高溫反偏老化系統(tǒng)
型號:
158
定義
高溫反偏老化系統(tǒng)是一種用于半導體功率器件(如二極管、MOSFET、IGBT、肖特基勢壘二極管等)的加速壽命試驗設備與測試系統(tǒng),其工作原理是在器件處于高溫環(huán)境(通常為 125℃ ~ 175℃)和反向偏置電壓(接近或等于其額定擊穿電壓)的雙重應力條件下,持續(xù)運行數十至數百小時,以加速暴露器件在長期工作過程中可能出現的漏電流增大、反向擊穿電壓漂移、鈍化層缺陷、金屬-半導體接觸退化等潛在失效機制。
該系統(tǒng)通過施加高溫與高反壓的協(xié)同應力,激發(fā)器件內部的電化學反應與材料退化過程,從而篩選出早期失效品,驗證器件在惡劣工況下的長期可靠性,廣泛應用于汽車電子、新能源、工業(yè)控制、航空航天等領域。
測試服務介紹;
1.老化時間 : 1min ~ 5000h
2.試驗能力:共 16 個區(qū),每個區(qū) 40 個通道 老化工位 16×80=1280
3.電壓測試范圍 :0 ~ 2000V
4.漏電流測試范圍 :1μA ~ 50mA
5.直流老化電源 :100V/12A、300V/4A、 600V/2A、1500V/1A