動態(tài)

• 發(fā)布了產(chǎn)品 2022-04-07 14:39

  白光干涉儀的應(yīng)用場景

  

  產(chǎn)品型號：SuperView W1 XY平臺：尺寸320×200mm，行程140×110mm，電動、手動同 Z軸行程：100mm，電動 Z向掃描范圍：10mm

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2022-04-06 17:48

  國內(nèi)光學(xué)影像儀測量

  

  產(chǎn)品型號：CH系列 X軸行程范圍：（300-1200）mm Y軸行程范圍：（200-1500）mm Z軸行程范圍：200mm

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2022-04-06 17:42

  高配測量影像儀特點

  

  產(chǎn)品型號：CH系列 X軸行程范圍：（300-1200）mm Y軸行程范圍：（200-1500）mm Z軸行程范圍：200mm

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2022-04-06 17:35

  全自動光學(xué)影像量測儀

  

  產(chǎn)品型號：CH系列 X軸行程范圍：（300-1200）mm Y軸行程范圍：（200-1500）mm Z軸行程范圍：200mm

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• 發(fā)布了文章 2022-04-03 00:49

  有圖晶圓關(guān)鍵尺寸及套刻量測系統(tǒng)助力半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展

  

  有圖晶圓關(guān)鍵尺寸及套刻量測系統(tǒng)可對Wafer的關(guān)鍵尺寸進行檢測，對套刻偏移量的測量，以及Wafer表面3D形貌、粗糙度的測量，包括鐳射切割的槽寬、槽深等自動測量。300*300mm真空吸附平臺，最大可支持12寸Wafer的自動測量，配置掃描槍，可實現(xiàn)產(chǎn)線的全自動化生產(chǎn)需求。一.系統(tǒng)的布局結(jié)構(gòu)1.上料/下料區(qū)：Robot自動抓取Wafer至尋邊器平臺；2.定位

  監(jiān)測系統(tǒng)

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• 發(fā)布了文章 2022-04-02 15:30

  白光干涉儀自動拼接測量功能的應(yīng)用場景

  

  場景一上圖是涂覆在電極棒的催化劑表面全景圖，整體尺寸在7mm左右，中心的催化劑區(qū)域呈低反射率特點，而圓環(huán)外呈高反射率特點，整體的輪廓尺寸和微觀的輪廓起伏反映了涂覆的質(zhì)量。根據(jù)客戶精度要求，SuperViewW1白光干涉儀可將重建算法切換為高速掃描的FVSI重建算法，并可依據(jù)表面粗糙程度，選擇不同步距進行速度調(diào)節(jié)。場景二上圖是一款旋轉(zhuǎn)拋物面零件，用于微小位移和

  測量 干涉儀

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2022-04-02 15:23

  WX-100白光干涉儀測頭

  

  產(chǎn)品型號：WX-100 注釋：更多詳細產(chǎn)品信息，請聯(lián)系我們獲取

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2022-04-02 15:20

  中圖儀器白光干涉儀有什么特點

  

  產(chǎn)品型號：SuperViewW1 注釋：更多詳細產(chǎn)品信息，請聯(lián)系我們獲取

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2022-04-02 15:14

  微米級白光干涉儀

  

  產(chǎn)品型號：SuperView W1 影像系統(tǒng)：1024×1024 光學(xué)物鏡ZOOM：0.5×，（0.75×，1×可選） 干涉物鏡：10×，（2.5×，5×，20×，50×，100×可選）

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• 發(fā)布了文章 2022-03-31 00:46

  VJ系列3D輪廓測量儀，一鍵輕松獲得2D/3D參數(shù)

  

  隨著我國制造業(yè)不斷邁向精密化、高端化，對檢測手段和檢測能力提出了更高的要求，作為產(chǎn)品輪廓尺寸檢測儀器的3D輪廓測量儀，Z軸的測量精度已達到微米級，以其超高的測量精度，在先進制造領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。VJ系列3D輪廓測量儀中圖儀器VJ系列3D輪廓測量儀，是一款用于半導(dǎo)體、3C電子、醫(yī)療器械、磁性材料、精密機械等領(lǐng)域的無接觸式掃描3D輪廓成像設(shè)備，工件無需定位，自

  測量儀

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