電路性能測(cè)試和改進(jìn)
做出來(lái)的電路先出現(xiàn)了峰值:

電阻出了問(wèn)題,改變阻值后:

再次改變阻值后:

帶外抑制比不夠:


相關(guān)數(shù)據(jù)表
由此可以看出R的取值為40k或36k時(shí),條件基本滿(mǎn)足條件。下面所示是我在萬(wàn)能板上實(shí)際焊接出來(lái)的實(shí)物圖:

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電路性能測(cè)試和改進(jìn)
做出來(lái)的電路先出現(xiàn)了峰值:

電阻出了問(wèn)題,改變阻值后:

再次改變阻值后:

帶外抑制比不夠:


相關(guān)數(shù)據(jù)表
由此可以看出R的取值為40k或36k時(shí),條件基本滿(mǎn)足條件。下面所示是我在萬(wàn)能板上實(shí)際焊接出來(lái)的實(shí)物圖:

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