金鑒實(shí)驗(yàn)室文章

• 為何需要AEC-Q車規(guī)認(rèn)證？2024-12-13 00:19

  

  AEC-Q車規(guī)認(rèn)證的必要性在汽車制造領(lǐng)域，電子組件的可靠性與穩(wěn)定性扮演著核心角色。隨著科技的飛速發(fā)展，汽車的電子化水平持續(xù)提高，其中電源管理模塊、各類傳感器、以及變頻器等核心組件，都需要在極端環(huán)境如高低溫、濕度、震動(dòng)等條件下維持其功能。因此，AEC-Q車規(guī)認(rèn)證應(yīng)需而生，由汽車電子委員會(huì)所制定，其目的在于保障汽車電子組件的可靠性與質(zhì)量，以符合汽車行業(yè)對于安全性

  AEC 半導(dǎo)體 認(rèn)證 1679瀏覽量

• 燈具產(chǎn)品技術(shù)性能檢測與評估2024-12-13 00:18

  

  在燈具制造業(yè)中，技術(shù)檢驗(yàn)是確保產(chǎn)品符合安全和質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的基石。本文將深入探討燈具產(chǎn)品在技術(shù)檢驗(yàn)中需遵循的各項(xiàng)測試要求和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，以保障其在市場上的可靠性和競爭力。絕緣性能高壓測試高壓測試是檢驗(yàn)燈具絕緣性能的重要步驟。依據(jù)UL/cUL標(biāo)準(zhǔn)，固定式燈具需承受1500V電壓測試，持續(xù)1秒，電流不超過1.0mA；而便攜式燈具則需承受1500V電壓測試，電流不超過0.5

  檢測 燈具 電阻測試 2077瀏覽量

• EBSD與TEM在再結(jié)晶研究中的應(yīng)用2024-12-13 00:17

  

  什么是再結(jié)晶過程再結(jié)晶是一種重要的材料科學(xué)現(xiàn)象，它涉及到材料在經(jīng)歷塑性變形后的微觀結(jié)構(gòu)恢復(fù)過程。這一過程對于理解材料的性能和優(yōu)化加工工藝至關(guān)重要。再結(jié)晶的機(jī)制與分類再結(jié)晶過程通常由熱處理或熱變形觸發(fā)，是材料在變形過程中產(chǎn)生缺陷后的自然恢復(fù)過程。這些缺陷，如位錯(cuò)和晶界，會(huì)促使材料在高溫下通過位錯(cuò)重排和湮沒來降低系統(tǒng)的自由能，從而形成新的晶粒結(jié)構(gòu)。鍛造TNM合金

  TEM 材料 結(jié)晶 1979瀏覽量

• PCB離子污染度測試的重要性2024-12-13 00:15

  

  PCB離子污染度的重要性在電子制造業(yè)中，PCB（印刷電路板）的離子污染度測試是保障產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。離子污染度指的是PCB表面殘留的帶電離子污染物，這些污染物主要來源于焊接助劑、化學(xué)清洗劑、濕度控制、電鍍、波峰焊和回流焊等制造工藝。這些殘留物可能引起電氣化學(xué)效應(yīng)，對PCB的性能和可靠性構(gòu)成潛在威脅。離子污染度的控制與測試為了確保PCB的質(zhì)量和可靠性，必須嚴(yán)

  pcb PCB 測試 離子 1918瀏覽量

• 什么是半導(dǎo)體芯片的失效切片分析？2024-12-10 10:43

  

  芯片切片分析技術(shù)芯片切片分析是一種在半導(dǎo)體、電子顯微學(xué)和材料科學(xué)等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用的技術(shù)。通過將芯片切成薄片，研究人員可以直接觀察芯片內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)，如晶體管、電路布線等，從而深入研究芯片的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和性能。這項(xiàng)技術(shù)不僅有助于優(yōu)化芯片設(shè)計(jì)，提升性能和可靠度，還可以用于故障檢測和質(zhì)量控制。切片方式的介紹1.機(jī)械研磨機(jī)械研磨是一種低成本的切片技術(shù)，適用于各種材質(zhì)的樣品

  led 半導(dǎo)體 芯片 1790瀏覽量

• 電子元件測試中恒溫恒濕試驗(yàn)箱的關(guān)鍵作用2024-12-10 10:40

  

  電子元件測試中的多種檢測項(xiàng)目高溫儲(chǔ)存測試是篩選電子元器件的一種有效方法。通過在最高結(jié)溫下儲(chǔ)存電子元器件24至168小時(shí)，加速化學(xué)反應(yīng)，使有缺陷的元件及時(shí)暴露出來，加以淘汰。這種方法簡單易行，能夠有效地穩(wěn)定元器件的參數(shù)性能，減少使用中的參數(shù)漂移。電力測試電力測試是評估電子元器件可靠性的重要項(xiàng)目。在熱電應(yīng)力的綜合作用下，可以暴露出元器件本體和表面的潛在缺陷。電子

  恒溫恒濕機(jī) 電子元器件 試驗(yàn)箱 904瀏覽量

• AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)下的混合氣體測試2024-12-10 10:39

  

  在汽車電子領(lǐng)域，電子組件必須能夠在各種惡劣環(huán)境下保持性能穩(wěn)定，以確保車輛系統(tǒng)的安全和可靠運(yùn)行。為此，混合氣體試驗(yàn)成為了一種關(guān)鍵的測試方法，用以評估這些組件在特定化學(xué)腐蝕環(huán)境下的耐久性。AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了混合氣體試驗(yàn)的具體要求，以模擬汽車電子組件在實(shí)際應(yīng)用中可能遇到的化學(xué)腐蝕條件，驗(yàn)證其在這些條件下的穩(wěn)定性和安全性?；旌蠚怏w試驗(yàn)的核心理念混合氣體試驗(yàn)是

  氣體檢測 汽車電子 測試 1007瀏覽量

• 碳化硅MOSFET柵極氧化層缺陷的檢測技術(shù)2024-12-06 17:25

  

  碳化硅材料在功率器件中的優(yōu)勢碳化硅（SiC）作為第三代化合物半導(dǎo)體材料，相較于傳統(tǒng)硅基器件，展現(xiàn)出了卓越的性能。SiC具有高禁帶寬度、高熱導(dǎo)率、高的擊穿電壓以及高功率密度特性。這些特性使得SiC器件在高效電能轉(zhuǎn)換應(yīng)用領(lǐng)域具有不可替代的優(yōu)勢，正逐漸成為功率半導(dǎo)體領(lǐng)域的主流選擇。碳化硅器件的技術(shù)挑戰(zhàn)盡管SiC器件性能優(yōu)越，但其單晶和外延材料價(jià)格較高，工藝不成熟，

  MOSFET 檢測 碳化硅 2320瀏覽量

• 功率半導(dǎo)體模塊的可靠性評估：功率循環(huán)測試研究2024-12-06 17:24

  

  功率半導(dǎo)體概述功率半導(dǎo)體是一種特殊的半導(dǎo)體器件，它們在電力系統(tǒng)中扮演著至關(guān)重要的角色。這些器件能夠高效地控制和調(diào)節(jié)電力的流動(dòng)，包括電壓和頻率的轉(zhuǎn)換，以及交流電（AC）和直流電（DC）之間的轉(zhuǎn)換。這種能力使得功率半導(dǎo)體在各種電力應(yīng)用中不可或缺，例如電力變換器、電機(jī)驅(qū)動(dòng)器和電力調(diào)節(jié)器等。功率半導(dǎo)體的應(yīng)用領(lǐng)域功率半導(dǎo)體器件在多個(gè)領(lǐng)域中發(fā)揮著核心作用，尤其是在新能源

  功率半導(dǎo)體 功率循環(huán)測試 半導(dǎo)體器件 測試 1939瀏覽量

• AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)：汽車電子散熱性能的熱阻測試指南2024-12-06 17:22

  

  汽車電子領(lǐng)域的散熱挑戰(zhàn)在汽車電子領(lǐng)域，隨著電子設(shè)備在車輛中的廣泛應(yīng)用，對電子器件的性能和可靠性要求也日益嚴(yán)格。AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)作為汽車電子委員會(huì)（AutomotiveElectronicsCouncil）制定的一項(xiàng)重要測試標(biāo)準(zhǔn)，專注于評估汽車電子中使用的分立光電半導(dǎo)體元器件的可靠性和質(zhì)量。這些元器件，包括LED、激光器件、光電二極管和光電晶體管等，在汽車

  AEC 汽車電子 熱阻測試 2021瀏覽量