數(shù)碼產(chǎn)品中邏輯信號(hào)處理頻率越高，信號(hào)所需的上升沿越陡峭。對(duì)于半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備來說，波形品質(zhì)特別重要。在測(cè)量被測(cè)器件(DUT)的過程中，測(cè)試信號(hào)通過某些繼電器到達(dá)DUT，但在到達(dá)前信號(hào)會(huì)衰減。 TLP3375和TLP3275將重點(diǎn)放在高頻信號(hào)的通過特性上，等效上升時(shí)間(ERT)分別大幅改進(jìn)至40 ps 和 60 ps。此外，TLP3375 採用新開發(fā)的超小型USOP封裝，支援高密度封裝。
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特徵
杰出的高頻通過特性
應(yīng)用
半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備
測(cè)量設(shè)備
輪廓圖
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