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射頻開(kāi)關(guān)的失效主要是動(dòng)作異常，而引起這一失效的主要因索有觸點(diǎn)材料、觸點(diǎn)表面處理工藝、觸點(diǎn)間隙、動(dòng)作時(shí)間、動(dòng)作頻率、動(dòng)作電壓、電流、環(huán)境溫度等。其中環(huán)境溫度是影響射頻開(kāi)關(guān)動(dòng)作異常的一個(gè)重要因素。文中根據(jù)射頻開(kāi)關(guān)在高低溫電測(cè)試試驗(yàn)中的各種失效現(xiàn)象，進(jìn)行分析，找出失效原因，并提出了相應(yīng)的改進(jìn)措施。而針對(duì)最主要的失效原因進(jìn)行了機(jī)構(gòu)優(yōu)化改進(jìn)，并通過(guò)應(yīng)力仿真分析模型和改進(jìn)后試驗(yàn)結(jié)果得出，改進(jìn)后的射頻開(kāi)關(guān)具有更好的可靠性。
射頻開(kāi)關(guān)
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