原位透射電子顯微鏡測試
型號:
204
測試服務(wù)介紹:
加速電壓:200kV
TEM點分辨率:0.25nm,
線分辨率:0.14nm,
信息分辨率:0.12nm
STEM分辨率:0.16 nm
放大倍數(shù):25~1500000(TEM), 150~2300000(STEM)
Super-XEDS能譜儀系統(tǒng)的能量分辨率:136 eV。