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?Wide range of current sensitivity
provides guaranteed atomic-
resolution imaging of conducting
surfaces
?Designed for imaging in ambi-
ent, controlled gas, or in a fluid
environment
?Top-down configuration protects
electronics and piezo elements
from damage caused by harsh
imaging environments
?Full compatibility with Agilent’s
modular AFM/SPM microscopes
offers simple upgrade path for
extended capabilities
?Easy fluid exchange permits
greater EC-STM versatility
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