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CM300xi-ULN探針臺—在片噪聲測試新金標(biāo)準(zhǔn)

芯睿科技 ? 來源:芯??萍?/span> ? 作者:芯睿科技 ? 2022-07-05 10:28 ? 次閱讀
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采用PureLine 3技術(shù)的新型CM300xi-ULN可消除97%以前探針臺中的環(huán)境噪聲,并從根本上改變7納米以下前沿技術(shù)節(jié)點(diǎn)的實(shí)驗(yàn)室閃爍噪聲測量

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我們推出一種300mm晶圓探針臺CM300xi-ULN,該系統(tǒng)設(shè)計用于閃爍噪聲(1/f)、隨機(jī)電報噪聲(RTN)和相位噪聲的高精度測試。

此類噪聲問題對先進(jìn)模擬和數(shù)字IC技術(shù)造成的困擾日益增加,而該技術(shù)功率和性能的提高需要以降低噪聲容許量為代價。因此,目前的器件設(shè)計和驗(yàn)證需使用高靈敏度設(shè)備仔細(xì)表征此類內(nèi)部噪聲源。上述探針臺CM300xi-ULN通過消除97%以上的環(huán)境噪聲為超低噪聲測量建立了新的行業(yè)金標(biāo)準(zhǔn)。

使用新獲得專利的PureLine? 3技術(shù),ULN探針臺可降低32倍(1 kHz)的噪聲,以改進(jìn)5G及以上應(yīng)用7/5/2nm技術(shù)節(jié)點(diǎn)的器件表征和建模。

當(dāng)與噪聲測試設(shè)備(閃爍噪聲、RTN、相位噪聲)集成時,CM300xi-ULN使用帶有Contact Intelligence?的電動探針座可提供行業(yè)最高測試吞吐量,實(shí)現(xiàn)全自動DC和低頻噪聲測量,并采用多DUT布局完全實(shí)現(xiàn)全天候自動運(yùn)行。

最后,CM300xi-ULN降低了低噪聲測試單元優(yōu)化的復(fù)雜性。只需通電即可開始測試。測試單元電源管理可消除測試單元所有接地回路感應(yīng)噪聲,并為整個系統(tǒng)、探針臺和儀器提供全面管理和過濾的交流電源

CM300xi-ULN探針臺在在片噪聲測試領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)了四項(xiàng)重要的行業(yè)“第一”,包括:

  • 第一款實(shí)現(xiàn)-190dB頻譜噪聲*的自動化探針臺,可對新的高性能器件進(jìn)行高精度噪聲測量(*典型值,dBVrms/√Hz,1kHz至1MHz,含探針臺和溫控系統(tǒng))
  • 集成測試單元電源管理,可消除接地回路感應(yīng)噪聲,并為探針臺和儀器提供全面管理和過濾的交流電源
  • 在30um焊盤上完全自主進(jìn)行閃爍噪聲熱測試,測試速度比上一代系統(tǒng)快4倍
  • 客戶現(xiàn)場調(diào)查和“低噪聲”安裝驗(yàn)證,可顯著降低安裝成本和工具部署時間

審核編輯:符乾江

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