動(dòng)態(tài)

• 發(fā)布了文章 2025-02-21 14:48

  透光率檢測(cè)技術(shù)及其影響因素分析

  

  光透過能力，即透光率，描述的是特定條件下，物體透過的光量與其接收的入射光量之間的比例。在光的傳播過程中，部分光線會(huì)被物體吸收，而另一部分則能夠穿透物體，這種透過現(xiàn)象被稱作透光率。金鑒實(shí)驗(yàn)室在這一領(lǐng)域擁有先進(jìn)的技術(shù)和設(shè)備，能夠?yàn)榭蛻籼峁┚珳?zhǔn)的透光率測(cè)量服務(wù)，確保測(cè)量結(jié)果的可靠性與科學(xué)性。1.透光率計(jì)法透光率計(jì)是目前實(shí)驗(yàn)室中常用的透光率檢測(cè)儀器。其原理是將待測(cè)材

  檢測(cè)儀器 測(cè)量

  2k瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-02-20 12:05

  聚焦離子束FIB在失效分析技術(shù)中的應(yīng)用-剖面制樣

  

  FIB技術(shù)：納米級(jí)加工與分析的利器在現(xiàn)代科技的微觀世界中，材料的精確加工和分析是推動(dòng)創(chuàng)新的關(guān)鍵。聚焦離子束（FIB）技術(shù)正是在這樣的需求下應(yīng)運(yùn)而生，它提供了一種在納米尺度上對(duì)材料進(jìn)行精細(xì)操作的能力，成為微電子和納米技術(shù)領(lǐng)域中不可或缺的工具。微米級(jí)缺陷樣品截面制備FIB技術(shù)的原理FIB技術(shù)的核心在于使用鎵（Ga）或銦（In）等材料作為離子源，通過靜電透鏡系統(tǒng)將

  fib 失效分析 離子束

  1.1k瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-02-20 12:05

  氬離子拋光儀技術(shù)在石油地質(zhì)的應(yīng)用

  

  解鎖石油勘探掃描電子顯微鏡（SEM）作為石油地質(zhì)領(lǐng)域不可或缺的研究利器，憑借其精準(zhǔn)的微觀觀測(cè)能力，對(duì)沉積巖中的有機(jī)質(zhì)、粘土礦物、鈣質(zhì)超微化石以及儲(chǔ)集巖等開展深入細(xì)致的研究，為石油地質(zhì)學(xué)的蓬勃發(fā)展提供了堅(jiān)實(shí)有力的技術(shù)支撐。SEM分析在這之前，樣品的制備是至關(guān)重要的一步。傳統(tǒng)的研磨和拋光方法雖然在一定程度上能夠滿足樣品表面處理的需求，但往往會(huì)對(duì)樣品表面造成不可逆

  SEM 顯微鏡

  745瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-02-20 12:04

  光耦：光與電的聯(lián)系

  

  光電耦合器，通常稱為光耦，是一種在電子設(shè)計(jì)中用于實(shí)現(xiàn)電氣隔離的關(guān)鍵組件。它通過將發(fā)光元件（如發(fā)光二極管LED）與光敏元件（如光敏三極管）封裝在同一管體內(nèi)，利用光信號(hào)在兩者之間傳遞信息，從而完成電信號(hào)到光信號(hào)，再由光信號(hào)轉(zhuǎn)回電信號(hào)的過程。這種轉(zhuǎn)換不僅實(shí)現(xiàn)了信號(hào)的傳輸，還因?yàn)楣庑盘?hào)的介入，提供了電路間的電氣隔離，有效避免了信號(hào)干擾和地電位差問題，增強(qiáng)了系統(tǒng)的穩(wěn)定

  光電 光電耦合器 光耦

  1.1k瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-02-20 12:01

  詳解電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)

  

  可靠性試驗(yàn)是一種通過模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用過程中可能遇到的各種環(huán)境條件和應(yīng)力因素，來評(píng)估電子產(chǎn)品在出廠到使用壽命結(jié)束期間質(zhì)量情況的科學(xué)方法。它能夠在短時(shí)間內(nèi)正確評(píng)估產(chǎn)品的可靠性，主要目的是激發(fā)潛在失效模式，從而為產(chǎn)品的改進(jìn)提供依據(jù)，并最終確定產(chǎn)品是否滿足預(yù)先制定的可靠性要求?？煽啃栽囼?yàn)的分類如下：按環(huán)境條件劃分模擬試驗(yàn)：通過人工模擬自然環(huán)境中的各種條件，如溫度、

  可靠性試驗(yàn) 模擬產(chǎn)品 電子產(chǎn)品

  1.6k瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-02-19 13:20

  歐盟 RoHS 與 REACH 法規(guī)解讀

  

  RoHS指令：電子電氣產(chǎn)品的綠色標(biāo)尺RoHS指令，全稱為《關(guān)于限制在電子電器設(shè)備中使用某些有害成分的指令》，是歐盟為規(guī)范電子電氣產(chǎn)品而設(shè)立的重要環(huán)保法規(guī)。自2006年7月1日起，歐盟市場(chǎng)上的新電子電氣設(shè)備被明確禁止使用鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯（PBB）和多溴二苯醚（PBDE）等六種有害物質(zhì)。這些物質(zhì)在電子設(shè)備的生產(chǎn)過程中曾被廣泛使用，例如鉛用于鍍鉻、鉻酸

  REACH RoHS 電子電器

  2.3k瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-02-18 14:19

  光電子元件的可靠性測(cè)試關(guān)鍵項(xiàng)目

  

  光電子器件，作為現(xiàn)代科技中光電轉(zhuǎn)換效應(yīng)的結(jié)晶，扮演著越來越重要的角色。它們不僅能夠?qū)崿F(xiàn)光信號(hào)的產(chǎn)生和調(diào)制，還能進(jìn)行信號(hào)的探測(cè)、連接、能量的分配與調(diào)整、信號(hào)的放大以及光電之間的轉(zhuǎn)換。這些功能強(qiáng)大的器件可以分為兩大主要類別：光纖通信器件和光電照明器件。光纖通信器件光纖通信器件進(jìn)一步細(xì)分為有源器件，如激光器和光收發(fā)模塊，以及無源器件，如光纖耦合器、光纖光開關(guān)和光分

  光電子 可靠性測(cè)試 測(cè)試 電子元件

  916瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-02-18 14:17

  詳細(xì)聚焦離子束（FIB）技術(shù)

  

  聚焦離子束（FocusedIonBeam，F(xiàn)IB）技術(shù)，堪稱微觀世界的納米“雕刻師”，憑借其高度集中的離子束，在納米尺度上施展著加工、分析與成像的精湛技藝。FIB技術(shù)以鎵離子源為核心，通過精確調(diào)控離子束與樣品表面的相互作用，實(shí)現(xiàn)納米級(jí)的精細(xì)操作，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、微電子、納米制造等多個(gè)前沿領(lǐng)域。FIB系統(tǒng)的基本構(gòu)成1.離子源液態(tài)金屬離子源是FIB系統(tǒng)的核心

  fib 離子束 離子源

  3.1k瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-02-17 17:24

  汽車車燈檢測(cè)與可靠性驗(yàn)證

  

  汽車車燈檢測(cè)的重要性汽車車燈是車輛安全系統(tǒng)中不可或缺的關(guān)鍵組件，其性能與可靠性對(duì)行車安全有著至關(guān)重要的影響。車燈不僅要為駕駛者提供良好的照明，還要在各種復(fù)雜的環(huán)境條件下正常工作，以確保車輛的行駛安全。因此，對(duì)汽車車燈進(jìn)行嚴(yán)格的檢測(cè)和可靠性驗(yàn)證是保障車燈質(zhì)量的必要環(huán)節(jié)。汽車車燈檢測(cè)的范圍1.前部車燈前部車燈是車輛照明系統(tǒng)的重要組成部分，包括前霧燈、前照燈、前轉(zhuǎn)

  AEC 檢測(cè) 汽車車燈

  1.3k瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2025-02-17 17:19

  聚焦離子束（FIB）技術(shù)：芯片調(diào)試的利器

  

  FIB技術(shù)在芯片調(diào)試中的關(guān)鍵應(yīng)用1.電路修改與修復(fù)在芯片設(shè)計(jì)和制造過程中，由于種種原因可能會(huì)出現(xiàn)設(shè)計(jì)錯(cuò)誤或制造缺陷。FIB技術(shù)能夠?qū)π酒娐愤M(jìn)行精細(xì)的修改和修復(fù)。通過切斷錯(cuò)誤的金屬連接線，并重新建立正確的連接，F(xiàn)IB可以快速糾正信號(hào)線連接錯(cuò)誤等問題。對(duì)于早期的樣品或工程樣機(jī)，F(xiàn)IB技術(shù)無需重新制造芯片，即可進(jìn)行快速的電路修改和驗(yàn)證，大大縮短了芯片的調(diào)試周期，

  fib 離子束 芯片

  1.4k瀏覽量