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SPEA

SPEA成立于1976年，注于于電路板和電路模塊檢測(cè)，為半導(dǎo)體IC和 MEMS傳感器設(shè)計(jì)并制造自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，提供標(biāo)準(zhǔn)化產(chǎn)品和定制化服務(wù)方案

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SPEA 在線(xiàn)離線(xiàn)ICT測(cè)試儀 3030IL 全自動(dòng)電路板測(cè)試設(shè)備

型號(hào)： 3030IL、3030M、3030R等

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 設(shè)備尺寸 900x970x1737mm
  • 內(nèi)核數(shù) 可達(dá)到4核
  • 電阻測(cè)量范圍 1mΩ——1GΩ
  • 電感測(cè)量范圍 1μH——1H
  • 電感測(cè)量范圍 0.5pF——1F
  • 電氣測(cè)試類(lèi)型 在線(xiàn)電路測(cè)試、開(kāi)路掃描、上電測(cè)試、功能測(cè)試等

--- 產(chǎn)品詳情 ---

 

SPEA的3030系列ICT測(cè)試設(shè)備型號(hào)品類(lèi)眾多，從小批量測(cè)試到大規(guī)模量產(chǎn)測(cè)試，3030產(chǎn)品家族中既有適合高產(chǎn)能的在線(xiàn)ICT測(cè)試儀，還有適合小批量測(cè)試的高性?xún)r(jià)比離線(xiàn)ICT測(cè)試設(shè)備。

  • 3030IL 是一款在線(xiàn)型ICT測(cè)試設(shè)備，采用4核心結(jié)構(gòu)，支持多器件燒錄功能，上電測(cè)試，數(shù)字測(cè)試，開(kāi)路掃描等功能。
  • 3030M 是一款離線(xiàn)手動(dòng)ICT測(cè)試儀，支持客戶(hù)定制，廣范兼容各類(lèi)儀器及治具接口。
  • 3030R 被設(shè)計(jì)用來(lái)集成到第三方的設(shè)備或19英寸的框架中，3030R節(jié)約了工業(yè)用地面積，并且為您的生產(chǎn)設(shè)備提供了全面的測(cè)試能力，達(dá)到前所未有的產(chǎn)能。
  • 3030BT 是一個(gè)、占地面積小的完美的桌面型電路板測(cè)試機(jī)，可以進(jìn)行在線(xiàn)測(cè)試和引腳開(kāi)路掃描測(cè)試，并能夠找到進(jìn)程故障和結(jié)構(gòu)上的缺陷，成本低。不管是臺(tái)式電腦或筆記本電腦，通過(guò) USB 接口連接，3030BT可以兼容各種計(jì)算機(jī)。
SPEA 在線(xiàn)離線(xiàn)ICT測(cè)試儀

 

3030 ICT測(cè)試儀產(chǎn)品家族

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    產(chǎn)品型號(hào)：3030IL、3030M、3030R等 設(shè)備尺寸：900x970x1737mm 內(nèi)核數(shù)：可達(dá)到4核 電阻測(cè)量范圍：1mΩ——1GΩ 電感測(cè)量范圍：1μH——1H 電感測(cè)量范圍：0.5pF——1F

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