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關(guān)于FPGA的誤碼測(cè)試儀研究與設(shè)計(jì)

電子工程師 ? 來(lái)源:微型機(jī)與應(yīng)用 ? 作者:張強(qiáng);彭向偉 ? 2021-04-22 15:01 ? 次閱讀
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摘 要: 誤碼率是反映數(shù)據(jù)傳輸設(shè)備及其信道工作質(zhì)量的一個(gè)重要指標(biāo)。作為通信系統(tǒng)的可靠性測(cè)量工具,誤碼測(cè)試儀廣泛地應(yīng)用于通信設(shè)備的生產(chǎn)調(diào)試、檢驗(yàn)以及日常維護(hù)等方面。在對(duì)傳統(tǒng)誤碼儀設(shè)計(jì)的研究和分析之后,研究并設(shè)計(jì)了一種基于FPGA的誤碼測(cè)試儀,詳細(xì)地分析和介紹了各個(gè)模塊的工作原理。

隨著科技的發(fā)展,信息通信已成為人們?nèi)粘I钪斜夭豢缮俚囊徊糠帧?shù)字通信因其抗干擾能力強(qiáng)、通信質(zhì)量不受距離的影響、通信保密性好等特點(diǎn)而得到廣泛應(yīng)用和迅速發(fā)展[1]。與此同時(shí),數(shù)字通信的傳輸可靠性就尤為重要了,而誤碼測(cè)試儀作為評(píng)估數(shù)據(jù)傳輸通道質(zhì)量的重要工具被廣泛地應(yīng)用。

誤碼率是反映數(shù)據(jù)傳輸設(shè)備及其通信信道工作質(zhì)量的一個(gè)重要指標(biāo)。誤碼測(cè)試儀就是通過(guò)檢測(cè)數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)的誤碼指標(biāo),對(duì)其系統(tǒng)的數(shù)據(jù)傳輸質(zhì)量進(jìn)行評(píng)估的一種工具。傳統(tǒng)的誤碼儀大多數(shù)都具備了諸如操作簡(jiǎn)單、結(jié)果直觀精確、測(cè)試內(nèi)容豐富等優(yōu)點(diǎn),但是同時(shí)也存在體積偏大、價(jià)格昂貴、只適用于某些專用信道測(cè)試以及不易與某些接口適配等方面的問(wèn)題[2]。因此分析和對(duì)比了現(xiàn)有的誤碼儀,研究和設(shè)計(jì)了一種基于FPGA的誤碼測(cè)試儀。

1 m序列

偽隨機(jī)序列也叫做偽隨機(jī)碼,是為模仿隨機(jī)序列的隨機(jī)特性而產(chǎn)生的一種碼流。在一般的通信工程應(yīng)用中,常采用二進(jìn)制偽隨機(jī)序列。偽隨機(jī)序列只有0和1兩種狀態(tài),一般是通過(guò)反饋移位寄存器來(lái)產(chǎn)生的,這種反饋移位寄存器可分為線性反饋和非線性反饋移位寄存器兩種。其中由線性反饋移位寄存器產(chǎn)生的周期最長(zhǎng)的二進(jìn)制數(shù)字序列叫做最大長(zhǎng)度線性反饋移位寄存器序列,也稱m序列。因?yàn)槠渥陨淼淖韵嚓P(guān)性和良好的統(tǒng)計(jì)特性,m序列廣泛地用于密碼學(xué)和誤碼測(cè)試等應(yīng)用。

如圖1所示,m序列信號(hào)發(fā)生器是在n級(jí)線性移位寄存器的基礎(chǔ)上,加上反饋邏輯電路構(gòu)成的。正是由于m序列的這種結(jié)構(gòu)特點(diǎn),所以非常適合于通過(guò)FPGA來(lái)產(chǎn)生。一般地,m序列信號(hào)發(fā)生器有兩種結(jié)構(gòu):Fabonacci型和Galois型[3]。

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本文采用Fabonacci型移位寄存器來(lái)產(chǎn)生m序列。這種結(jié)構(gòu)的特點(diǎn)是移位寄存器的反饋抽頭位置和本原多項(xiàng)式是一致的,序列與寄存器的初始狀態(tài)相對(duì)應(yīng),而碼流序列的產(chǎn)生速度主要受反饋網(wǎng)絡(luò)的時(shí)延影響。

an是各個(gè)移位寄存器的狀態(tài),cn是對(duì)應(yīng)的各移位寄存器的反饋系數(shù),系數(shù)為1時(shí)表示參與反饋;為0時(shí)表示不參與反饋。反饋函數(shù)為:an=c0a0+c1a1+…+cn-1an-1。在每一個(gè)時(shí)鐘脈沖時(shí)刻,高位的移位寄存器將狀態(tài)值傳給下一個(gè)移位寄存器。一旦級(jí)數(shù)和反饋系數(shù)確定了,則反饋移位寄存器的輸出序列也就確定了。

m序列的一個(gè)重要的性質(zhì)就是任何一個(gè)m序列的循環(huán)移位仍是一個(gè)m序列,序列長(zhǎng)度為m=2n-1。由于移位寄存器狀態(tài)全為0時(shí)系統(tǒng)會(huì)陷入死循環(huán),所以當(dāng)意外出現(xiàn)全為0的情況時(shí)使an-1等于1,跳出全0狀態(tài)實(shí)現(xiàn)自啟動(dòng)。

本文根據(jù)誤碼測(cè)試的需要,設(shè)計(jì)了9位、15位和23位寄存器的3個(gè)不同長(zhǎng)度的m序列。根據(jù)ITU—T的建議,它們的本原多項(xiàng)式分別為x9+x5+1、x15+x14+1和x11+x9+1。設(shè)計(jì)選用的FPGA芯片為 Cyclone IV代的 EP4CE15系列,該芯片有15 408個(gè)邏輯單元,165個(gè)I/O口,4個(gè)PLL,端口支持頻率可達(dá)600 Mb/s以上[4]。

發(fā)送端提供3種類型m序列,支持在一定范圍內(nèi)的發(fā)送時(shí)鐘頻率的改變。本設(shè)計(jì)主要是基于低速的數(shù)字通信設(shè)計(jì),發(fā)送頻率設(shè)置為2N,N為0~20的整數(shù),單位為MHz。

在系統(tǒng)模塊中設(shè)計(jì)了一個(gè)按鍵模塊用于選擇發(fā)送序列的級(jí)數(shù)以及發(fā)送時(shí)鐘頻率。由于在按動(dòng)按鍵時(shí)通常會(huì)出現(xiàn)抖動(dòng)和其他情況,所以采用了防抖動(dòng)設(shè)計(jì),其基本原理就是運(yùn)用一個(gè)小的狀態(tài)機(jī),記住先前的狀態(tài),然后再對(duì)接下來(lái)的電平變化進(jìn)行判斷。

2 誤碼儀總體設(shè)計(jì)及其工作原理

一般地,誤碼儀主要由發(fā)送端和接收端兩部分組成。發(fā)送端就是一個(gè)偽序列發(fā)生器,負(fù)責(zé)產(chǎn)生用來(lái)檢測(cè)被測(cè)信道的碼流。該流碼必須具有隨機(jī)性和重復(fù)可生成性,通常采用m序列作為測(cè)試碼。接收端則是誤碼儀最重要的一部分,其主要作用為接收從被測(cè)信道傳來(lái)的測(cè)試序列,并從序列碼中提取時(shí)鐘信號(hào),在此基礎(chǔ)上恢復(fù)出本地序列,然后進(jìn)行序列碼流對(duì)比并統(tǒng)計(jì)出誤碼。

如圖2所示,發(fā)送端就是m序列產(chǎn)生模塊,接收端包括位同步模塊、序列同步模塊和誤碼計(jì)數(shù)模塊等。下面分別就各個(gè)模塊做較為詳細(xì)的介紹說(shuō)明。

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2.1 誤碼信號(hào)檢測(cè)原理

誤碼率是指在測(cè)量的時(shí)間內(nèi)錯(cuò)誤的數(shù)字碼元數(shù)量與數(shù)字碼元總數(shù)之比。這個(gè)工作主要由兩個(gè)計(jì)數(shù)器完成,一個(gè)計(jì)數(shù)器計(jì)數(shù)誤碼,而另一個(gè)則計(jì)數(shù)總的碼數(shù)。

誤碼測(cè)試儀由發(fā)送和接收兩部分組成,發(fā)送模塊要求發(fā)出標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)據(jù)信號(hào)作為測(cè)試信號(hào),代替實(shí)際線路中的傳輸信號(hào)送到被測(cè)系統(tǒng)中。接收部分要求能產(chǎn)生與發(fā)送部分完全相同的數(shù)據(jù)信號(hào),用以與接收到的信號(hào)逐位比較。

由圖3可知,由信道傳送到接收機(jī)的序列碼通過(guò)異或門(mén)與接收機(jī)產(chǎn)生的序列進(jìn)行比較,若相同則輸出為0,若不同則輸出為1并計(jì)為1個(gè)誤碼, 最后再統(tǒng)計(jì)總的碼元數(shù)和誤碼數(shù),從而得到準(zhǔn)確的誤碼數(shù)或誤碼率。

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總的來(lái)說(shuō), 誤碼儀檢測(cè)的工作流程可概括為以下幾個(gè)步驟:

(1)以某種方式產(chǎn)生并發(fā)送碼組相同的碼型,以相同相位的本地碼組作為對(duì)比標(biāo)準(zhǔn);

(2)將本地恢復(fù)碼元與從信道接收到的碼組逐個(gè)進(jìn)行比較, 并輸出誤碼脈沖信號(hào);

(3)對(duì)誤碼脈沖信號(hào)進(jìn)行統(tǒng)計(jì), 并給出相應(yīng)的誤碼率。

由于傳統(tǒng)的誤碼儀一般用于專用的通信信道測(cè)試,其接口類型較為單一。為此本文設(shè)計(jì)了RS422、E1、E2接口,擴(kuò)展了誤碼測(cè)試的接口類型。

2.2 位同步模塊

位同步模塊的主要工作就是提取信道中碼流的時(shí)鐘,它由一個(gè)跳變沿捕捉模塊、一個(gè)狀態(tài)寄存器和一個(gè)計(jì)數(shù)器組成。如圖4所示,其中data是輸入系統(tǒng)的串行信號(hào)(m序列),clk是頻率為串行信號(hào)碼元速率的2N倍的高頻時(shí)鐘信號(hào),a是系統(tǒng)產(chǎn)生的與輸入串行信號(hào)碼元位同步的脈沖信號(hào),即位同步脈沖。

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系統(tǒng)工作時(shí),當(dāng)輸入信號(hào)data發(fā)生變化時(shí),捕捉模塊就能及時(shí)抓捕到這次跳變,并產(chǎn)生一個(gè)脈沖信號(hào)c,該信號(hào)可以將可控計(jì)數(shù)器清零,同時(shí)將狀態(tài)寄存器的輸出b置為0,并送到計(jì)數(shù)器中。計(jì)數(shù)器進(jìn)行模為2N的計(jì)數(shù),待計(jì)滿后就輸出脈沖信號(hào)a,該信號(hào)一方面可作為整個(gè)系統(tǒng)輸出的位同步時(shí)鐘信號(hào);

另一方面它也被接入了狀態(tài)寄存器,控制狀態(tài)寄存器的輸出b在計(jì)數(shù)器完成N的記數(shù)后就變?yōu)?;在沒(méi)有c脈沖信號(hào)時(shí)使b保持為1,使計(jì)數(shù)器的模值保持為2N,直到輸入信號(hào)data產(chǎn)生新的跳變并產(chǎn)生新的c脈沖信號(hào)。

由此可見(jiàn),在輸入信號(hào)為連1或連0的情況下,只要系統(tǒng)使用的時(shí)鐘信號(hào)足夠精確,就可以保證在一定時(shí)間里輸出滿足要求的位同步時(shí)鐘,而在輸入信號(hào)data發(fā)生跳變時(shí)系統(tǒng)又會(huì)捕捉該跳變沿并以此為基準(zhǔn)來(lái)輸出位同步時(shí)鐘。為了保證系統(tǒng)的精確性,文本中采用2N等于10。

2.3 序列同步模塊

前面已經(jīng)指出m序列是周期序列,測(cè)試序列和檢驗(yàn)序列的比較應(yīng)以周期內(nèi)的同一位置作為起點(diǎn)。因此在序列比較前應(yīng)首先進(jìn)行序列同步。常見(jiàn)的序列同步方法有滑動(dòng)相關(guān)捕捉法、序列相關(guān)捕捉法、SAW器件捕捉法等。但是這些方法都存在著結(jié)構(gòu)復(fù)雜、同步時(shí)間較長(zhǎng)等缺陷,不適合用FPGA實(shí)現(xiàn)。

序列同步模塊的一個(gè)重要作用就是根據(jù)位同步模塊得到同步時(shí)鐘并產(chǎn)生本地檢測(cè)碼元序列,通常采用的是灌碼的方式。如圖5所示,在初始狀態(tài)下開(kāi)關(guān)K置于B位置,發(fā)送端送來(lái)的測(cè)試序列在完成位同步后按從高位到低位的順序依次送入移位寄存器,存滿后開(kāi)關(guān)K就置于A的位置。移位寄存器和模二加法器在本地時(shí)鐘的驅(qū)動(dòng)下產(chǎn)生出檢驗(yàn)序列。這里要強(qiáng)調(diào)的是,本地碼元的m序列發(fā)生器和誤碼儀發(fā)送端的m序列產(chǎn)生器結(jié)構(gòu)完全一致。

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以9階的m序列為例,由于m序列的下一存儲(chǔ)器狀態(tài)組合僅由當(dāng)前的狀態(tài)組合所決定,因此只要最初接收到的9個(gè)碼元是正確的,則其隨后產(chǎn)生的所有碼元都是與測(cè)試序列相同和同步的。在這之后,測(cè)試序列與檢驗(yàn)序列需要進(jìn)行一次相關(guān)比較,假如在若干個(gè)(如10個(gè))碼元周期內(nèi)其相關(guān)值超過(guò)閾值,則可認(rèn)為兩序列同步,否則需要重新進(jìn)行同步操作。

采用這一方法之后,序列同步的時(shí)間大大縮短,有利于進(jìn)行碼流的快速測(cè)試。

2.4 誤碼計(jì)數(shù)和顯示

將恢復(fù)出來(lái)的本地檢測(cè)序列與被測(cè)信道傳輸來(lái)的測(cè)試序列相比較可以檢測(cè)出誤碼。兩個(gè)碼流通過(guò)一個(gè)異或門(mén)比較,相同為0,不同則為1,然后計(jì)數(shù)器統(tǒng)計(jì)1的個(gè)數(shù)得出總的誤碼數(shù)。

誤碼測(cè)試儀定時(shí)每隔1 s進(jìn)行誤碼統(tǒng)計(jì),并將結(jié)果通過(guò)點(diǎn)陣型液晶顯示器顯示,直觀地顯示實(shí)時(shí)誤碼情況。為了便于簡(jiǎn)化硬件電路,設(shè)計(jì)采用FPGA直接驅(qū)動(dòng)液晶顯示器。

特別地,由于程序設(shè)計(jì)中會(huì)用到除法運(yùn)算,而除法運(yùn)算會(huì)消耗大量的FPGA邏輯單元,因此本設(shè)計(jì)中采用獨(dú)特的算法將除法運(yùn)算轉(zhuǎn)換成位運(yùn)算,極大地減少了系統(tǒng)資源的占用。

3 誤碼測(cè)試儀的IP內(nèi)核

該誤碼測(cè)試儀基于FPGA設(shè)計(jì),程序采用Verilog HDL編寫(xiě)。其建模的編程特點(diǎn)使得系統(tǒng)更直觀和便于實(shí)現(xiàn)[5]。圖6為誤碼測(cè)試儀的內(nèi)核模塊系統(tǒng)框架。所有的程序編寫(xiě)都遵循自底而上的建模思想。

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圖6所示的IP核框架大致給出了本次系統(tǒng)設(shè)計(jì)的主要部分模塊。在這里只給出了一部分的輸入和輸出信號(hào)。下面就一些信號(hào)做簡(jiǎn)單介紹說(shuō)明。Clkin 為外部時(shí)鐘輸入40 MHz。DATAin為經(jīng)過(guò)被測(cè)信道的m序列。Clka、Clkb、Clkc分別為倍頻或分頻后的時(shí)鐘信號(hào)。Ctrl為L(zhǎng)CM控制信號(hào)。按鍵模塊控制發(fā)送序列的級(jí)數(shù)和發(fā)送時(shí)鐘頻率,而LED信號(hào)主要控制LED燈顯示誤碼儀工作狀態(tài)。

本文研究了一種低速數(shù)字通信系統(tǒng)的誤碼測(cè)試儀。該誤碼測(cè)試儀是基于FPGA(現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列)為核心設(shè)計(jì)而成,適用于斷線誤碼檢測(cè)。該測(cè)試儀可以在發(fā)送端發(fā)送頻率不明的情況下進(jìn)行碼流的時(shí)鐘恢復(fù),這樣就使得其使用范圍更廣。同時(shí)根據(jù)FPGA的特點(diǎn),系統(tǒng)還設(shè)計(jì)有AS下載口和JTAG下載口以及留出了一些多的I/O口,這樣可以方便以后功能的增加和系統(tǒng)軟件的升級(jí)。程序結(jié)構(gòu)編寫(xiě)中,采用了一些獨(dú)特的算法使得系統(tǒng)資源占用減少,同時(shí)增加了系統(tǒng)的智能性。

設(shè)計(jì)中軟件采用的是Verilog HDL編寫(xiě)程序,軟件開(kāi)發(fā)環(huán)境使用的是Altera公司的EDA開(kāi)發(fā)工具quartusII 11.0。整個(gè)系統(tǒng)體積較小,具有一定的智能性且價(jià)格便宜,適用于一般的數(shù)字通信線路測(cè)試以及個(gè)人架設(shè)的通信信道。經(jīng)過(guò)測(cè)試,系統(tǒng)的性能可以達(dá)到測(cè)試的基本要求。

參考文獻(xiàn)

[1] 劉江?;贔PGA的誤碼率測(cè)試儀的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[J]。微計(jì)算機(jī)信息,2005,2l(4):162-163.

[2] 王輝?;?a target="_blank">DSP和FPGA的開(kāi)環(huán)多碼型誤碼測(cè)試儀的設(shè)計(jì)[J]。測(cè)控技術(shù)與儀器儀表,2010,36(9):115-118.

[3] 鄒學(xué)玉,易國(guó)華。一類基于FPGA的m序列發(fā)生器設(shè)計(jì)[J]。 長(zhǎng)江大學(xué)學(xué)報(bào),2006,9(3):84-86.

[4] Altera Corp.Cyclone Device Handbook[DB/OL].[2013-07-15].http://www.a(chǎn)ltera.conl.2010.

[5] 王金明.VerilogHDL 程序設(shè)計(jì)教程[M]。北京:人民郵電出版社,2004.

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    在工業(yè)生產(chǎn)質(zhì)量把控環(huán)節(jié),真空試漏測(cè)試儀與密封檢測(cè)是常被提及的設(shè)備,不少人會(huì)疑惑:真空試漏測(cè)試儀是密封檢測(cè)嗎?答案是肯定的,二者只是叫法不一樣。從工作原理來(lái)說(shuō),它們?nèi)绯鲆晦H。真空試漏
    的頭像 發(fā)表于 12-31 14:11 ?354次閱讀
    真空試漏<b class='flag-5'>測(cè)試儀</b>是密封檢測(cè)<b class='flag-5'>儀</b>嗎-岳信儀器

    IBERT GT收發(fā)器誤碼測(cè)試實(shí)例

    IBERT(Integrated Bit Error Ratio Tester),集成誤碼測(cè)試儀。作為用戶來(lái)說(shuō)可以使用這個(gè)工具對(duì)自己設(shè)計(jì)的板子中的高速串行收發(fā)器進(jìn)行簡(jiǎn)單測(cè)試,從而判斷設(shè)計(jì)的接口是否
    的頭像 發(fā)表于 11-24 09:11 ?3259次閱讀
    IBERT GT收發(fā)器<b class='flag-5'>誤碼</b>率<b class='flag-5'>測(cè)試</b>實(shí)例

    華科智源IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀

    HUSTEC華科智源HUSTEC-1600A-MTIGBT功率器件測(cè)試儀一:IGBT功率器件測(cè)試儀主要特點(diǎn)華科智源HUSTEC-1600A-MT靜態(tài)測(cè)試儀可用于多種封裝形式的IGBT測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 10-29 10:39 ?2517次閱讀
    華科智源IGBT靜態(tài)參數(shù)<b class='flag-5'>測(cè)試儀</b>

    比特誤碼測(cè)試儀接收端受限眼圖自動(dòng)校準(zhǔn)最佳實(shí)踐

    Tektronix提供針對(duì)PCIe 6.0 CEM測(cè)試的 比特誤碼測(cè)試儀 (BERT) 接收端 (RX) 受限眼圖自動(dòng)校準(zhǔn)。該軟件名為T(mén)ekRXTest,并支持額外的功能,例如RX表征與裕量
    的頭像 發(fā)表于 10-24 16:16 ?4290次閱讀
    比特<b class='flag-5'>誤碼</b>率<b class='flag-5'>測(cè)試儀</b>接收端受限眼圖自動(dòng)校準(zhǔn)最佳實(shí)踐

    光伏IV測(cè)試儀原理:實(shí)現(xiàn)太陽(yáng)能電池測(cè)試的關(guān)鍵技術(shù)

    在太陽(yáng)能領(lǐng)域的研究和應(yīng)用中,光伏IV測(cè)試儀是一種非常重要的設(shè)備。通過(guò)測(cè)試光伏電池的電流和電壓特性,可以評(píng)估其性能和效率。本文將詳細(xì)介紹光伏IV測(cè)試儀的原理和工作方式,以及其在太陽(yáng)能行業(yè)
    的頭像 發(fā)表于 09-22 16:54 ?1277次閱讀
    光伏IV<b class='flag-5'>測(cè)試儀</b>原理:實(shí)現(xiàn)太陽(yáng)能電池<b class='flag-5'>測(cè)試</b>的關(guān)鍵技術(shù)

    LCR測(cè)試儀測(cè)量電阻的快速準(zhǔn)確技巧

    LCR測(cè)試儀作為電子元件參數(shù)測(cè)量的核心工具,在電阻測(cè)量中扮演著關(guān)鍵角色。本文將結(jié)合LCR測(cè)試儀的工作原理、操作步驟及實(shí)用技巧,深入探討如何實(shí)現(xiàn)快速、精準(zhǔn)的電阻測(cè)量,幫助工程師和測(cè)試人員提升工作效率
    的頭像 發(fā)表于 09-09 11:29 ?9508次閱讀
    LCR<b class='flag-5'>測(cè)試儀</b>測(cè)量電阻的快速準(zhǔn)確技巧

    LCR測(cè)試儀在電容器老化測(cè)試中的應(yīng)用

    在電子設(shè)備的可靠性評(píng)估中,電容器作為關(guān)鍵元件,其老化狀態(tài)直接影響系統(tǒng)的長(zhǎng)期穩(wěn)定性。隨著電子設(shè)備向高頻、高壓、小型化方向發(fā)展,傳統(tǒng)老化測(cè)試方法已難以滿足精密測(cè)量的需求。LCR測(cè)試儀(電感/電容/電阻
    的頭像 發(fā)表于 08-18 17:17 ?1304次閱讀
    LCR<b class='flag-5'>測(cè)試儀</b>在電容器老化<b class='flag-5'>測(cè)試</b>中的應(yīng)用

    LCR測(cè)試儀如何實(shí)現(xiàn)智能化與AI融合

    隨著科技的飛速發(fā)展,人工智能(AI)正以前所未有的速度滲透到各個(gè)領(lǐng)域,測(cè)試測(cè)量行業(yè)也不例外。LCR測(cè)試儀作為電子元器件測(cè)試的重要工具,其智能化與AI的融合不僅提升了測(cè)試的精度和效率,還
    的頭像 發(fā)表于 08-08 16:49 ?1157次閱讀
    LCR<b class='flag-5'>測(cè)試儀</b>如何實(shí)現(xiàn)智能化與AI融合

    導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀:材料熱性能的 “探測(cè)者”

    在科學(xué)研究與工業(yè)生產(chǎn)的眾多領(lǐng)域,熱傳導(dǎo)性質(zhì)的準(zhǔn)確測(cè)量至關(guān)重要。導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀作為一種專門(mén)用于測(cè)定材料導(dǎo)熱系數(shù)的精密儀器,正發(fā)揮著不可或缺的作用。?導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀的工作原理基于熱傳導(dǎo)的基本定律。它通過(guò)
    的頭像 發(fā)表于 07-14 10:22 ?694次閱讀
    導(dǎo)熱系數(shù)<b class='flag-5'>測(cè)試儀</b>:材料熱性能的 “探測(cè)者”

    IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng)

    HUSTEC華科智源 HUSTEC-1600A-MT IGBT功率器件測(cè)試儀 一:IGBT功率器件測(cè)試儀主要特點(diǎn) 華科智源HUSTEC-1600A-MT靜態(tài)測(cè)試儀可用于多種封裝形式的 IGBT
    的頭像 發(fā)表于 07-08 17:31 ?2353次閱讀

    氧化誘導(dǎo)期測(cè)試儀:材料性能評(píng)估的得力助手

    在材料科學(xué)的研究與應(yīng)用中,氧化誘導(dǎo)期測(cè)試儀正發(fā)揮著日益重要的作用。它主要用于測(cè)定聚合物材料的氧化誘導(dǎo)期,以此精準(zhǔn)評(píng)估材料的抗氧化性能,是材料性能研究中不可或缺的設(shè)備。?上海和晟HS-DSC-101
    的頭像 發(fā)表于 07-02 09:58 ?576次閱讀
    氧化誘導(dǎo)期<b class='flag-5'>測(cè)試儀</b>:材料性能評(píng)估的得力助手

    炭黑含量測(cè)試儀:材料質(zhì)量控制的關(guān)鍵儀器

    優(yōu)化具有至關(guān)重要的意義,而炭黑含量測(cè)試儀正是實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)的關(guān)鍵設(shè)備。?上海和晟HS-TH-3500炭黑含量測(cè)試儀炭黑含量測(cè)試儀通常采用燃燒法或熱重分析法來(lái)測(cè)定材料
    的頭像 發(fā)表于 06-16 10:24 ?704次閱讀
    炭黑含量<b class='flag-5'>測(cè)試儀</b>:材料質(zhì)量控制的關(guān)鍵儀器
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