日B视频 亚洲,啪啪啪网站一区二区,91色情精品久久,日日噜狠狠色综合久,超碰人妻少妇97在线,999青青视频,亚洲一区二卡,让本一区二区视频,日韩网站推荐

企業(yè)號介紹

全部
  • 全部
  • 產品
  • 方案
  • 文章
  • 資料
  • 企業(yè)

漢通達

開發(fā)、生產計算機軟硬件,開發(fā)電子測控儀器儀表及配套機械設備,以及批發(fā)、零售和售后服務。

200 內容數 48w+ 瀏覽量 211 粉絲

源測量單元板卡(4通道SMU功能板卡)

型號: UI-X6320

--- 產品參數 ---

  • 輸出通道數(DACs 4
  • 上電后繼電器狀態(tài) 全通道關閉
  • 工作溫度 0 °C to +55 °C
  • 存儲溫度 -20 °C to +70 °C
  • 尺寸 3U
  • 電壓量程 -10 V~10 V,-24 V~24 V
  • 電壓量程精度 Force Voltage : 16bits,Measure
  • 加壓測壓準確度 (% ±(0.05% + 1.5) mV

--- 產品詳情 ---

PXI-X6320是標準的3U PXI板卡,具有高精度V/I 源測功能,4個通道. 所有通道都具有高精度的可編程電壓電流功能,電壓電流可以從–24V到+24V@ 1000mA.所有通道可以直接連到外部DUT上,連接器是25pin的D-Sub標準接口,包括4個force通道,4個sense通道和地.

UI-X6320單張板卡,集成有電源功能,高精度源灌功能,以及讀寫快速響應功能. 這個高精度模塊可以實現高電壓同時電流測試,而且,在保持高精度的同

時還具有高響應速率和高采樣率,能快速發(fā)送和快速測量,甚至可以通過波形的方式表現. 同時,板卡配置了繼電器,隔離效果好,有被測器件與測試板卡之間的隔離保護功能,板卡具有remotesense功能,能夠進行測試中的校準補償,保護小信號完整性同時,減少漏電流的產生,準確度更高. 這些強大功能

能使得UI-X6320應用到寬電壓需求應用,例如研發(fā)測試,參數測試,功能測試,量產測試,可以搭配測試RF,混合IC,ATE, 數據采集, 及控制系統(tǒng)等.

UI-X6320可以用來構建自動測試系統(tǒng),測試效率高,可以縮減硬件測試時間,軟件集成化高,開發(fā)容易快.基于PXI架構, UI-X6320可以和其他板卡配合使用,比如 數字化儀, RF射頻模塊,頻譜分析儀模塊,數字功能模塊等搭建混合功能測試系統(tǒng),這種搭配使用采用的多核效率高,同時響應快. Additionally, 這種模塊化,集成化多通道的功能,可以對多個器件進行并性測試,從而提高測試產量

為你推薦

  • UI-7110 六位半數字多用表2022-06-02 09:35

    產品型號:UI-7110 直流電壓:100mV~1000V 直流電流:100μA -10A 交流電壓:100mV~750V (3Hz-300kHz) 交流電流:100μA~10A(3Hz-10kHz) 電阻:10Ω -100MΩ
  • 源測量單元板卡(4通道SMU功能板卡)2022-06-01 15:32

    產品型號:UI-X6330 輸出通道數(DACs:4 上電后繼電器狀態(tài):全通道關閉 工作溫度:0 °C to +55 °C 存儲溫度:-20 °C to +70 °C 尺寸:3U
  • 源測量單元板卡(4通道SMU功能板卡)2022-05-31 15:23

    產品型號:UI-X6320 輸出通道數(DACs:4 上電后繼電器狀態(tài):全通道關閉 工作溫度:0 °C to +55 °C 存儲溫度:-20 °C to +70 °C 尺寸:3U
  • 100M動態(tài)數字功能板卡(Timing,PPMU)2022-05-25 15:12

    產品型號:UI-X6920 型號:X6920 時鐘速率:5kHz ~100 MHz 通道數:32 pins (通過級聯(lián)最高可達512 pins) Pattern內存:64M/每通道 Sequence內存:64M/每通道
  • MEMS芯片測試板卡2022-02-21 15:14

    產品型號:UI-X6220 時針速率:10MHz(最大) 通道數:32pins?card 驅動電流:正負32mA DC(最大) 電壓精度:16bits 電壓量程:-1V到+10V
  • 100M動態(tài)數字功能板卡(Timing,PPMU)2022-02-21 11:29

    產品型號:UI-X6920 時針速率:5KHz~100MHz 通道數:32pins Pattern內存:64M/每通道 Sequence:64M/每通道 并行測試能力:Any pin to any site
  • MEMS芯片測試系統(tǒng)2021-12-13 17:15

    產品型號:UI300系列MEMS傳感器測試機 Pin Channe:32~224pin (支持多板卡擴展) Test Rate:10MHz PMU:PMU per channel/16bit DPS:-1V~+10V per site; 512mA MAX Rang:2UA,8UA,32UA,128UA,512UA,2MA,8
  • MEMS芯片測試板卡2021-12-08 14:49

    產品型號:UI-X6220 時鐘速率:10MHz(最大) 通道數:32pins/card 電壓量程:-1V到正負10V 驅動電流:正負32mA DC(最大) 電壓精度:16bits
  • BMS測試系統(tǒng)2021-12-02 10:58

    產品型號:UI120C系列 集成電池管理系統(tǒng)自動測試系統(tǒng) 單體電壓:0.1-5V 電壓輸出精度:正負1mV 步進精度:<0.5mA 隔離電壓:正負750V 安全保護:短路保護,極性反轉保護,過熱保護,多通道互鎖結構
  • BMS測試產品2021-12-02 10:47

    產品型號:UI100E 系列 鋰電池模擬模塊 電池仿真通道:16 單體電壓:1.3V-5V 電壓輸出精度:正負1mV 電壓回讀精度:正負1mV 電壓輸出步進:0.15mV
  • 芯片 ESD 測試核心模型全解析|從基礎原理到波形特征2026-04-24 10:03

    在芯片的設計、生產、測試全流程中,ESD(靜電放電)是無處不在的“隱形殺手”,瞬間的靜電沖擊可能直接導致芯片柵氧擊穿、金屬連線燒毀,最終引發(fā)失效。而ESD測試是驗證芯片抗靜電能力的核心手段,其中芯片級ESD測試的四大核心模型(HBM/MM/CDM/HMM)更是行業(yè)研發(fā)、量產的重要依據。今天就帶大家系統(tǒng)梳理芯片級ESD測試的主流模型,從模擬場景、等效電路到放電
    137瀏覽量
  • 芯片的“第一道體檢”:一文讀懂CP測試,半導體人必看!2026-04-17 10:03

    在芯片從晶圓到成品的漫長旅程里,有一道看不見卻至關重要的關卡——CP測試。它被稱為芯片良率的“守門員”、封裝成本的“節(jié)流閥”,更是半導體產業(yè)鏈里前端制造與后端封測之間的關鍵樞紐。今天這篇,用通俗、好懂、能直接拿去用的方式,把CP測試講透一、先搞懂:CP測試到底是什么?CP=ChipProbing,也叫晶圓測試/中測/WaferSort。一句話定義:在晶圓完成
  • 未來測試圈新范式:不懂Skills的測試人,正在被AI悄悄淘汰2026-04-10 10:02

    最近,在測試圈和AI圈,"Skills"這個概念的熱度高居不下,成為行業(yè)熱議的焦點話題。不少測試工程師和AI愛好者都在詢問我:Skills到底是什么?它和剛推出的MCP(ModelControlPlatform)有什么關系?作為測試人員有必要學習這項技術嗎?如果是零基礎該如何快速上手?其實,作為測試從業(yè)者,我們學習Skills的核心目的極其樸素且實用:用最低
    529瀏覽量
  • 芯片測試設備市場持續(xù)高速增長--Handler市場2033年將達29.7億美元 | CAGR 6.8%2026-04-03 10:01

    據SiliconSemiconductorMagazine2026年3月12日報道,全球半導體芯片測試Handler市場規(guī)模預計到2033年將達到29.7億美元,復合年增長率(CAGR)為6.8%。汽車電子和AI芯片的爆發(fā)式需求正成為推動這一市場持續(xù)擴張的核心引擎。市場全景:從16億到30億的倍增之路根據GrowthMarketReports的最新研究數據,
  • FT 測試:芯片出貨前的最后一道閘門2026-03-27 10:02

    在封裝流程里FT是個挺微妙的工序。它排在最后,卻經常最先被懷疑:良率掉了→是不是FT卡嚴了?客訴來了→終測有沒有漏檢?批量異常→是不是測試程序問題?但在產線待久了會慢慢明白一句話:FT通常不是問題的起點,而是問題的出口。一、FT測試到底在干嘛?FT,全稱FinalTest一句直白點的解釋:在芯片完成封裝后,確認功能與關鍵參數是否滿足出貨要求。FT和CP最大的
    247瀏覽量
  • 【微納談芯】芯片測試越來越難的背后2026-03-20 10:05

    芯片測試的本質是“在原子級精度下,驗證每一個晶體管的可靠性”。早年28nm及以上成熟制程,測試核心是“篩選壞片”,流程相對簡單;但隨著制程進入14nm及以下,尤其是3nm、2nm節(jié)點,測試早已不是“篩選”那么簡單,而是要應對工藝復雜度、工具一致性、公差極限等多重挑戰(zhàn),難度呈指數級攀升。工藝復雜度的飆升,是測試難度增加的核心根源。正如OntoInnovatio
  • “養(yǎng)龍蝦”的第一批“受害者”出現了,有人專門花錢卸載...2026-03-13 10:02

    近日,互聯(lián)網上掀起一股“養(yǎng)龍蝦”熱潮。由于開源AI智能體工具OpenClaw圖標是一只紅色龍蝦,被大家稱為“龍蝦”。它通過整合調用通信軟件和大語言模型,在用戶電腦上自主執(zhí)行文件管理、郵件收發(fā)、數據處理等復雜任務。隨著“養(yǎng)龍蝦”風潮擴散,多家企業(yè)官宣“龍蝦”模型,還有部分地區(qū)已將其應用到政務服務場景中。然而,“養(yǎng)龍蝦”也存在不少風險和隱患。3月11日,相關話題
  • 揭秘芯片測試:如何驗證數十億個晶體管2026-03-06 10:03

    微觀世界的“體檢”難題在一枚比指甲蓋還小的芯片中,集成了數十億甚至上百億個晶體管,例如NVIDIA的H100GPU包含800億個晶體管。要如何確定每一個晶體管都在正常工作?這是一個超乎想象的復雜工程。如果讓人類拿著顯微鏡一個接一個地檢查,測試一顆芯片可能需要數百年。然而在現代工廠中,這必須在幾秒鐘內完成。這就是可測性設計(DFT,DesignforTesta
  • 芯片DFT Scan測試原理2026-02-27 10:05

    在芯片制造過程中,可能會引入物理缺陷,這些缺陷在電氣層面的表現稱為故障。常見的故障模型包括固定型故障(例如引腳固定連接到電源或地)、跳變故障、路徑延時故障(如門級端口信號上升下降過慢)、以及靜態(tài)電流型故障(表現為異常高電流泄漏)。若某個故障能在電路中向后傳播并導致芯片輸出與預期不符,則稱為失效。值得注意的是,并非所有故障都會引發(fā)失效,只有那些最終影響到功能正
    760瀏覽量
  • 超全的芯片測試原理講解2026-02-13 10:01

    做芯片測試的同學經常會涉及到Continuity測試、Leakage測試、GPIOdrivecapability測試、GPIOpullup/pulldownresistor測試、standbyidd、runidd、IDDQ、MBIST、SCAN等測試,小編在此帶大家總結一下這些測試的基本原理。Continuity測試(即OS測試)該測試主要是測試芯片的ope
  • MEMS傳感器轉臺測試設備2021-12-13 15:30

    聯(lián)合儀器MEMS測試系統(tǒng)UI320采用測試機加轉臺的構架,是對MEMS陀螺儀和加速度計的測試平臺??蓪EMS傳感器芯片進行測試,支持I2C/SPI的通訊方式,提供免費的開源軟件底層API基于C開發(fā),支持VC,VC++,labview等。
洪雅县| 海南省| 奇台县| 浦县| 宁明县| 屏山县| 海安县| 信丰县| 呼伦贝尔市| 鸡东县| 顺昌县| 绥滨县| 桂阳县| 延吉市| 木里| 错那县| 德惠市| 永泰县| 民乐县| 朝阳区| 阿克陶县| 淮安市| 时尚| 行唐县| 安化县| 密山市| 桑日县| 通城县| 马边| 南召县| 盈江县| 平安县| 金寨县| 视频| 长春市| 天柱县| 河东区| 甘洛县| 麦盖提县| 贵州省| 苏尼特右旗|