金鑒實(shí)驗(yàn)室文章

• 微焊點(diǎn)金屬間化合物分析：EDS與EBSD技術(shù)應(yīng)用2024-12-23 17:28

  

  隨著半導(dǎo)體行業(yè)的迅猛發(fā)展，集成電路的設(shè)計(jì)和制造技術(shù)經(jīng)歷了從簡(jiǎn)單的平面二維布局到復(fù)雜的三維堆疊結(jié)構(gòu)的重大轉(zhuǎn)變。這種轉(zhuǎn)變極大地增強(qiáng)了芯片的性能，并提高了其功能集成度。三維集成電路的實(shí)現(xiàn)關(guān)鍵在于硅通孔技術(shù)（TSV），該技術(shù)允許不同層級(jí)的芯片實(shí)現(xiàn)垂直連接，從而創(chuàng)造出更為精密的芯片架構(gòu)。隨著焊點(diǎn)尺寸的持續(xù)減小，對(duì)焊料的選擇和焊接工藝提出了更高的要求，這為半導(dǎo)體行業(yè)帶來(lái)

  EDS 半導(dǎo)體 探測(cè)器 1650瀏覽量

• 什么是濕熱試驗(yàn)？2024-12-23 17:27

  

  濕熱試驗(yàn)中的物理現(xiàn)象在進(jìn)行濕熱試驗(yàn)時(shí)，樣品會(huì)因?yàn)闇囟群蜐穸鹊慕换ビ绊懚馐艹睗袂趾?。這種潮濕侵害表現(xiàn)為多種物理現(xiàn)象，包括物質(zhì)的吸附作用、液滴的形成（凝露）、物質(zhì)的擴(kuò)散過(guò)程、液體的吸收（也稱(chēng)為流通）以及材料的呼吸作用等。濕熱試驗(yàn)與現(xiàn)實(shí)環(huán)境的關(guān)聯(lián)濕熱試驗(yàn)的溫濕度條件通常模擬的是實(shí)際環(huán)境中較為罕見(jiàn)的條件，且作用時(shí)間比實(shí)際環(huán)境中要長(zhǎng)得多。因此，從模擬性角度來(lái)看，濕熱

  材料 測(cè)試 濕熱 濕熱試驗(yàn)箱 1296瀏覽量

• 板彎曲試驗(yàn)在AEC-Q102的重要性2024-12-20 12:56

  

  伴隨汽車(chē)電子技術(shù)的持續(xù)演進(jìn)，光電子元器件在車(chē)輛內(nèi)的應(yīng)用愈發(fā)廣泛，其可靠性要求亦不斷提升。AEC-Q102認(rèn)證乃是針對(duì)光電子元器件的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)，其中板彎曲試驗(yàn)（BoardFlexTest）作為關(guān)鍵測(cè)試項(xiàng)目之一，顯得尤為重要。AEC-Q102認(rèn)證的背景與意義1.什么是AEC-Q102認(rèn)證？AEC-Q102系汽車(chē)電子委員會(huì)（AEC）針對(duì)光電子元器件（諸如光電耦合、L

  led 汽車(chē)電子 電子元器件 1127瀏覽量

• 一文帶你了解FIB技術(shù)2024-12-20 12:55

  

  FIB技術(shù)定義聚焦離子束（FocusedIonBeam,FIB）技術(shù)是一種先進(jìn)的微納加工技術(shù)，它利用高度聚焦的離子束對(duì)材料進(jìn)行精確的加工、分析和成像。FIB技術(shù)能夠在納米尺度上實(shí)現(xiàn)材料的去除、沉積以及成像，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、微電子、納米技術(shù)等領(lǐng)域。FIB系統(tǒng)的基本構(gòu)成離子源：負(fù)責(zé)產(chǎn)生離子流，通常使用液態(tài)金屬離子源，如液態(tài)鎵。加速和偏轉(zhuǎn)系統(tǒng)：加速離子并控制離

  fib 材料 離子束 4931瀏覽量

• 汽車(chē)高分子材料光老化試驗(yàn)方法匯總2024-12-20 12:54

  

  材料老化測(cè)試的重要性材料老化測(cè)試是材料科學(xué)中的一項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)，它涉及對(duì)材料在自然環(huán)境下長(zhǎng)期使用后性能變化的預(yù)測(cè)和評(píng)估。這項(xiàng)技術(shù)對(duì)于橡膠、塑料、絕緣材料等的熱氧老化，以及電子元件和塑料產(chǎn)品的換氣老化至關(guān)重要。光老化測(cè)試模擬了太陽(yáng)光、溫度和濕度對(duì)高分子材料耐候性的影響，是材料老化研究的核心。光老化測(cè)試的原理光老化測(cè)試的核心在于模擬太陽(yáng)光中的紫外線(xiàn)、紅外線(xiàn)和可見(jiàn)光對(duì)

  加速老化試驗(yàn) 材料 汽車(chē) 1210瀏覽量

• 鈦合金微觀結(jié)構(gòu)表征：EBSD制樣技術(shù)的應(yīng)用與經(jīng)驗(yàn)分析2024-12-20 12:44

  

  EBSD技術(shù)的進(jìn)步電子背散射衍射技術(shù)（EBSD）在材料科學(xué)領(lǐng)域扮演著越來(lái)越重要的角色。它允許科學(xué)家在掃描電子顯微鏡（SEM）下進(jìn)行顯微形貌、成分和晶體取向的綜合分析，極大地提高了材料研究的效率和準(zhǔn)確性。鈦合金圖譜備盡管EBSD技術(shù)帶來(lái)了許多便利，但它對(duì)操作者提出了較高的要求，操作者需要具備深厚的晶體學(xué)知識(shí)。此外，EBSD對(duì)樣品的制備也有嚴(yán)格的要求，這對(duì)于初學(xué)

  SEM 顯微鏡 1488瀏覽量

• 離子束與材料的相互作用2024-12-19 12:40

  

  聚焦離子束（FIB）技術(shù)憑借其在微納米尺度加工和分析上的高精度和精細(xì)控制，已成為材料科學(xué)、納米技術(shù)和半導(dǎo)體工業(yè)等領(lǐng)域的關(guān)鍵技術(shù)。該技術(shù)通過(guò)精確操控具有特定能量的離子束與材料相互作用，引發(fā)一系列復(fù)雜的物理化學(xué)效應(yīng)，這些效應(yīng)深刻影響材料的表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu)，為多個(gè)領(lǐng)域的發(fā)展提供了重要的技術(shù)支持。荷能離子與固體表面作用的主要物理化學(xué)現(xiàn)象荷能離子與固體表面作用時(shí)，會(huì)發(fā)生

  fib 材料 離子束 1514瀏覽量

• AECQ-102 認(rèn)證試驗(yàn)項(xiàng)目全解析2024-12-19 12:39

  

  在汽車(chē)電子領(lǐng)域，AECQ-102認(rèn)證對(duì)于確保產(chǎn)品可靠性起著極為關(guān)鍵的作用。該認(rèn)證包含了一系列嚴(yán)謹(jǐn)且全面的試驗(yàn)項(xiàng)目，旨在對(duì)汽車(chē)用分立光電半導(dǎo)體產(chǎn)品進(jìn)行嚴(yán)格的性能與可靠性評(píng)估。一、環(huán)境應(yīng)力測(cè)試這一板塊的測(cè)試主要模擬產(chǎn)品在不同環(huán)境條件下的耐受能力。高溫存儲(chǔ)測(cè)試要求產(chǎn)品在規(guī)定的高溫環(huán)境（如150°C甚至更高）下存儲(chǔ)一定時(shí)長(zhǎng)，例如1000小時(shí)，以檢驗(yàn)其材料穩(wěn)定性與封裝

  半導(dǎo)體 汽車(chē)電子 認(rèn)證 1300瀏覽量

• RoHS2.0解析2024-12-19 12:38

  

  RoHS2.0的實(shí)施與擴(kuò)展自2019年7月22日起，歐盟對(duì)電子電器產(chǎn)品實(shí)施了更為嚴(yán)格的環(huán)保要求。這一規(guī)定要求所有進(jìn)入歐洲市場(chǎng)的電子電器產(chǎn)品（不包括醫(yī)療和監(jiān)控設(shè)備）必須遵守RoHS2.0指令，限制特定有害物質(zhì)的使用。到了2021年7月22日，這一規(guī)定進(jìn)一步擴(kuò)展到了醫(yī)療設(shè)備和監(jiān)控設(shè)備，包括體外醫(yī)療設(shè)備和工業(yè)監(jiān)控設(shè)備，從而實(shí)現(xiàn)了對(duì)電子電器產(chǎn)品全面的環(huán)保管控。此外，

  RoHS 測(cè)試 電氣設(shè)備 3200瀏覽量

• 如何進(jìn)行元器件篩選？2024-12-19 12:37

  

  電子元件的核心作用在電子設(shè)備中，電子元件扮演著基礎(chǔ)而關(guān)鍵的角色，它們是電子通信、數(shù)據(jù)處理和自動(dòng)化控制等技術(shù)領(lǐng)域的基石。篩選的必要性為了確保電子元件在其整個(gè)使用壽命內(nèi)都能穩(wěn)定工作，避免因元件本身的缺陷或制造過(guò)程中的差異導(dǎo)致的早期失效，必須依據(jù)應(yīng)用環(huán)境選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)試類(lèi)型和條件進(jìn)行篩選，以排除可能早期失效的元件。篩選的分類(lèi)可靠性篩選涵蓋一次篩選、二次篩選、補(bǔ)充篩選

  元器件 電子元件 電子元器件 電子設(shè)備 1778瀏覽量