標(biāo)簽 > 光時(shí)域反射
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光時(shí)域反射儀是通過對(duì)測(cè)量曲線的分析，了解光纖的均勻性、缺陷、斷裂、接頭耦合等若干性能的儀器。光時(shí)域反射儀可以用來量測(cè)光纖的長度、衰減，包括光纖的熔接處及轉(zhuǎn)接處皆可量測(cè)。在光纖斷掉時(shí)也可以用來量測(cè)中斷點(diǎn)。
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