定義：

高溫電壽命試驗(yàn)是指在實(shí)驗(yàn)室條件下，將電子元器件或電氣設(shè)備置于高于其正常工作溫度的高溫環(huán)境中，同時(shí)施加額定或加速電壓、電流等電應(yīng)力，使其在熱應(yīng)力與電應(yīng)力協(xié)同作用下持續(xù)運(yùn)行，通過(guò)監(jiān)測(cè)其關(guān)鍵電參數(shù)（如漏電流、導(dǎo)通電阻、擊穿電壓等）隨時(shí)間的變化，評(píng)估其在長(zhǎng)期工作條件下的性能退化規(guī)律和使用壽命的加速老化試驗(yàn)方法。

該試驗(yàn)通過(guò)提高溫度（通常接近或略高于器件最高結(jié)溫，如125℃、150℃、175℃）來(lái)加速材料內(nèi)部的物理化學(xué)反應(yīng)（如電遷移、界面擴(kuò)散、氧化、鈍化層劣化），從而在較短時(shí)間內(nèi)模擬器件在正常工況下數(shù)年甚至數(shù)十年的老化過(guò)程，用于預(yù)測(cè)產(chǎn)品壽命、篩選早期失效、驗(yàn)證設(shè)計(jì)裕度與工藝可靠性。

測(cè)試服務(wù)介紹：

只測(cè)：

① 最高溫度：700℃，最大工作容積：30cm×20cm×12cm

② 最高溫度：250℃，最大工作容積：60cm×65cm×70cm

③ 最高溫度：150℃，最大工作容積：100cm×100cm×98cm