微電子器件檢測(cè)
型號(hào):
199
測(cè)試服務(wù)介紹:
1.電學(xué)性能測(cè)試
·??直流參數(shù)?:漏電流(1nA-10μA)、擊穿電壓(5-1000V)、導(dǎo)通電阻(0.1mΩ-10kΩ)、隊(duì)值電壓(0.5-5V) ?1
·??交流參數(shù)?:傳輸延遲、建立保持時(shí)間、S參數(shù)、噪聲系數(shù) ?2
2.可靠性測(cè)試
包括高溫高濕老化(85℃/85%RH)、溫度循環(huán)(-65℃~150℃)、靜電放電(HBM 500V-8kV)等,適用于航空航天、汽車(chē)電子等高風(fēng)險(xiǎn)領(lǐng)域。 ?
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):
微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548B-2005