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　　KGD是用于描述準備用于多芯片組件（MCM）的集成電路，當wafer生產(chǎn)完成，生產(chǎn)良率在90%以上，剩下的那10%經(jīng)過測試合格者，即為KGD，用于描述使IC達到全面要求狀態(tài)的過程。