針對(duì)CMOS集成電路的故障檢測(cè)，提出了一種簡(jiǎn)單的IDDQ靜態(tài)電流測(cè)試方法，并對(duì)測(cè)試電路進(jìn)行了設(shè)計(jì)。所設(shè)計(jì)的IDDQ電流測(cè)試電路對(duì)CMOS被測(cè)電路進(jìn)行檢測(cè)，通過觀察測(cè)試電路輸出的高低電平
2011-10-25 17:28:24
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針對(duì)近期iPhone6容易變彎的事實(shí)，蘋果罕有的向外媒開放了測(cè)試工廠，展示了整個(gè)測(cè)試環(huán)節(jié)。繼此前發(fā)布聲明之后再向外媒展示測(cè)試環(huán)節(jié)的時(shí)候蘋果再次強(qiáng)調(diào)iPhone6是非常堅(jiān)固的產(chǎn)品。##蘋果罕見地向外媒開放測(cè)試工廠。##iPhone6測(cè)試過程圖解。
2014-09-28 10:43:139577 示教器的使用環(huán)境通常是電磁干擾、溫濕度變化、灰塵覆蓋等多變的工業(yè)場(chǎng)所，同時(shí)示教器作為手持操作裝置，也存在脫手跌落、振動(dòng)沖擊等可能性。那么示教器該如何應(yīng)對(duì)？ZTP800示教器的開發(fā)測(cè)試過程告訴你
2023-07-01 10:01:291249 
，基于靜態(tài)電流(IDDQ)的測(cè)試方法被廣泛使用。然而，隨著深亞微米技術(shù)時(shí)代的到來，總的靜態(tài)漏電流急劇增加，IDDQ測(cè)試技術(shù)受到嚴(yán)峻挑戰(zhàn)，因此，需要尋找新的測(cè)試技術(shù)，而瞬態(tài)電流測(cè)試技術(shù)提供一個(gè)很好的替代或補(bǔ)充。這種測(cè)試方法能夠檢測(cè)傳統(tǒng)測(cè)試和IDDQ測(cè)試所不能檢測(cè)的缺陷。
2019-09-18 07:31:31
在雙極測(cè)試過程中經(jīng)常出現(xiàn)表面打火，將芯片表面的雙極擊穿了，測(cè)試電壓在600--800v.請(qǐng)問哪位大俠有解決的方法嗎？
2012-09-12 21:41:51
哪位達(dá)人遇到過 封裝后FT測(cè)試 IDDQ失效的， 那些IC在CP的時(shí)候是pass的。有哪些失效機(jī)理？如何排查？多謝！
2012-01-27 22:58:11
哪位達(dá)人遇到過 封裝后FT測(cè)試 IDDQ失效的， 那些IC在CP的時(shí)候是pass的。有哪些失效機(jī)理？如何排查？多謝！{:2:}
2012-01-27 22:56:09
測(cè)試過程中，發(fā)現(xiàn)阻抗變化比較大，有時(shí)候是40mΩ，有的時(shí)候顯示70mΩ，感覺差別比較大，不知道是什么原因
2024-08-20 06:56:02
請(qǐng)教一下，如何使用LABVIEW獲取 Keithley SMU2600系列源表的緩存信息？目前局限于讀取速度，從源表實(shí)時(shí)讀取只能達(dá)到每秒42個(gè)數(shù)據(jù)左右的采樣頻率，搜索看到有人做到直接從源表的緩存讀取了信息，達(dá)到了目前采樣頻率5倍左右，請(qǐng)問是如何做到的？因?yàn)槭切伦?cè)進(jìn)來的沒有積分，還請(qǐng)大家諒解。
2018-04-18 17:28:33
MDO MSO DPO2000/3000/4000系列示波器，開發(fā)一個(gè)自動(dòng)化測(cè)試項(xiàng)目。該項(xiàng)目旨在自動(dòng)化執(zhí)行一系列電子信號(hào)的捕獲、分析和報(bào)告生成，提高測(cè)試過程的效率和準(zhǔn)確性。
項(xiàng)目的核心在于實(shí)現(xiàn)測(cè)試流程
2023-12-09 20:37:39
MFRC522與單片機(jī)測(cè)試過程代碼，#include #include#include #include “main.h”#include “mfrc522.h”unsigned char code
2021-07-14 07:22:07
Converter單件開發(fā)及整車開發(fā)測(cè)試過程中，都需要對(duì)其進(jìn)行功能和性能方面進(jìn)行全面的測(cè)試。目前，很多客戶將OBC充電、OBC放電、DC-DC Converter（以下簡(jiǎn)稱DCDC）功能集成到一起，暫且將
2021-09-17 08:09:36
我這邊測(cè)試出現(xiàn)這個(gè)情況：采用STM32F103VET6芯片，整個(gè)板子正常工作時(shí)電流為20mA; 在重復(fù)上電測(cè)試過程中，出現(xiàn)過整個(gè)板子工作電流在40-50mA,不等情況，在這個(gè)情況下，有部分功能不能正常工作。 出現(xiàn)頻率大約在30次中出現(xiàn)個(gè)一二次的樣子。
2019-02-27 09:47:25
開發(fā)的示例教程,包含源代碼,實(shí)際編譯測(cè)試過,實(shí)現(xiàn)u***口鼠標(biāo)的功能
2009-08-05 20:35:23
初學(xué)labview，目標(biāo)是編寫程序控制keithley2600系列測(cè)量輸出曲線和轉(zhuǎn)移曲線，不知從哪里入手，求大大們提供思路！
2019-11-11 15:21:03
與測(cè)試過程。同時(shí)也可以驗(yàn)證已經(jīng)搭建好的交叉編譯環(huán)境是否成功，用搭建好的交叉編譯環(huán)境編譯出的應(yīng)用程序能否在Rico Board運(yùn)行成功。完成的目標(biāo)： 交叉編譯自己的應(yīng)用程序，同時(shí)在Rico Board上運(yùn)行
2016-12-07 20:04:14
TSPExpress軟件工具使用戶無需編程或者安裝軟件即可快速而方便地進(jìn)√行常見的I-V測(cè)試。對(duì)于系統(tǒng)級(jí)應(yīng)用，2600A系列的測(cè)試腳本處理器（TSP）架構(gòu)以及√并行測(cè)執(zhí)行、精確定時(shí)等新功能實(shí)現(xiàn)了業(yè)界高的測(cè)試產(chǎn)能，而且
2018-11-09 11:30:30
本文簡(jiǎn)要介紹了2600B系列數(shù)字源表源測(cè)量單元（SMU）儀表。
2021-05-10 06:13:27
本文介紹了基于2600系列的IDDQ測(cè)試過程與功能實(shí)現(xiàn)。
2021-05-07 06:25:08
、場(chǎng)效應(yīng)管FET測(cè)試、CMOS 集成電路和電子產(chǎn)品測(cè)量靜態(tài)電流（漏電流 IDDQ 測(cè)試）、三極管測(cè)試等。4、兼容的部分儀器型號(hào) 可對(duì)吉時(shí)利2600系列雙通道源表全面兼容◆Keithley2600系列
2023-03-10 17:37:05
TSPExpress軟件工具使用戶無需編程或者安裝軟件即可快速而方便地進(jìn)√行常見的I-V測(cè)試。對(duì)于系統(tǒng)級(jí)應(yīng)用，2600A系列的測(cè)試腳本處理器（TSP）架構(gòu)以及√并行測(cè)執(zhí)行、精確定時(shí)等新功能實(shí)現(xiàn)了業(yè)界高的測(cè)試
2018-11-18 10:38:08
如何在RK3399 Android8.1上實(shí)現(xiàn)APK靜默安裝功能呢？其測(cè)試過程是如何去實(shí)現(xiàn)的呢？
2022-02-15 07:01:24
如何對(duì)IDDQ進(jìn)行測(cè)試？
2021-05-11 06:52:50
功能測(cè)試報(bào)告是指對(duì)軟件產(chǎn)品或者程序的各項(xiàng)功能進(jìn)行檢測(cè)，將測(cè)試過程和測(cè)試結(jié)果寫成文檔，對(duì)測(cè)試過程中發(fā)現(xiàn)的問題進(jìn)行分析，為之后的修復(fù)及bug管理提供依據(jù)。功能測(cè)試是軟件測(cè)試門類中的一項(xiàng)基礎(chǔ)測(cè)試，但是
2022-06-28 18:14:08
混合設(shè)計(jì)芯片iddq測(cè)試怎么設(shè)計(jì)？
2022-12-12 03:10:56
靈動(dòng)微MCU測(cè)試過程中確保頻率校準(zhǔn)方法
2020-12-31 06:55:28
我最近在用vca821做測(cè)試，發(fā)現(xiàn)測(cè)試過程中芯片會(huì)發(fā)燙，但是工作狀態(tài)似乎有是正常的。請(qǐng)問這是什么原因呢？
2024-08-23 08:18:03
我們的電路板出現(xiàn)了問題，在定位問題的過程中通常會(huì)用到萬用表、示波器等測(cè)試工具，這些設(shè)備在測(cè)試過程中自身的阻抗是需要考慮的，比如在測(cè)電流的時(shí)候要考慮萬用表自身的電阻，示波器探頭自身的電阻，下面就是一個(gè)
2022-01-11 07:52:05
mm適用行業(yè):涂料 塑膠 檢測(cè)機(jī)構(gòu) 電子電器------------------------------------------美能達(dá)CM-2600d分光測(cè)色計(jì)主要功能1111.可同時(shí)測(cè)量SCI(含反射
2019-12-19 14:42:35
各位大俠們好，新手請(qǐng)教問題，最近有個(gè)項(xiàng)目：測(cè)試分析一個(gè)工件周期性往復(fù)運(yùn)動(dòng)，擬合運(yùn)動(dòng)過程的位移與壓力相關(guān)曲線；整個(gè)測(cè)試過程工件會(huì)有多次往復(fù)，預(yù)想選取中間的幾次往復(fù)運(yùn)行，取平均后擬合（或者擬合后平均），該如何實(shí)現(xiàn)？
2019-02-21 15:19:51
迅為RK3399開發(fā)板外接固態(tài)硬盤測(cè)試過程是怎樣的？
2022-03-07 07:47:11
軟件即可快速而方便地進(jìn)行常見的I-V測(cè)試。對(duì)于系統(tǒng)級(jí)應(yīng)用，2600A系列的測(cè)試腳本處理器（TSP）架構(gòu)以及并行測(cè)試執(zhí)行、精確定時(shí)等新功能實(shí)現(xiàn)了業(yè)界最高的測(cè)試產(chǎn)能，而且降低了測(cè)試成本。2600A系列數(shù)字
2020-06-03 17:52:05
本文簡(jiǎn)單介紹了相位噪聲的定義，詳細(xì)介紹了附加相位噪聲的測(cè)試過程，給出了實(shí)際的測(cè)試結(jié)果，指出了附加相位噪聲測(cè)試過程中的一些注意事項(xiàng)，希望對(duì)附加相位噪聲測(cè)試人員有一定的借鑒意義。
2021-05-11 06:50:14
提出一種Web服務(wù)安全性測(cè)試框架，能有效規(guī)范安全性測(cè)試過程，增強(qiáng)測(cè)試效能。針對(duì)Web服務(wù)安全功能測(cè)試需求定義與測(cè)試策劃階段，分析Web服務(wù)主要的安全功能需求、實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)及實(shí)
2009-04-10 08:37:54
16 系統(tǒng)測(cè)試是軟件開發(fā)過程中的重要環(huán)節(jié)，系統(tǒng)測(cè)試過程的動(dòng)態(tài)模型有助于更好地理解和分析系統(tǒng)行為，做出正確的判斷和決策；相對(duì)于已有的軟件測(cè)試模型，通過對(duì)錯(cuò)誤發(fā)現(xiàn)效率的
2009-07-16 11:58:558 簡(jiǎn)化Xilinx和Altera FPGA調(diào)試過程:通過FPGAViewTM 解決方案，如混合信號(hào)示波器(MSO)和邏輯分析儀，您可以在Xilinx 和Altera FPGA 內(nèi)部迅速移動(dòng)探點(diǎn)，而無需重新編譯設(shè)計(jì)方案。能夠把內(nèi)部FPGA
2009-11-20 17:46:2627 2600A系列數(shù)字源表使用手冊(cè)
2600A系列數(shù)字源表是吉時(shí)利最新的I-V源測(cè)量?jī)x器，可用作臺(tái)式I-V特征分析工具或者構(gòu)成多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)的組成模塊。作為臺(tái)式儀器
2010-03-16 15:12:2432 調(diào)試過程中所看到的一些異?，F(xiàn)象，以及后來的解決辦法。其實(shí)很多工程師認(rèn)為設(shè)計(jì)電源是非常重經(jīng)驗(yàn)的一門技術(shù)，要見多識(shí)廣。這種經(jīng)
2010-10-09 10:49:181955 IDDQ (即靜態(tài)電源電流) 測(cè)試是近幾年來國(guó)外比較流行的CMOS 集成電路測(cè)試技術(shù)。IDDQ 測(cè)試能夠檢測(cè)出傳統(tǒng)的固定值故障電壓測(cè)試(即SAF 功能測(cè)試) 所無法檢測(cè)的CMOS 集成電路內(nèi)部的缺陷(如氧
2011-05-20 16:38:2845 文章簡(jiǎn)要介紹靜電產(chǎn)生原理及其危害，詳細(xì)分析TDR儀器主體結(jié)構(gòu)及測(cè)試過程靜電危害，針對(duì)靜電產(chǎn)生環(huán)節(jié)采取預(yù)防措施，并初步取得成效。
2011-12-16 11:24:434181 
吉時(shí)利儀器公司(NYSE:KEI)發(fā)布了其2600系列SourceMeter; 數(shù)字源表的兩款新產(chǎn)品2635和2636，自此形成業(yè)界技術(shù)最先進(jìn)、效費(fèi)比最高的半導(dǎo)體參數(shù)分析與測(cè)試解決方案。2635和2636采用最新特殊參數(shù)
2012-04-23 09:20:482139 2600B系列系統(tǒng)數(shù)字源表源測(cè)量單元儀表是業(yè)界一流的電流/電壓源與測(cè)量解決方案，它是利用吉時(shí)利第三代源測(cè)量單元技術(shù)建造的，包括單通道和雙通道型號(hào)，集成了高精密電源、真正電流源、6位半數(shù)字多用表、任意
2015-05-25 19:50:47121 ACM四軸 安裝調(diào)試過程
此教程主要講解軟件調(diào)試
首先要確認(rèn)自己想飛哪種模式，X還是十模式
根據(jù)自己的飛行模式插好線
本章以X模式為例
2015-11-03 10:23:216 TPC-1008-N2600(雙核系列)，工業(yè)電腦，觸摸屏，適合小型開發(fā)，TPC-1008-N2600(雙核系列)
2016-02-25 11:34:501 NetApp_FAS2600系列混合存儲(chǔ)系統(tǒng)
2016-12-29 12:01:010 在工業(yè)軟件的用戶生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試中，可能由于操作風(fēng)險(xiǎn)、用戶生產(chǎn)限制等約束而導(dǎo)致測(cè)試不充分，針對(duì)實(shí)踐中的難點(diǎn)提出新的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試過程及其測(cè)試數(shù)據(jù)生成方法。定義了測(cè)試拆分子集及相關(guān)屬性概念，根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)因素
2017-11-30 10:08:530 摘要：針對(duì)CMOS集成電路的故障檢測(cè)，提出了一種簡(jiǎn)單的IDDQ靜態(tài)電流測(cè)試方法，并對(duì)測(cè)試電路進(jìn)行了設(shè)計(jì)。所設(shè)計(jì)的IDDQ電流測(cè)試電路對(duì)CMOS被測(cè)電路進(jìn)行檢測(cè)，通過觀察測(cè)試電路輸出的高低電平可知被
2017-12-04 02:17:031503 根據(jù)壓力傳感器的實(shí)際測(cè)試過程中的各個(gè)環(huán)節(jié)已經(jīng)或可能產(chǎn)生的影響，獲取壓力傳感器真實(shí)性能輸出數(shù)據(jù)的因素，采用可靠性的分析方法對(duì)其進(jìn)行分析；提示了測(cè)試過程中影響傳感器輸出的規(guī)律，減小傳感器因在測(cè)試過程中產(chǎn)生的誤差；并為深入研究壓力傳感器提供一條新的思路，為研究新的壓力傳感器提供一定的理論依據(jù)。
2018-01-18 11:21:594359 
所有的完美程序都不可能一蹴而就，都需要經(jīng)過不斷的測(cè)試與調(diào)試；LabVIEW作為圖形化的編程環(huán)境，除了可以像文本編程語言那樣使用單步、變量窗口等方式外，還提供了更為高效的一系列調(diào)試工具，助您在最短的時(shí)間內(nèi)找到程序的紕漏！
2018-06-26 02:56:005858 總的來講，單片機(jī)調(diào)試是單片機(jī)開發(fā)工作必不可少的環(huán)節(jié)。不管你愿不愿意，調(diào)試過程中總會(huì)有各種不期而遇的問題出現(xiàn)在我們面前來磨礪我們。這里分享幾點(diǎn)STM32調(diào)試過程中與開發(fā)工具及IDE有關(guān)的幾個(gè)常見問題，以供參考。
2019-01-21 13:50:586077 對(duì)于不同的行業(yè)的發(fā)展過程。其實(shí)在進(jìn)行著不同的系統(tǒng)的檢測(cè)過程中，來進(jìn)行著商品的有效性處理過程，以及新的工程化的處理，都是會(huì)得到更加有效的工程化變化過程，來進(jìn)行著更好的功能的實(shí)現(xiàn)。那么在進(jìn)行著不同的檢測(cè)
2019-03-11 11:11:48328 直接匹配阻抗，天線與射頻芯片在同一塊板子，調(diào)試步驟與50歐姆阻抗匹配調(diào)試天線參數(shù)差不多，多了一部分射頻芯片端的濾波部分的參數(shù)計(jì)算。下面介紹調(diào)試過程。
2019-10-03 16:18:0010449 
在最原始的測(cè)試過程中，對(duì)集成電路（IntegratedCircuit,IC）的測(cè)試是依靠有經(jīng)驗(yàn)的測(cè)試人員使用信號(hào)發(fā)生器、萬用表和示波器等儀器來進(jìn)行測(cè)試的。
2019-09-19 14:56:071240 本文檔的主要內(nèi)容詳細(xì)介紹的是摩托羅拉R2600系列通信測(cè)試儀對(duì)講機(jī)簡(jiǎn)單測(cè)試方法與步驟。
2019-11-11 08:00:0019 部分動(dòng)力電池企業(yè)將電池送外檢測(cè)，不同結(jié)構(gòu)給出的結(jié)果往往也存在差異，更別提測(cè)試過程出現(xiàn)的各種數(shù)據(jù)波動(dòng)等異常。
2019-12-02 17:19:267250 
六線制稱重傳感器在測(cè)試過程中的需要注意的地方， 六線制稱重傳感器實(shí)際上是一種將質(zhì)量信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)榭蓽y(cè)量的電信號(hào)輸出的裝置。 用傳感器應(yīng)先要考慮傳感器所處的實(shí)際工作環(huán)境，這點(diǎn)對(duì)正確選用稱重傳感器至關(guān)重要
2020-08-25 15:50:491598 典型的電池充放電測(cè)試應(yīng)包括程控電源、電子負(fù)載、電壓表、電流表。而Keithley吉時(shí)利2400系列數(shù)字源表由于可激勵(lì)并測(cè)試電流和電壓，故僅一臺(tái)儀器便可完成測(cè)試過程，從而節(jié)省了空間和編程時(shí)間。
2020-10-13 09:46:492843 本文檔的主要內(nèi)容詳細(xì)介紹的是芯片IDDQ測(cè)試的詳細(xì)資料說明包括了：?為什么需要IDDQ的測(cè)試？ ?IDDQ測(cè)試原理 ?IDDQ測(cè)試應(yīng)用與結(jié)構(gòu)
2020-12-01 08:00:0010 2600A系列數(shù)字源表以性能的擴(kuò)展替代受歡迎的2600系列數(shù)字源表。因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">2600A系列提供后向代碼兼容至2600系列，所以客戶能用2600A系列簡(jiǎn)易替換2600系列。
2020-12-02 09:45:041231 ，都會(huì)給客戶配一份防塵試驗(yàn)箱操作說明書的。 下面就給大家分享一下，關(guān)于防塵試驗(yàn)箱的測(cè)試過程： 1、如果被檢測(cè)樣品需要“初始測(cè)量”，那么就應(yīng)該按照相關(guān)規(guī)定在防塵試驗(yàn)箱啟動(dòng)前進(jìn)行測(cè)量。 2、如果被檢測(cè)樣品的體積很大，無
2021-10-14 11:24:50990 N2600系列高精密數(shù)字源表（SMU）是NGI針對(duì)要求緊密結(jié)合源和測(cè)量的測(cè)試場(chǎng)景而研發(fā)的專用儀器，可四象限運(yùn)行。同時(shí)具備超高精度、穩(wěn)定的電壓源和電流源和高精度6位半萬用表。電源輸出精度高、響應(yīng)速度快、信號(hào)純凈、紋波噪聲低；萬用表功能測(cè)量精準(zhǔn)，可重復(fù)性高。
2021-05-27 10:40:331500 
手動(dòng)撕破強(qiáng)度測(cè)試儀詳細(xì)介紹-上海程斯 測(cè)試過程 試樣用儀器所提供的切刀切成如 British, APPITA SCAN 方法為 50 x 62mm，實(shí)際撕裂長(zhǎng)度為 43mm(比原始切口 62mm 少
2021-06-18 11:50:051037 , 由于很多細(xì)節(jié)沒有說明, 用戶使用過程可能出錯(cuò). 這里將結(jié)合TI CC1310 SDK 1.60.00.21 版本(http://www.ti.com.cn/tool/cn/simplelink-cc13x0-sdk), 講解在工程編譯和OAD測(cè)試過程中的注意事項(xiàng)…
2021-12-14 15:36:271720 S7-1200系列PLC調(diào)試過程小結(jié)
2021-12-20 09:25:023 自定義的自動(dòng)化測(cè)試，捕獲和記錄示波器的測(cè)量數(shù)據(jù)，并導(dǎo)出結(jié)果進(jìn)行離線分析。下面納米軟件Namisoft詳細(xì)為大家分享一下具體的示波器數(shù)據(jù)采集分析測(cè)試過程吧。
2022-05-11 10:45:502767 
系統(tǒng)測(cè)試是為了發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤而執(zhí)行程序的過程，成功的測(cè)試是發(fā)現(xiàn)了至今尚未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤的測(cè)試。目的是在真實(shí)系統(tǒng)工作環(huán)境下通過與系統(tǒng)的需求定義作比較，檢驗(yàn)完整的軟件配置項(xiàng)能否和系統(tǒng)正確連接，發(fā)現(xiàn)軟件與系統(tǒng)
2022-11-19 09:58:171306 本篇只是簡(jiǎn)單分享平常筆者滲透測(cè)試過程中所使用的抓包方法，后面會(huì)繼續(xù)更新其他以及安卓端的抓包方法，比較適合沒理解過這方面的新手作參考。
2023-02-01 15:41:512646 ■?■ 通信、人工智能、云計(jì)算、智能終端等產(chǎn)品功能越來越強(qiáng)大、電路也越來越復(fù)雜，在這些產(chǎn)品的測(cè)試過程中，往往需要多路的供電。與此同時(shí)，每個(gè)供電通道的電壓和電流規(guī)格各異，上電或下電過程電壓斜率、時(shí)序
2023-02-15 16:25:041673 。 ◆NS-SourceMeter源表程控軟件由計(jì)算機(jī)和源表組成，通過計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)源表的控制，進(jìn)行相應(yīng)的配置后，使用源表測(cè)量相應(yīng)參數(shù)，并進(jìn)行保存和導(dǎo)出。 2、軟件特點(diǎn) ◆系統(tǒng)兼容吉時(shí)利源表中2600 系列（雙通道）； ◆系統(tǒng)為源表提供 USB、RS232、LAN 或者 GPIB 的連接方式； ◆
2023-03-10 17:40:461454 
保存。 ◆NS-SourceMeter源表程控軟件由計(jì)算機(jī)和源表組成，通過計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)源表的控制，進(jìn)行相應(yīng)的配置后，使用源表測(cè)量相應(yīng)參數(shù)，并進(jìn)行保存和導(dǎo)出。 2、軟件特點(diǎn) ◆系統(tǒng)兼容吉時(shí)利源表中2600 系列（雙通道）； ◆系統(tǒng)為源表提供 USB、RS232、LAN 或者 GPIB 的連接方
2023-03-13 17:54:002287 
。 ◆NS-SourceMeter源表程控軟件由計(jì)算機(jī)和源表組成，通過計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)源表的控制，進(jìn)行相應(yīng)的配置后，使用源表測(cè)量相應(yīng)參數(shù)，并進(jìn)行保存和導(dǎo)出。 2、軟件特點(diǎn) ◆系統(tǒng)兼容吉時(shí)利源表中2600 系列（雙通道）； ◆系統(tǒng)為源表提供 USB、RS232、LAN 或者 GPIB 的連接方式； ◆
2023-03-10 17:56:221420 
H8S/2600系列 H8S/2000系列軟件手冊(cè)
2023-05-08 20:19:521 點(diǎn)擊上方藍(lán)字關(guān)注我們防靜電ESD測(cè)試過程展示本期內(nèi)容為ESD的測(cè)試過程，先來看一下規(guī)格書中有哪些參數(shù)VRWM和IT是固定的，可用作設(shè)置參考，所以我們要測(cè)試的就是VBIPPVCIRC和VESD。測(cè)試前
2021-09-30 17:18:582977 
成品測(cè)試主要是指晶圓切割變成芯片后，針 對(duì)芯片的性能進(jìn)行最終測(cè)試，需要使用的設(shè)備主要為測(cè)試機(jī)和分選機(jī)。晶圓測(cè)試（Chip Probing），簡(jiǎn)稱 CP 測(cè)試，是指通過探針臺(tái)和測(cè)試機(jī)的配合使用，對(duì)晶圓 上的裸芯片（gross die）進(jìn)行功能和電學(xué)性能參數(shù)的測(cè)試。
2023-06-25 12:26:503480 
H8S/2600系列 H8S/2000系列軟件手冊(cè)
2023-06-27 19:59:341 示教器的使用環(huán)境通常是電磁干擾、溫濕度變化、灰塵覆蓋等多變的工業(yè)場(chǎng)所，同時(shí)示教器作為手持操作裝置，也存在脫手跌落、振動(dòng)沖擊等可能性。那么示教器該如何應(yīng)對(duì)？ZTP800示教器的開發(fā)測(cè)試過程告訴你
2023-06-30 11:40:021085 
工業(yè)交換機(jī)在出廠前要經(jīng)過哪些測(cè)試呢？測(cè)試過程又是怎么樣的呢？主要是工業(yè)交換機(jī)性能檢驗(yàn)和可靠性檢驗(yàn)，又包括了電阻檢驗(yàn)、電容耐壓測(cè)試、電源功率測(cè)試、線材、模塊、電纜、網(wǎng)卡數(shù)據(jù)流量性能測(cè)試、高低溫耐沖擊
2023-07-07 11:03:391285 
測(cè)試新唐nuc980串口功能的過程
2023-09-04 16:07:372626 
基于以上的信號(hào)分類，印制電路板的測(cè)試過程可簡(jiǎn)單歸納為激勵(lì)和響應(yīng)的過程，即在印制電路板的測(cè)試過程中，在適當(dāng)?shù)臅r(shí)刻在適當(dāng)?shù)墓?jié)點(diǎn)施加適當(dāng)?shù)募?lì)，然后在適當(dāng)?shù)臅r(shí)刻在適當(dāng)?shù)墓?jié)點(diǎn)抄板檢測(cè)響應(yīng)并作出判斷， 判斷此響應(yīng)是否與預(yù)期的響應(yīng)一致
2023-10-31 15:16:18744 Air780EG使用EVB_Air780X_V1.7開發(fā)板，借助串口調(diào)試助手與EVB_Air780X_V1.7對(duì)接，通過AT命令控制HTTP對(duì)接百度紅綠燈API。本文是對(duì)這個(gè)測(cè)試過程的總結(jié)。EVB_Air780X_V1.7獲取百度紅綠燈信息示例
2023-06-30 11:48:172 如何解決車載部品測(cè)試過程中峰值電流不足的問題？ 隨著汽車電子系統(tǒng)的不斷發(fā)展和普及，車載部品的測(cè)試過程變得更加復(fù)雜和嚴(yán)峻。其中一個(gè)常見的問題是峰值電流不足。峰值電流不足可能導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確、設(shè)備損壞
2023-11-23 10:33:051149 功能測(cè)試和接口測(cè)試是軟件測(cè)試的兩個(gè)重要方面，它們?cè)诖_保軟件質(zhì)量和性能方面發(fā)揮著關(guān)鍵作用。本文將詳細(xì)介紹功能測(cè)試和接口測(cè)試的區(qū)別，以及它們?cè)谲浖?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試過程中的重要性。 一、功能測(cè)試 功能測(cè)試是軟件測(cè)試
2024-05-29 16:02:402080 功能測(cè)試覆蓋是軟件測(cè)試過程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)，它主要關(guān)注軟件產(chǎn)品的功能實(shí)現(xiàn)是否符合需求規(guī)格說明。在功能測(cè)試覆蓋中，有多種方法可以采用，以確保測(cè)試的全面性和有效性。本文將詳細(xì)介紹功能測(cè)試覆蓋中最
2024-05-30 14:55:371683 、強(qiáng)度、剛度、穩(wěn)定性等，可以精確地控制產(chǎn)品質(zhì)量。本篇解決方案將介紹RIGOL產(chǎn)品在材料應(yīng)力測(cè)試過程中的應(yīng)用。
2024-07-12 17:01:421246 
單片機(jī)基本IO功能的調(diào)試過程涉及多個(gè)步驟，旨在確保IO口能夠正確地執(zhí)行輸入和輸出操作。以下是一個(gè)調(diào)試過程，涵蓋了從準(zhǔn)備階段到實(shí)際測(cè)試的關(guān)鍵步驟： 一、準(zhǔn)備階段 確定單片機(jī)型號(hào)和IO口 ： 首先，明確
2024-09-14 14:38:352136 在測(cè)試過程中，防止電池?cái)D壓試驗(yàn)機(jī)故障率的關(guān)鍵在于設(shè)備的使用、維護(hù)和保養(yǎng)。以下是一些具體的方法和建議： 一、正確使用設(shè)備 熟悉操作規(guī)程 · 操作人員必須熟讀并理解電池?cái)D壓試驗(yàn)機(jī)的操作規(guī)程和使用說明
2025-01-10 08:55:34649 
在現(xiàn)代電子測(cè)量領(lǐng)域，多設(shè)備協(xié)同測(cè)試已成為半導(dǎo)體研發(fā)、自動(dòng)化生產(chǎn)等場(chǎng)景的標(biāo)配。吉時(shí)利2600系列數(shù)字源表憑借其觸發(fā)同步功能，為復(fù)雜測(cè)試系統(tǒng)提供了納秒級(jí)時(shí)序控制能力。本文將系統(tǒng)解析該功能的配置方法，幫助
2025-12-01 16:25:49122 
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