動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-05-09 16:51

  案例解析||照明LED的失效模式問題及改善措施

  

  LED是一種直接將電能轉(zhuǎn)換為可見光和輻射能的發(fā)光器件，具有耗電量小、發(fā)光效率高、體積小等優(yōu)點，目前已經(jīng)逐漸成為了一種新型高效節(jié)能產(chǎn)品，并且被廣泛應(yīng)用于顯示、照明、背光等諸多領(lǐng)域。近年來，隨著LED技術(shù)的不斷進(jìn)步，其發(fā)光效率也有了顯著的提升，現(xiàn)有的藍(lán)光LED系統(tǒng)效率可以達(dá)到60%，而白光LED的光效已經(jīng)超過150lm/W，這些特點都使得LED受到越來越多的關(guān)注

  led 發(fā)光器件 失效模式

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• 發(fā)布了文章 2025-05-09 16:49

  AEC-Q102之推拉力測試

  

  在汽車智能化與電動化的浪潮中，光電半導(dǎo)體器件（如LED、激光雷達(dá)、光傳感器等）的可靠性直接決定了車輛的安全性與性能。AEC-Q102作為汽車電子領(lǐng)域針對分立光電半導(dǎo)體的核心測試標(biāo)準(zhǔn)，其推拉力測試是評估器件機械強度的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。推拉力測試的技術(shù)原理與標(biāo)準(zhǔn)要求推拉力測試旨在評估半導(dǎo)體器件內(nèi)部連接結(jié)構(gòu)（如鍵合線、焊點、端子）的機械強度，防止因振動、沖擊或組裝應(yīng)力導(dǎo)致

  AEC 推拉力測試機 汽車電子

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• 發(fā)布了文章 2025-05-09 16:47

  透射電子顯微鏡（TEM）與聚焦離子束技術(shù)（FIB）在材料分析中的應(yīng)用

  

  什么是透射電子顯微鏡（TEM）透射電子顯微鏡（TEM）是一種功能強大的分析工具，可分析各種合成材料和天然材料。它能夠通過三種不同的分析技術(shù)獲得固態(tài)樣品的化學(xué)信息：能量色散X射線分析（EDX）、電子能量損失光譜（EELS）和高角度環(huán)形暗場成像（HAADF）。金鑒實驗室配備先進(jìn)的TEM設(shè)備，擁有經(jīng)驗豐富的操作團隊，可為客戶提供專業(yè)的材料分析服務(wù)。1.能量色散X射

  TEM 材料 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-05-08 14:30

  元器件失效分析有哪些方法？

  

  失效分析的定義與目標(biāo)失效分析是對失效電子元器件進(jìn)行診斷的過程。其核心目標(biāo)是確定失效模式和失效機理。失效模式指的是我們觀察到的失效現(xiàn)象和形式，例如開路、短路、參數(shù)漂移、功能失效等；而失效機理則是指導(dǎo)致失效的物理或化學(xué)過程，如疲勞、腐蝕、過應(yīng)力等。通過失效分析，我們能夠提出有效的糾正措施，防止同類問題再次出現(xiàn)，從而提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。失效分析的程序1.收集

  元器件 失效分析

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• 發(fā)布了文章 2025-05-08 14:26

  聚焦離子束技術(shù)：原理、應(yīng)用與展望

  

  聚焦離子束技術(shù)（FocusedIonBeam，簡稱FIB）作為一種前沿的微觀加工與分析技術(shù)，近年來在眾多領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。金鑒實驗室憑借其專業(yè)的檢測技術(shù)和服務(wù)，成為了眾多企業(yè)在半導(dǎo)體檢測領(lǐng)域的首選合作伙伴。FIB技術(shù)的基本原理聚焦離子束技術(shù)的核心在于將特定元素（如鎵元素）的離子化為帶正電的離子（Ga+），并通過電場加速使其獲得高能量。隨后，借助靜電透鏡系統(tǒng)

  fib 檢測 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-05-07 14:11

  AEC-Q102認(rèn)證之器件可焊性

  

  可焊性測試在汽車電子中的關(guān)鍵地位在汽車電子行業(yè)，AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)為分立光電半導(dǎo)體元件的可靠性測試提供了全面而嚴(yán)格的規(guī)范。其中，可焊性測試作為核心環(huán)節(jié)之一，對于保障產(chǎn)品質(zhì)量和性能發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。汽車電子設(shè)備在運行過程中需要面對復(fù)雜多變的工作環(huán)境，如高溫、高濕、振動等，而良好的可焊性是確保光電半導(dǎo)體器件與電路板之間實現(xiàn)可靠電氣連接和機械固定的基礎(chǔ)。只有

  AEC 汽車電子 認(rèn)證

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• 發(fā)布了文章 2025-05-06 15:06

  雪崩二極管：汽車電子系統(tǒng)中的關(guān)鍵光檢測元件

  

  雪崩二極管的原理與結(jié)構(gòu)雪崩二極管（AvalanchePhotodiode，簡稱APD）是一種利用載流子雪崩倍增效應(yīng)來放大光電信號的光檢測二極管。其核心原理是利用載流子雪崩倍增效應(yīng)來放大光電信號。在高反向偏壓下工作時，光生載流子在強電場中獲得足夠的動能，與晶格碰撞產(chǎn)生新的電子-空穴對，從而實現(xiàn)載流子的雪崩倍增，顯著增加電流增益。這種倍增效應(yīng)使得APD在低光強條

  二極管 汽車電子 雪崩二極管

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• 發(fā)布了文章 2025-05-06 15:03

  聚焦離子束技術(shù)在透射電子顯微鏡樣品制備中的應(yīng)用

  

  聚焦離子束技術(shù)聚焦離子束（FocusedIonBeam，簡稱FIB）技術(shù)是一種先進(jìn)的微觀加工與分析手段，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)以及半導(dǎo)體研究等領(lǐng)域。FIB核心原理是利用離子源產(chǎn)生高能離子束，通常以鎵（Ga）離子為主，部分設(shè)備還配備氦（He）或氖（Ne）離子源。離子束在轟擊樣品時，會產(chǎn)生濺射現(xiàn)象，從而實現(xiàn)材料的精準(zhǔn)去除，同時通過二次電子信號獲取樣品的形貌

  fib 電子顯微鏡 離子束

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• 發(fā)布了文章 2025-04-30 15:20

  FIB 技術(shù)在電池材料研究中的相關(guān)應(yīng)用

  

  橫截面分析操作與目的利用聚焦離子束（FIB）技術(shù)對電池材料進(jìn)行精確切割，能夠制備出適合觀察的橫截面。這一操作的核心目的在于使研究人員能夠直接觀察材料內(nèi)部不同層次的結(jié)構(gòu)特征，從而獲取材料在特定平面上的微觀信息。例如，通過橫截面分析可以清晰地觀察到不同成分的分布情況，了解各成分在材料內(nèi)部的相對位置和分布范圍；同時，還能觀察到相界面的形態(tài)，確定不同相之間的接觸關(guān)系

  fib TEM 電池材料

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• 發(fā)布了文章 2025-04-29 17:28

  AEC-Q102中WHTOL及H3TRB試驗的異同

  

  汽車電子行業(yè)中光電半導(dǎo)體的要求在汽車電子行業(yè)我們熟知的光電半導(dǎo)體器件可靠性是確保車輛安全和性能的關(guān)鍵因素之一。隨著汽車技術(shù)的進(jìn)步，這些器件不僅要在各種氣候條件下穩(wěn)定工作，還要承受來自車輛內(nèi)部和外部的多種應(yīng)力。AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)為這些器件提供了一套全面的測試和評估程序，以確保它們能夠滿足汽車行業(yè)的嚴(yán)格要求。WHTOL測試的重要性AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)中的一個重

  AEC 半導(dǎo)體 試驗

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