隨著光伏組件大規(guī)模使用一段時間后，特別是越來越多的投入運營的大型光伏電廠運營三四年后，業(yè)界對光伏組件的電位誘發(fā)衰減效應（PID，PotentialInducedDegradation）的關注越來越多。盡管尚無明確的由PID原因引發(fā)光伏電站在工作三、四年后發(fā)生大幅衰減的報道，但對一些電站工作幾年后就發(fā)生明顯衰減現象的原因的種種猜測使光伏行業(yè)對PID的原因和預防方法的討論越來越多。一些國家和地區(qū)已逐步開始把抗PID作為組件的關鍵要求之一。很多日本用戶明確要求把抗PID寫入合同，并隨機抽檢。歐洲的買家也躍躍欲試提出同樣的要求。此趨勢也使得國內越來越多的光伏電站業(yè)主單位、光伏電池和組件廠、測試單位和材料供應商對PID的研究越來越深入。

　　其實早在2005年，Sunpower就發(fā)現晶硅型的背接觸n型電池在組件中施加正高壓后存在PID現象［1］。2008年，Evergreen報道了PID出現在高負偏壓下的正面連接p型電池組件中。在2010年，SolonSE報道在標準的單晶和多晶電池中都發(fā)現了極化效應。很快SolonSE和NREL就提出在負高偏壓下使用任何工藝生產的P型電池標準組件都存在發(fā)生PID現象的極大風險［2-5］。而CIGS組件的PID效應也有被報道［6］。

　二、PID的檢測方式

　　PID測試有兩種加速老化的方式：

　　1）在特定的溫度、濕度下，在組件玻璃表面覆蓋鋁箔、銅箔或者濕布，在組件的輸出端和表面覆蓋物之間施加電壓一定的時間。

　　2）在85%濕度85℃或者是60℃或85℃的環(huán)境下將-1000V直流電施加在組件輸出端和鋁框上96小時。

　　在兩種方式測試前，都對組件進行功率、濕漏電測試并EL成像。老化結束后，再次進行功率、濕漏電測試并EL成像。將測試前后的結果進行比較，從而得出PID在設定條件下的發(fā)生情況。第一種方式比較多的用于實驗機構，而后一種方式比較多的被光伏組件廠采用。當PID現象發(fā)生時，從EL成像可以看到部分電池片發(fā)黑。光伏組件在上述兩種測試方式下表現出的的EL成像圖是不同的。第一種方式條件下，發(fā)黑的電池片隨機的分布在組件內，而在第二種方式中，電池片發(fā)黑的現象首先在靠近鋁框處發(fā)生。