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陜西博微電通科技

注于高精度半導(dǎo)體分立器件測試設(shè)備,光耦測試設(shè)備及半導(dǎo)體實驗室系統(tǒng)方案的高科技企業(yè)。

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便攜式-晶體管光耦參數(shù)測試儀(雙功能版)

型號: BW-3010B

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 規(guī)格 臺式機(jī)/便攜式
  • 尺寸 深 305*寬 280*高 120(mm)
  • 存儲數(shù)據(jù)量 1000條
  • 高壓源 1500V
  • 重量 <4.5kg
  • 雙功能版 繼電器光耦&可控硅光耦

--- 產(chǎn)品詳情 ---

 

BW-3010B

晶體管光耦參數(shù)測試儀(雙功能版)

BW-3010B型光藕參數(shù)測試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器的功能和參數(shù)測試及參數(shù)”合格/不合格”(OK/NO)判斷測試。 ,BW-3010B為各種光藕提供了輸入正向壓降(VF)和輸出反向耐(ICEO)、耐壓BVCEO、傳輸比(CTR)等 。中文軟件界面友好,簡化了系統(tǒng)的操作和編程,提供了快速的一次測試條件和測試參數(shù)的設(shè)定,測試條件及數(shù)據(jù)同步存入EEPROM中,測試條件可以任意設(shè)置,測試正向壓降和輸出電流可達(dá)1A,操作簡便,實用性強(qiáng)。廣泛應(yīng)用與半導(dǎo)體電子行業(yè)、新能源行業(yè)、封裝測試、家電行業(yè)、科研教育等領(lǐng)域來料檢驗、產(chǎn)品選型等重要檢測設(shè)備之一teL-15-3537-8- 62-59。。

 

產(chǎn)品電氣參數(shù):

 

產(chǎn)品信息

產(chǎn)品型號:BW-3022A

產(chǎn)品名稱:晶體管光耦參數(shù)測試儀;

物理規(guī)格

主機(jī)尺寸:深 305*寬 280*高 120(mm)

主機(jī)重量:<4.5Kg

主機(jī)顏色:白色系

電氣環(huán)境

主機(jī)功耗:<75W

環(huán)境要求:-20℃~60℃(儲存)、5℃~50℃(工作);

相對濕度:≯85%;

大氣壓力:86Kpa~106Kpa;

防護(hù)條件:無較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導(dǎo)電粉塵等;

電網(wǎng)要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz;

工作時間:連續(xù);


 

服務(wù)領(lǐng)域:

     應(yīng)用場景:

    ?選型配對(在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測試,將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對)

    ?檢驗篩選(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢,把控器件的良品率)

 

    產(chǎn)品特點:

    ?大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡潔,操作方面簡單

    ?大容量EEPROM存儲器,儲存量可多達(dá)1000種設(shè)置型號數(shù).

    ?全部可編程的DUT恒流源和電壓源.

    ?內(nèi)置繼電器矩陣自動連接所需的測試電路,電壓/電流源和測試回路.

    ?高壓測試電流分辨率1uA,測試電壓可達(dá)1500V;

    ?重復(fù)”回路”式測試解決了元件發(fā)熱和間歇的問題;

    ?軟件自校準(zhǔn)功能;

    ?自動測試測DUT短路、開路或誤接現(xiàn)象,如果發(fā)現(xiàn),就立即停止測試;

    ?DUT的功能檢測通過LCD顯示出被測器件/DUT的類型,顯示測試結(jié)果是否合格,并有聲光提示;

    ?兩種工作模式:手動、自動測試模式。

 

         BW-3010B主機(jī)和DUT的管腳對應(yīng)關(guān)系

 

型號類型P1 T1P2 T2P3T3P4T4
光藕PC817AA測試端KK測試端EE測試端CC測試端

 

 

 

 BW-3010B測試技術(shù)指標(biāo):

 

1、光電傳感器指標(biāo):

輸入正向壓降(VF)

測試范圍分辨率精度測試條件
0-2V2mV<1%+2RD0-1000MA


 


 

反向電流(Ir)

測試范圍分辨率精度測試條件
0-200UA0.2UA<2%+2RDVR:0-20V


 


 

集電極電流(Ic)

測試范圍分辨率精度測試條件
0-40mA0.2MA<1%+2RDVCE:0-20V IF:0-40MA

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

輸出導(dǎo)通壓降(VCE(sat))

測試范圍分辨率精度測試條件
0-2.000V2mV1% +5RD

IC:0-40mA

IF:0-40mA

 

 

 

 

輸出漏電流(Iceo)

測試范圍分辨率精度測試條件
0-2.000mA2UA<2%+2RDVR:0-20V

 

 

 

 

 

2、光電耦合器:

耐壓(VCEO)測試指標(biāo)

測試范圍分辨率精度測試條件
0-1400V1V<2%+2RD0-2mA

 

 

 

輸入正向壓降(VF)

測試范圍分辨率精度測試條件
0-2V2mV<1%+2RD0-1000MA

 

 

 

反向漏電流(ICEO)

測試范圍分辨率精度測試條件
0-2000uA1UA<5% +5RDBVCE=25V

 

 

 

反向漏電流(IR)

測試范圍分辨率精度測試條件
0-2000uA1UA<5% +5RDVR=0-20V

 

 

 

電流傳輸比(CTR)

測試范圍分辨率精度測試條件
0-99991%1% +5RD

BVCE:0-20V

IF:0-100MA

 

 

 

 

輸出導(dǎo)通壓降(VCE(sat))

測試范圍分辨率精度測試條件
0-2.000V2mV1% +5RD

IC:0-1.000A

IF:0-1.000A

 

 

 

 

可分檔位總數(shù):10檔

 

     

 

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