xì)介紹：
核心定位與用途
6487 是 6400 系列增強(qiáng)型皮安表，集成皮安級(jí)電流測(cè)量與 500V 電壓激勵(lì)，可直接測(cè)超高阻（無需外部電壓源），用于絕緣電阻、半導(dǎo)體器件 I-V 特性、光電探測(cè)器暗電流、傳感器弱信號(hào)等場(chǎng)景，覆蓋實(shí)驗(yàn)室高精度測(cè)試、產(chǎn)線批量篩查與自動(dòng)化系統(tǒng)集成。
核心特性與優(yōu)勢(shì)
- 內(nèi)置 500V 電壓源：3 檔程控量程（10V/50V/500V），基本準(zhǔn)確度 ±0.1%，支持自動(dòng)電壓掃描與交變電壓法測(cè)高阻，減少背景電流誤差，直接讀高達(dá) 101?Ω 電阻。
- 寬量程高靈敏：8 檔電流量程 + 自動(dòng)量程，20fA-20mA，10fA 分辨率，5 位半顯示，兼顧超低電流與常規(guī)小電流測(cè)量。
- 低干擾與高保真：輸入壓降≤200μV，減少對(duì)低電壓電路影響；浮地測(cè)量達(dá) 500V，適配高壓隔離測(cè)試；阻尼功能適配容性器件漏電測(cè)試。
- 高速高效與同步：最高 1000 讀數(shù) / 秒，適配產(chǎn)線自動(dòng)化；內(nèi)置 Trigger Link 接口，支持多儀器同步觸發(fā)，滿足系統(tǒng)級(jí)測(cè)試需求。
- 靈活互聯(lián)與兼容：IEEE-488、RS-232、模擬輸出，支持遠(yuǎn)程控制與數(shù)據(jù)導(dǎo)出；內(nèi)置 486/487 仿真模式，適配舊系統(tǒng)兼容。
關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)（25℃）
| 參數(shù) | 指標(biāo) | 備注 |
| 顯示位數(shù) | 5 位半 | 適配寬量程精度需求 |
| 電流量程 | 20fA - 20mA，8 檔 | 自動(dòng) / 手動(dòng)切換，含噪聲測(cè)量 |
| 電流分辨率 | 10fA | 捕捉微弱電流變化 |
| 電壓源 | 0-505V（10V/50V/500V 檔） | 程控，基本準(zhǔn)確度 ±0.1% |
| 輸入壓降 | ≤200μV | 降低對(duì)被測(cè)電路影響 |
| 測(cè)量速度 | 最高 1000 讀數(shù) / 秒 | 提升測(cè)試效率 |
| 電阻測(cè)量 | 10Ω - 101?Ω | 交變電壓法，高阻精度≤10% |
| 浮地測(cè)量 | ≤500V | 適配高壓隔離場(chǎng)景 |
| 接口 | IEEE-488、RS-232、模擬輸出、Trigger Link | 支持系統(tǒng)集成與同步 |
| 輸入保護(hù) | 最大 ±50V（直流 + 交流峰值） | 避免誤接損壞 |
應(yīng)用場(chǎng)景
- 絕緣與高阻測(cè)試：絕緣子、電纜、PCB 基板絕緣電阻測(cè)量，交變電壓法減少背景電流誤差，適配高壓絕緣場(chǎng)景。
- 半導(dǎo)體器件表征：MOSFET 漏電流、二極管反向電流、集成電路靜態(tài)功耗測(cè)試，自動(dòng)電壓掃描完成 I-V 特性分析。
- 光電與納米器件：光電二極管暗電流、光伏電池弱光電流測(cè)量，500V 偏置適配高阻光電探測(cè)器件。
- 傳感器與工業(yè)監(jiān)測(cè)：4-20mA 傳感器環(huán)路電流、壓力 / 溫度傳感器弱信號(hào)測(cè)量，適配工業(yè)自動(dòng)化與過程控制。
- 自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)：搭配 GPIB/RS-232 與 Trigger Link，用于產(chǎn)線批量器件漏電與高阻篩查，提升測(cè)試效率。
