IEC TC82 WG2秋季會(huì)議

IEC TC82 WG2秋季會(huì)議在線上如期舉行，來(lái)自世界各地的專家們分享了多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)改革。與會(huì)的第三方機(jī)構(gòu)、科研院校、生產(chǎn)廠商等代表也從不同角度對(duì)于各類議題進(jìn)行了熱烈的討論。

DEKRA德凱的技術(shù)專家，同其他中國(guó)代表團(tuán)的專家們應(yīng)邀共同出席了本次會(huì)議，并在熱烈的氣氛中積極獻(xiàn)計(jì)獻(xiàn)策，對(duì)各類技術(shù)問(wèn)題給出了專業(yè)的意見。DEKRA德凱將從晶硅組件、薄膜組件和光伏器件等方面，結(jié)合行業(yè)關(guān)注度較高的幾個(gè)標(biāo)準(zhǔn)，為您深度解讀本次會(huì)議的熱點(diǎn)內(nèi)容。

繼上次會(huì)議后新發(fā)布的標(biāo)準(zhǔn)

IEC TS 63209-1:2021 Edition 1.0 Photovoltaic modules - Extended-stress testing - Part 1： Modules （2021-04-27）

光伏組件 - 加嚴(yán)測(cè)試 - 第1部分：組件

IEC TS 63140:2021 Edition 1.0 Photovoltaic （PV） modules - Partial shade endurance testing （2021-04-28）

光伏組件 - 局部遮擋耐久性測(cè)試

IEC TR 63279:2020 Derisking photovoltaic modules - Sequential and combined accelerated stress testing （2020-08-21）

降低光伏組件風(fēng)險(xiǎn) - 序列組合加速老化測(cè)試

IEC TS 63163:2021 Edition 1.0 Terrestrial photovoltaic （PV） modules for consumer products - Design qualification and type approval （2021-09-14）

消費(fèi)級(jí)地面用光伏組件 - 設(shè)計(jì)鑒定及型式認(rèn)證

晶硅光伏組件標(biāo)準(zhǔn)

IEC 63342 Light and elevated temperature induced degradation （LETID） test for c-Si Photovoltaic （PV） modules： Detection 晶硅光伏組件高溫輔助光致衰減（LETID）測(cè)試目前狀態(tài)：DTS準(zhǔn)備階段工作組目前收集到的意見有：

和電池片LETID標(biāo)準(zhǔn)63202-4結(jié)合的可行性

不同應(yīng)力條件（電池片LETID測(cè)試注入更高電流）

不同測(cè)試結(jié)果

不同適用范圍（生產(chǎn)端電池片快速檢測(cè) vs 組件端測(cè)試）

和61215系列合并的可行性

一些文本編輯上的意見

參考文獻(xiàn)

IEC TS 63397 ED1 Guidelines for qualifying PV modules for increased hail resistance 光伏組件增強(qiáng)抗冰雹能力測(cè)試鑒定方案目前狀態(tài)：CDV草案準(zhǔn)備中，預(yù)計(jì)11月提交

此項(xiàng)提議是在IEC 61215基礎(chǔ)上針對(duì)使用環(huán)境為冰雹高風(fēng)險(xiǎn)區(qū)的光伏組件的測(cè)試。

可選的測(cè)試冰球尺寸增至100mm。

測(cè)試序列如下：

此項(xiàng)議案在會(huì)上引起了不少討論，專家們一致認(rèn)為仍然需要更多全球冰雹氣候的數(shù)據(jù)和地理信息做參考。同時(shí)也有人提出大尺寸的冰雹測(cè)試是為了測(cè)試玻璃的強(qiáng)度，因此不需在光伏組件上測(cè)試。

IEC 61730-1 ED3 Photovoltaic （PV） module safety qualification - Part 1： Requirements for construction光伏組件安全鑒定 - 第1部分：結(jié)構(gòu)要求目前狀態(tài)：FDIS準(zhǔn)備中。繼上次會(huì)議后，大多數(shù)意見已通過(guò)，少部分仍在討論中：

標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用的溫度范圍

IEC 61730定義的應(yīng)用環(huán)境溫度不超過(guò)40°C，這使得大多數(shù)國(guó)家都無(wú)法達(dá)到此要求。同時(shí)標(biāo)準(zhǔn)中提出了“open rack”的概念，但未對(duì)此進(jìn)行定義。IEC TS 63126適用于炎熱氣候空氣流通受限的情況。因此IEC 61730將擴(kuò)展其應(yīng)用范圍：“open rack”的安裝方式適用于任何地方。

闡明衰減率關(guān)聯(lián)組件運(yùn)行溫度而不是環(huán)境溫度。

引用IEC TS 63126中T98的概念，IEC 61730僅應(yīng)用于T98《70°C的場(chǎng)景。

組件運(yùn)行溫度取決于地理位置、安裝距離、組串配置等。

對(duì)于T98《70°C的限制，組件不同安裝方式也有著不同應(yīng)用限制：

Open rack系統(tǒng)： 適用于任何地方

絕緣系統(tǒng)（無(wú)空氣流通）：非常有限的應(yīng)用場(chǎng)景

受限空氣流通系統(tǒng)：取決于地理位置，安裝距離和一些其他系統(tǒng)設(shè)計(jì)參數(shù)

工作組計(jì)劃在標(biāo)準(zhǔn)中加入關(guān)于組件運(yùn)行溫度和安裝方式的描述，需在銘牌和安裝說(shuō)明文件中體現(xiàn)。但目前仍然缺少計(jì)算組件安裝環(huán)境下T98溫度的方法。工作組初步提出了組件安裝高度距地面150mm作為觸發(fā)T98的條件，但仍需進(jìn)一步討論。

絕緣協(xié)調(diào)

組件內(nèi)部帶電體的絕緣要求由基本絕緣變更為功能絕緣

定義了非依賴絕緣 （Non-RUI） 和功能絕緣，功能絕緣間隙 （DTFI）

說(shuō)明了組件內(nèi)部帶電體間隙要求和內(nèi)部帶電體與外部可觸部分間隙的要求

對(duì)電氣間隙和功能絕緣間隙進(jìn)行了區(qū)分，如果要求的電氣間隙大于DTFI，需通過(guò)MST 57脈沖電壓測(cè)試和可燃測(cè)試，電氣間隙即可減小至DTFI。

關(guān)于雙面組件

指定組件正面作為測(cè)試面，背面為非直射面或者有限光照（《300W/m2）。如果組件雙面都作為直射面（》300W/m2），UV測(cè)試中的雙面都應(yīng)滿足正面的要求。

雙面組件的安全因子為

或者

銘牌和文件要求

如果銘牌上沒(méi)有安全信息，應(yīng)標(biāo)明鏈接或二維碼索引到安全信息文件聲明。

對(duì)于雙面組件，短路電流Isc應(yīng)標(biāo)明在STC、BNPI和aBSI的標(biāo)稱值。

如果組件連接器符合IEC 62852，應(yīng)標(biāo)明搭配的連接器廠家和型號(hào)。

雙面組件需聲明哪一面作為正面。

T98額定溫度值70°C（或者通過(guò)了IEC TS 63126 Level 1或Level 2測(cè)試）。

IEC 61730-2 ED3 Photovoltaic （PV） module safety qualification - Part 1： Requirements for testing 光伏組件安全鑒定 – 第2部分：測(cè)試要求目前狀態(tài)：CDV流通中

B序列中是否要將UV60正反面分為2塊組件測(cè)試仍在討論中。

建立附件列出需要用全尺寸組件的測(cè)試和可使用代表小樣的測(cè)試。

反向電流測(cè)試增加了IR相機(jī)測(cè)試，用來(lái)驗(yàn)證最熱溫度點(diǎn)。

增加了用來(lái)驗(yàn)證DTFI的絕緣測(cè)試 （MST 57）。

IEC TS 62915 ED2： Photovoltaic （PV） modules - Type approval， design and safety qualification – Retesting 光伏組件 – 型式認(rèn)可，設(shè)計(jì)及安全鑒定 – 重測(cè)導(dǎo)則目前狀態(tài)：CD草案即將提交

新草案合并了晶硅組件和薄膜組件的章節(jié)。

定稿了單一材料變更的重測(cè)要求（包括全測(cè)試項(xiàng)目矩陣）。

定稿了材料搭配的重測(cè)要求（明確了何種搭配需進(jìn)行重測(cè)）。

工作小組會(huì)先將單一材料變更的重測(cè)要求提交，材料搭配的具體測(cè)試項(xiàng)目將會(huì)進(jìn)一步討論后再定稿。 IEC 62759-1 ED2 Photovoltaic （PV） modules - Transportation testing - Part 1： Transportation and shipping of module package units 光伏組件 - 運(yùn)輸測(cè)試第1部分：組件包裝單元的運(yùn)輸目前狀態(tài)：FDIS準(zhǔn)備中

隨機(jī)振動(dòng)測(cè)試（6.3.2）的頻率范圍改為1-200Hz。

考慮加入EL測(cè)試，但無(wú)判定。

改進(jìn)重測(cè)要求

IEC TS 63126， Guidelines for qualifying PV modules for high temperatures 光伏組件高溫測(cè)試指導(dǎo)IEC TS 63126已經(jīng)于2020年6月發(fā)布，工作組目前著手于研究不同安裝系統(tǒng)的組件工作溫度。第98分位溫度分為3個(gè)等級(jí)：Level 1： ≤70°C，Level 2： ≤70-80°C， Level 3： ≥80°C。由于IEC 61730中需引用此標(biāo)準(zhǔn)，于是開始了修訂的進(jìn)程。初步需要修訂的內(nèi)容有：

材料的UV曝曬時(shí)間需重新評(píng)估。

標(biāo)準(zhǔn)中的敘述需結(jié)合IEC 61730和IEC 62788-2-1的改動(dòng)進(jìn)行更新。

標(biāo)準(zhǔn)化T98的計(jì)算流程。

其中工作組重點(diǎn)說(shuō)明了系統(tǒng)的T98溫度計(jì)算的重要性，這決定了組件鑒定測(cè)試的條件。組件組串溫度也由多種因素影響：

組件設(shè)計(jì)

距表面安裝距離

組串?dāng)?shù)量

組串間距離

空氣流通限制

而目前的標(biāo)準(zhǔn)中僅提供了一張溫度分布地圖作為參考，未來(lái)工作組將會(huì)把重點(diǎn)放在建模，評(píng)估，測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)的T98溫度上，優(yōu)化其適用性。 IEC 61853-2/AMD1 Photovoltaic （PV） module performance testing and energy rating - Part 2： Spectral responsivity， incidence angle and module operating temperature measurements 光伏組件性能測(cè)試和能效評(píng)定 – 第2部分：光譜響應(yīng)，入射角和組件標(biāo)稱溫度測(cè)量目前狀態(tài)：CD草案準(zhǔn)備中

工作組主要針對(duì)入射角響應(yīng)和組件標(biāo)稱溫度 （NMOT） 測(cè)試方法進(jìn)行了修訂。目前進(jìn)展如下，光伏組件入射角響應(yīng)測(cè)試：

對(duì)制樣要求及全尺寸組件上小樣的選取進(jìn)行了規(guī)定。

戶外入射角響應(yīng)測(cè)試。

光伏組件標(biāo)稱溫度測(cè)試：

目前工作組的專家們?nèi)匀辉谶M(jìn)行數(shù)據(jù)分析，并提出了三種計(jì)算系數(shù)u0和u1的方法。其中將測(cè)試數(shù)據(jù)和數(shù)學(xué)模型計(jì)算的數(shù)據(jù)相結(jié)合的方法得到高度的認(rèn)可。接下來(lái)工作組將會(huì)對(duì)有效數(shù)據(jù)的定義，系數(shù)u0的計(jì)算方法進(jìn)行進(jìn)一步研究。 IEC TS 62804-1 ed. 2 rev Photovoltaic （PV） modules - Test methods for the detection of potential-induced degradation Part 1： Crystalline Silicon 光伏組件 - 電勢(shì)誘導(dǎo)衰減測(cè)試方法第1部分：晶硅組件

增加了光照的測(cè)試方法，為檢測(cè)組件PID極化 （PID-p） 現(xiàn)象。

增加了PID恢復(fù)測(cè)試，初步提議回復(fù)測(cè)試為15kW/m2的紫外輻照測(cè)試。

薄膜光伏組件標(biāo)準(zhǔn)

IEC 61215-1-2:2021/AMD1 （CdTe）， IEC 61215-1-3:2021/AMD1 （aSi） and IEC 61215-1-4:2021/AMD1 （CIGS） Terrestrial photovoltaic （PV） modules Design qualification and type approval 地面用光伏組件設(shè)計(jì)鑒定和型式認(rèn)可目前狀態(tài)：CDV草案流通中工作組主要討論了針對(duì)CdTe， aSi和CIGS薄膜光伏組件的輕量機(jī)械載荷測(cè)試（RSML）。- 最小設(shè)計(jì)載荷為800Pa，測(cè)試載荷1200Pa- 輕量機(jī)械載荷測(cè)試適用于地面安裝組件且僅能由專業(yè)人士接觸，并且符合使用地區(qū)的天氣條件和建筑標(biāo)準(zhǔn)。- 采用輕量機(jī)械載荷測(cè)試的組件，必須要在產(chǎn)品文件中說(shuō)明：不適用于屋頂安裝，地面安裝限制進(jìn)入。- 適用于輕量機(jī)械載荷的組件型號(hào)應(yīng)與普通組件區(qū)分。- 在安裝說(shuō)明等文件中也要添加輕量機(jī)械載荷測(cè)的相關(guān)說(shuō)明。繼上次會(huì)議的討論，此項(xiàng)議案投票的結(jié)果為24贊成3反對(duì)，反對(duì)的意見集中在實(shí)際應(yīng)用中管控比較困難。也有人提出IEC 61215-2中已經(jīng)定義了最小設(shè)計(jì)載荷為1600Pa，此項(xiàng)議案應(yīng)使用新的標(biāo)準(zhǔn)號(hào)避免混淆。

光伏器件標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60904-2/AMD1 ED3 Amendment 1 - Photovoltaic devices - Part 2： Requirements for photovoltaic reference devices 光伏器件 – 第2部分：對(duì)光伏參考件的要求目前狀態(tài)：CD準(zhǔn)備階段，預(yù)計(jì)年底提交

新草案增加了光伏參考件最大功率的校準(zhǔn)方法和流程，也是目前工廠端常用的校準(zhǔn)方法。

二級(jí)標(biāo)準(zhǔn)件可以采用以下方法進(jìn)行校準(zhǔn)：

對(duì)于參考電池片：通過(guò)測(cè)量其輸出端（短路電流或內(nèi)置電阻端的電壓）進(jìn)行校準(zhǔn)。

對(duì)于參考組件：按照IEC 60904-1測(cè)量其IV特性進(jìn)行校準(zhǔn)。

標(biāo)準(zhǔn)件需要在接近校準(zhǔn)條件的情況下的使用：

輻照度±10%，溫度±5°C。

如果待測(cè)條件不在校準(zhǔn)條件的范圍里，需要增加額外測(cè)試：

在待測(cè)條件下進(jìn)行單獨(dú)校準(zhǔn)。

超出溫度范圍：測(cè)量相關(guān)溫度系數(shù)。

超出輻照范圍：進(jìn)行線性擬合。

修改了對(duì)光譜響應(yīng)，溫度系數(shù)和線性擬合的強(qiáng)制性要求，并允許一些測(cè)試在等效的光伏器件上進(jìn)行。

*具有相同電池片，封裝（玻璃，背板，反光膜，封裝材料）可視為等同的器件。

修改了對(duì)內(nèi)置分流電阻的要求。

更加明確了校準(zhǔn)可追溯性的要求。

所有參考件的校準(zhǔn)應(yīng)遵循IEC 60904-4的流程且可追溯，所有校準(zhǔn)的測(cè)試儀器應(yīng)具備完整的可追溯鏈。實(shí)驗(yàn)室需評(píng)估不確定度和重復(fù)性并進(jìn)行交叉比對(duì)。 IEC 60904-8/AMD1 ED3 Amendment 1 - Photovoltaic devices - Part 8： Measurement of spectral responsivity of a photovoltaic （PV） device 光伏器件 - 第8部分：光譜響應(yīng)測(cè)試目前狀態(tài)：CD草案準(zhǔn)備中

微分光譜響應(yīng)的計(jì)算公式更新如下：

微分光譜響應(yīng)應(yīng)在足夠多的偏光輻照下測(cè)試。

增加了雙面組件和半透明組件的光譜響應(yīng)測(cè)試方法。

結(jié)語(yǔ)

從標(biāo)準(zhǔn)的更迭能窺見光伏行業(yè)未來(lái)發(fā)展的趨勢(shì)。DEKRA德凱的專家團(tuán)隊(duì)長(zhǎng)期以來(lái)一直深入IEC工作小組，積極參與標(biāo)準(zhǔn)的修訂，為行業(yè)的良性發(fā)展貢獻(xiàn)一份力量。后續(xù)DEKRA德凱也會(huì)持續(xù)關(guān)注IEC TC82 WG2的動(dòng)向，為廣大客戶帶來(lái)全面的一手資訊。

責(zé)任編輯：haq