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日置公司阻抗分析儀IM3570可在不同測(cè)量條件高速連續(xù)測(cè)量
壓電元件的共振特性的測(cè)量
通過頻率掃頻測(cè)量共振頻率和當(dāng)時(shí)的阻抗值,利用比較功能判別是否合格。另外,通過連續(xù)測(cè)量的功能,1KHz的 C值測(cè)量(LCR電橋)和頻率掃頻測(cè)量都能在這一臺(tái)儀器上實(shí)現(xiàn)。
功能高分子電容等的C-D值和低ESR測(cè)量
能夠連續(xù)測(cè)量功能性高分子電容的C-D值以及低ESR(100kHz)
與之前的產(chǎn)品(3522-50,3532-50)相比,低阻抗測(cè)量時(shí)的絕對(duì)精度和反復(fù)精度都提升了1位。
電感(線圈、變壓器)的DCR和L-Q測(cè)量
連續(xù)測(cè)量L-Q(1kHz,CC1mA)和DCR,能在同一畫面上顯示數(shù)值。
通過掃頻測(cè)量,能夠用圖表來(lái)顯示頻率特性和電平特性。
阻抗分析儀IM3570的介紹
推薦用于生產(chǎn)線中的特點(diǎn)和功能
·按照不同測(cè)量條件進(jìn)行連續(xù)測(cè)量
根據(jù)測(cè)量對(duì)象,1臺(tái)儀器可連續(xù)測(cè)量必須的多種測(cè)量條件。例如:可進(jìn)行DCR(直流電阻)和L-Q的連續(xù)測(cè)量、以及C-D(120Hz)和ESR(100kHz)的連續(xù)測(cè)量。
·通過高速測(cè)量加快檢查速度
縮短測(cè)量時(shí)間、實(shí)現(xiàn)最快2ms(1kHz)、1ms(100kHz)。和日置以往產(chǎn)品(代表值5ms)相比,大幅提高了速度,從而有利于增加檢查數(shù)量。
·和以往產(chǎn)品相比,反復(fù)精度提高了1位
和以往產(chǎn)品相比,將低阻抗測(cè)量時(shí)、高頻測(cè)量時(shí)的反復(fù)精度提高了1位。在提高了測(cè)量值的可信度的同時(shí),可縮小設(shè)置生產(chǎn)線的判斷標(biāo)準(zhǔn)的幅度。
·具備接觸檢查功能
利用4端子測(cè)量(僅低阻抗高精度模式時(shí))、2端子測(cè)量的接觸檢查功能,可防止測(cè)量電極為接觸被測(cè)物的情況下測(cè)量。
·測(cè)量線可延長(zhǎng)至4m
利用4端子的結(jié)構(gòu)減小測(cè)量線的影響,以測(cè)量線長(zhǎng)0/1/2/4m來(lái)保證精度。便于自動(dòng)機(jī)的接線。
·可在內(nèi)部發(fā)生DC偏壓
僅主機(jī)可外加并測(cè)量最大2.5V的DC偏壓?砂残臏y(cè)量鉭電容等有極性的電容。
·DC~5MHz可使用的4端子探頭
4端子探頭L2000(選件)采用有利于特性阻抗50Ω和提高測(cè)量精度的4端子構(gòu)造,是最適合于IM3570的探頭。
推薦用于研發(fā)的特點(diǎn)和功能
·頻率掃頻測(cè)量和電平掃頻測(cè)量
可對(duì)頻率特性(4Hz~5MHz)和電平特性進(jìn)行掃描和測(cè)量。輕松把握特性。
·可廣范圍的改變測(cè)量條件
測(cè)量頻率4Hz~5MHz(5位分辨率)
測(cè)量電平5mVrms~5Vrms(1mVrms分辨率)
·觸摸屏設(shè)計(jì),輕松操作
延續(xù)以往產(chǎn)品中操作簡(jiǎn)單的觸摸屏設(shè)計(jì)。采用了彩色液晶面板,能夠清晰的顯示數(shù)據(jù),還具備優(yōu)良的操作性,從而提高作業(yè)人員的工作效率。
·U盤
可將測(cè)量結(jié)果和設(shè)定保存至前端面板連接的U盤中。
·PC控制和PC軟件
標(biāo)配RS-232C、GP-IB、USB、LAN。
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