據(jù)麥姆斯咨詢報道，近日，半導體測試系統(tǒng)與探針卡知名廠商思達科技宣布推出牡羊座Aries Optima MEMS探針卡，這是全球首款應用在大量制造的微間距大電流MEMS垂直探針卡。Aries Optima是MEMS探針卡技術的最新巔峰，不僅制訂新標準，滿足了晶圓級測試的新需求，且進而促使思達科技成為MEMS探針卡技術的市場領導供應商。

Aries Optima全球首款應用在大量制造的微間距大電流MEMS垂直探針卡

十多年來，思達科技致力在開發(fā)以及部署高價值的垂直探針技術，研發(fā)了一套系統(tǒng)和方法，以快速適應市場興起的需求。思達科技在過去20年間定期推出新產(chǎn)品，滿足不斷變化、各方面的市場需求，持續(xù)實現(xiàn)對于半導體測試行業(yè)的承諾，包括增進測試效率、降低測試成本，以及測試精度的優(yōu)化、達成最佳市場價值等等。

Aries Optima系列的MEMS垂直探針卡，設計方面除了滿足不斷發(fā)展的大電流需求外，探針間距也降至45um，可將投資回報率最大化且減少支出，具有更高的價值。思達擁有批量生產(chǎn)的MEMS探針，負載力為550mA，適用于標準應用；在汽車和高功率方面，則可達700mA、最高至150攝氏度。

根據(jù)半導體市調(diào)機構VLSI的報告，受惠于景氣回溫，其5G拓展、IT基礎建設等，推升芯片需求持續(xù)成長。這些市場因素驅(qū)動MEMS技術更加重視生產(chǎn)效率、減少測試時間與成本，市場占有率也正逐漸提高。相較于傳統(tǒng)的Cobra探針，AriesOptima系列穩(wěn)定的DC和泄漏電流表現(xiàn)，非常適合應用在RF、AP、高功率等等的測試。

思達科技執(zhí)行長劉俊良博士表示：“Aries Optima探針卡是全球第一張微間距MEMS垂直探針卡，支持大電流測試，同時減少客戶的測試頻率、時間、人力成本等，是下一個世代半導體測試的最佳選擇?！?/p>

責任編輯：lq