資料介紹
電器設備內部的電子元器件雖然數(shù)量很多,但其故障卻是有規(guī)律可循的。
一、電阻損壞的特點
電阻是電器設備中數(shù)量最多的元件,但不是損壞率最高的元件。電阻損壞以開路最常見,阻值變大較少見,阻值變小十分少見。常見的有碳膜電阻、金屬膜電阻、線繞電阻和保險電阻幾種。前兩種電阻應用最廣,其損壞的特點:一是低阻值(100Ω以下)和高阻值(100kΩ以上)的損壞率較高,中間阻值(如幾百歐到幾十千歐)的極少損壞;二是低阻值電阻損壞時往往是燒焦發(fā)黑,很容易發(fā)現(xiàn),而高阻值電阻損壞時很少有痕跡。線繞電阻一般用作大電流限流,阻值不大。圓柱形線繞電阻燒壞時有的會發(fā)黑或表面爆皮、裂紋,有的沒有痕跡。水泥電阻是線繞電阻的一種,燒壞時可能會斷裂,否則也沒有可見痕跡。保險電阻燒壞時有的表面會炸掉一塊皮,有的也沒有什么痕跡,但絕不會燒焦發(fā)黑。根據以上特點,在檢查電阻時可有所側重,快速找出損壞的電阻。
二、電解電容損壞的特點
電解電容在電器設備中的用量很大,故障率很高。電解電容損壞有以下幾種表現(xiàn):一是完全失去容量或容量變小;二是輕微或嚴重漏電;三是失去容量或容量變小兼有漏電。查找損壞的電解電容方法有:
?。?)看:有的電容損壞時會漏液,電容下面的電路板表面甚至電容外表都會有一層油漬,這種電容絕對不能再用;有的電容損壞后會鼓起,這種電容也不能繼續(xù)使用;
?。?)摸:開機后有些漏電嚴重的電解電容會發(fā)熱,用手指觸摸時甚至會燙手,這種電容必須更換;
?。?)電解電容內部有電解液,長時間烘烤會使電解液變干,導致電容量減小,所以要重點檢查散熱片及大功率元器件附近的電容,離其越近,損壞的可能性就越大。
三、 二/三極管等半導體器件損壞的特點
二、三極管的損壞一般是PN結擊穿或開路,其中以擊穿短路居多。此外還有兩種損壞表現(xiàn):一是熱穩(wěn)定性變差,表現(xiàn)為開機時正常,工作一段時間后,發(fā)生軟擊穿;另一種是PN結的特性變差,用萬用表R×1k測,各PN結均正常,但上機后不能正常工作,如果用R×10或R×1低量程檔測,就會發(fā)現(xiàn)其PN結正向阻值比正常值大。測量二、三極管可以用指針萬用表在路測量,較準確的方法是:將萬用表置R×10或R×1檔(一般用R×10檔,不明顯時再用R×1檔)在路測二、三極管的PN結正、反向電阻,如果正向電阻不太大(相對正常值),反向電阻足夠大(相對正向值),表明該PN結正常,反之就值得懷疑,需焊下后再測。這是因為一般電路的二、三極管外圍電阻大多在幾百、幾千歐以上,用萬用表低阻值檔在路測量,可以基本忽略外圍電阻對PN結電阻的影響。
四、集成電路損壞的特點
集成電路內部結構復雜,功能很多,任何一部分損壞都無法正常工作。集成電路的損壞也有兩種:徹底損壞、熱穩(wěn)定性不良。徹底損壞時,可將其拆下,與正常同型號集成電路對比測其每一引腳對地的正、反向電阻,總能找到其中一只或幾只引腳阻值異常。對熱穩(wěn)定性差的,可以在設備工作時,用無水酒精冷卻被懷疑的集成電路,如果故障發(fā)生時間推遲或不再發(fā)生故障,即可判定。通常只能更換新集成電路來排除。
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一、電阻損壞的特點
電阻是電器設備中數(shù)量最多的元件,但不是損壞率最高的元件。電阻損壞以開路最常見,阻值變大較少見,阻值變小十分少見。常見的有碳膜電阻、金屬膜電阻、線繞電阻和保險電阻幾種。前兩種電阻應用最廣,其損壞的特點:一是低阻值(100Ω以下)和高阻值(100kΩ以上)的損壞率較高,中間阻值(如幾百歐到幾十千歐)的極少損壞;二是低阻值電阻損壞時往往是燒焦發(fā)黑,很容易發(fā)現(xiàn),而高阻值電阻損壞時很少有痕跡。線繞電阻一般用作大電流限流,阻值不大。圓柱形線繞電阻燒壞時有的會發(fā)黑或表面爆皮、裂紋,有的沒有痕跡。水泥電阻是線繞電阻的一種,燒壞時可能會斷裂,否則也沒有可見痕跡。保險電阻燒壞時有的表面會炸掉一塊皮,有的也沒有什么痕跡,但絕不會燒焦發(fā)黑。根據以上特點,在檢查電阻時可有所側重,快速找出損壞的電阻。
二、電解電容損壞的特點
電解電容在電器設備中的用量很大,故障率很高。電解電容損壞有以下幾種表現(xiàn):一是完全失去容量或容量變小;二是輕微或嚴重漏電;三是失去容量或容量變小兼有漏電。查找損壞的電解電容方法有:
?。?)看:有的電容損壞時會漏液,電容下面的電路板表面甚至電容外表都會有一層油漬,這種電容絕對不能再用;有的電容損壞后會鼓起,這種電容也不能繼續(xù)使用;
?。?)摸:開機后有些漏電嚴重的電解電容會發(fā)熱,用手指觸摸時甚至會燙手,這種電容必須更換;
?。?)電解電容內部有電解液,長時間烘烤會使電解液變干,導致電容量減小,所以要重點檢查散熱片及大功率元器件附近的電容,離其越近,損壞的可能性就越大。
三、 二/三極管等半導體器件損壞的特點
二、三極管的損壞一般是PN結擊穿或開路,其中以擊穿短路居多。此外還有兩種損壞表現(xiàn):一是熱穩(wěn)定性變差,表現(xiàn)為開機時正常,工作一段時間后,發(fā)生軟擊穿;另一種是PN結的特性變差,用萬用表R×1k測,各PN結均正常,但上機后不能正常工作,如果用R×10或R×1低量程檔測,就會發(fā)現(xiàn)其PN結正向阻值比正常值大。測量二、三極管可以用指針萬用表在路測量,較準確的方法是:將萬用表置R×10或R×1檔(一般用R×10檔,不明顯時再用R×1檔)在路測二、三極管的PN結正、反向電阻,如果正向電阻不太大(相對正常值),反向電阻足夠大(相對正向值),表明該PN結正常,反之就值得懷疑,需焊下后再測。這是因為一般電路的二、三極管外圍電阻大多在幾百、幾千歐以上,用萬用表低阻值檔在路測量,可以基本忽略外圍電阻對PN結電阻的影響。
四、集成電路損壞的特點
集成電路內部結構復雜,功能很多,任何一部分損壞都無法正常工作。集成電路的損壞也有兩種:徹底損壞、熱穩(wěn)定性不良。徹底損壞時,可將其拆下,與正常同型號集成電路對比測其每一引腳對地的正、反向電阻,總能找到其中一只或幾只引腳阻值異常。對熱穩(wěn)定性差的,可以在設備工作時,用無水酒精冷卻被懷疑的集成電路,如果故障發(fā)生時間推遲或不再發(fā)生故障,即可判定。通常只能更換新集成電路來排除。
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