引? 言?2
實(shí)驗(yàn)一　半導(dǎo)體激光器P-I特性參數(shù)測量?4
實(shí)驗(yàn)二　半導(dǎo)體光電檢測器參數(shù)測量?8
實(shí)驗(yàn)三　光纖無源器件參數(shù)測量?15
實(shí)驗(yàn)四　光纖時(shí)域反射測量(OTDR)?20
實(shí)驗(yàn)五　語音、圖像光纖傳輸及波分復(fù)用（WDM）?22
實(shí)驗(yàn)六　摻鉺光纖放大(EDFA)?25
實(shí)驗(yàn)七　光纖激光器參數(shù)測量?30
實(shí)驗(yàn)八　光纖光柵溫度傳感與測量?32
實(shí)驗(yàn)九　單模光纖損耗特性和截止波長測量?34
實(shí)驗(yàn)十　光纖色散測量?38
實(shí)驗(yàn)十一　光纖非彈性散射及喇曼放大(FRA)?41
實(shí)驗(yàn)十二　電吸收調(diào)制（EAM）?46
實(shí)驗(yàn)十三　半導(dǎo)體激光器光譜測量與模式分析?48
實(shí)驗(yàn)十四　光纖馬赫任德干涉測量?54
實(shí)驗(yàn)十五　液晶顯示器（LCD）電光特性曲線測量?57
實(shí)驗(yàn)十六　輝光放電與等離子體顯示（PDP）?62
實(shí)驗(yàn)十七　多堿光電陰極光譜響應(yīng)與極限電流密度測量?67
實(shí)驗(yàn)十八　微光像增強(qiáng)器電子透鏡調(diào)節(jié)與增益測量?71
實(shí)驗(yàn)十九　CCD信號采集與處理?75
實(shí)驗(yàn)二十　CCD光電攝像系統(tǒng)特性測量?79
實(shí)驗(yàn)二十一 陰極射線顯像管（CRT）電子聚焦與偏轉(zhuǎn)?83
實(shí)驗(yàn)二十二 MEMS微鏡與DLP投影?91
實(shí)驗(yàn)二十三 有機(jī)發(fā)光器件（OLED）參數(shù)測量?94