GB/T 4937.2是半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗方法系列標(biāo)準(zhǔn)中的重要組成部分，專門用于測試器件在極端低溫貯存條件下的耐受能力。該試驗將器件暴露于規(guī)定低溫（通常為-40℃、-55℃或-65℃）下，持續(xù)時間為24小時、72小時或1000小時（長期貯存），期間器件不工作。試驗后恢復(fù)至室溫，檢測其外觀、電參數(shù)及功能是否滿足規(guī)范要求。主要評估塑料封裝在低溫下的脆化、引線斷裂、內(nèi)部水汽結(jié)冰引起的電性異常等。適用于二極管、三極管、集成電路、光電器件等。

廣電計量環(huán)境可靠性檢測實驗室擁有多臺高精度低溫貯存試驗箱，溫度范圍覆蓋-70℃~+150℃，控溫精度±0.5℃，且具備大容積（1m3以上）以滿足批次抽檢需求。實驗室嚴(yán)格按照GB/T 4937系列及JESD22-A119等國際標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行，測試過程全程記錄溫度曲線和器件響應(yīng)數(shù)據(jù)。廣電計量在半導(dǎo)體可靠性領(lǐng)域積累了豐富的案例庫，可為客戶提供從樣品預(yù)處理、偏置條件設(shè)計到最終測試的一站式服務(wù)。此外，實驗室還支持極端低溫下的非工作可靠性評估，助力企業(yè)通過J工或車規(guī)級低溫貯存認(rèn)證。