LabVIEW 程序調(diào)試與測(cè)試過(guò)程
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?? 本合集的是我當(dāng)初調(diào)試 RK3588 平臺(tái)時(shí)的 原始筆記 ——只保留了那些踩過(guò)坑的問(wèn)題接口，沒(méi)出過(guò)問(wèn)題的內(nèi)容全刪掉了。文章框架如下： 其中， “調(diào)試過(guò)程” 章節(jié)可能有點(diǎn)意思（記錄了我踩過(guò)的坑
BSP調(diào)試#04：HDMI TX（RK3588）
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BSP 調(diào)試：前言
RK3588 平臺(tái)時(shí)的 原始筆記 ——只保留了那些踩過(guò)坑的問(wèn)題接口，沒(méi)出過(guò)問(wèn)題的內(nèi)容全刪掉了。?? 加上，調(diào)試 RK3588 那會(huì)我已經(jīng)不再是新手，因此合集《BSP調(diào)試(RK3588)》中的廢話相比前面合集少很多，直接就是 硬件設(shè)計(jì)、軟件配置、
【乾芯QXS320F開(kāi)發(fā)板試用】ipc核間通信測(cè)試過(guò)程
程序停在開(kāi)啟核1時(shí)鐘后，暫停再開(kāi)始調(diào)試核1.
對(duì)核1進(jìn)行調(diào)試，全速運(yùn)行核1，在核0此處打斷點(diǎn)，后全速運(yùn)行核0，
單步運(yùn)行可得到測(cè)試結(jié)果另外還有很多等待挖掘的好玩法，比如說(shuō)：htt
發(fā)表于 12-10 16:10
CPU的幾種復(fù)位方式適合哪些場(chǎng)景？
時(shí)，如調(diào)試過(guò)程中或系統(tǒng)更新后；
4、硬件復(fù)位
適用場(chǎng)景：系統(tǒng)出現(xiàn)嚴(yán)重錯(cuò)誤，軟件復(fù)位無(wú)法解決問(wèn)題時(shí)，或需外部硬件干預(yù)進(jìn)行系統(tǒng)復(fù)位；
5、JTAG復(fù)位
適用場(chǎng)景：在調(diào)試或測(cè)試過(guò)程中，需精確控制復(fù)位
發(fā)表于 11-27 07:56
閃燈程序的構(gòu)建與調(diào)試
在上一篇文章中我們成功了搭建了環(huán)境，那么接下來(lái)就用閃燈程序來(lái)認(rèn)識(shí)一下編譯和調(diào)試工具吧！
CUBEIDE調(diào)試過(guò)程中，如何將數(shù)組仲的數(shù)據(jù)拷貝到電腦？
請(qǐng)問(wèn)，有什么辦法可以在CUBEIDE 調(diào)試過(guò)程中，將數(shù)組的數(shù)據(jù)拷貝到電腦上去？
發(fā)表于 09-09 07:20
除了LabVIEW還有哪些自動(dòng)化測(cè)試的軟件？
，它們?cè)诟髯陨瞄L(zhǎng)的領(lǐng)域中有著獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)。 labview Intouch，一種工業(yè)自動(dòng)化組態(tài)軟件。由 Wonderware 公司開(kāi)發(fā)。 InTouch HMI 軟件用于可視化和控制工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程。它為工程師提供了一種易用的開(kāi)發(fā)環(huán)境和廣泛的功能，使工程師能夠快速地建立、
調(diào)試工具：Eclipse調(diào)試工具欄與窗口的深入分析
摘要 ：在嵌入式系統(tǒng)開(kāi)發(fā)領(lǐng)域，高效的調(diào)試工具鏈對(duì)于項(xiàng)目的成功實(shí)施具有決定性意義。本文聚焦于 Eclipse 調(diào)試工具欄與窗口的功能特性，深入剖析其在嵌入式開(kāi)發(fā)調(diào)試過(guò)程中的關(guān)鍵作用。以廈門(mén)國(guó)科安芯
智多晶XSBERT讓高速串行接口調(diào)試化繁為簡(jiǎn)
高速串行接口（如PCIe、以太網(wǎng)、HDMI等）是芯片設(shè)計(jì)的“高速公路”，但調(diào)試過(guò)程卻常讓人抓狂——信號(hào)質(zhì)量差、誤碼率高、眼圖模糊……耗時(shí)耗力的測(cè)試流程，是否讓你無(wú)數(shù)次想對(duì)屏幕喊“太難了”？
LabVIEW的詳細(xì)簡(jiǎn)介和應(yīng)用（文末免費(fèi)分享LabVIEW相關(guān)資料合集）
LabVIEW是一種程序開(kāi)發(fā)環(huán)境，由美國(guó)國(guó)家儀器（NI）公司研制開(kāi)發(fā)，類(lèi)似于C和BASIC開(kāi)發(fā)環(huán)境，但是LabVIEW與其他計(jì)算機(jī)語(yǔ)言的顯著區(qū)別是：其他計(jì)算機(jī)語(yǔ)言都是采用基于文本的語(yǔ)言產(chǎn)生代碼，而
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通過(guò)LabVIEW調(diào)試ZMC432CL-V2的脈沖閉環(huán)功能
RISC-V JTAG：開(kāi)啟MCU 芯片調(diào)試之旅
在當(dāng)今電子科技飛速發(fā)展的時(shí)代， MCU 芯片成為眾多企業(yè)追求技術(shù)突破與創(chuàng)新的關(guān)鍵領(lǐng)域。而芯片的調(diào)試過(guò)程則是確保其性能與可靠性的重要環(huán)節(jié)。本文以國(guó)科安芯自研 AS32A601為例，旨在詳細(xì)記錄
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