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PLECS?和SPICE軟件模擬工具描述

工程師鄧生 ? 來源:WOLFSPEED ? 作者:Wolfspeed ? 2022-08-31 09:56 ? 次閱讀
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選擇合適的 Wolfspeed 設(shè)計工具

電力電子系統(tǒng)設(shè)計是一個復(fù)雜的工程問題。傳統(tǒng)上,克服相關(guān)挑戰(zhàn)需要主題專家進(jìn)行耗時的分析。幸運(yùn)的是,工程師們可選擇各種現(xiàn)代工具,顯著加快設(shè)計過程并優(yōu)化結(jié)果。這些工具涵蓋軟件模擬工具(如 PLECS 和 SPICE)和基于測量的方法(如動態(tài)性能表征)。每種分析方法都有其自身的優(yōu)勢和局限性,適合解決特定的設(shè)計問題。本文將對此進(jìn)行描述。

PLECS 是一款專為電力電子系統(tǒng)模擬開發(fā)的模擬工具,有助于工程師設(shè)計控制方案、拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)和熱系統(tǒng)。該工具涵蓋多個物理學(xué)領(lǐng)域,可簡化對系統(tǒng)機(jī)械、熱或磁性元件的分析。PLECS 采用理想的晶體管開關(guān)模型,可動態(tài)選擇晶體管電阻瞬時變化前后的積分時間步長。

對于開關(guān)電路應(yīng)用,該分析方法使 PLECS 相對于傳統(tǒng)電路級模擬具有巨大的速度優(yōu)勢。由于電氣元件被理想化,因此采用分析方式對功率損耗進(jìn)行描述(通過查找表或函數(shù)),以匹配實驗結(jié)果。Wolfspeed 的 PLECS 模型根據(jù)數(shù)據(jù)表信息構(gòu)建,如圖 1 所示。一般而言,PLECS 對于控制設(shè)計、器件選擇、預(yù)測系統(tǒng)損耗、預(yù)測器件結(jié)溫和熱系統(tǒng)設(shè)計非常有用。

除了提供可供下載的完整 PLECS 模型組合,Wolfspeed 還免費(fèi)提供針對系統(tǒng)設(shè)計問題開發(fā)的在線評估工具 SpeedFit。

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▲ 圖 1:PLECS 模型根據(jù)數(shù)據(jù)表數(shù)據(jù)構(gòu)建

雖然 PLECS 是一款強(qiáng)大的模擬工具,但它也有局限性。例如,PLECS 中的晶體管模型使用數(shù)據(jù)表開發(fā),因此所考慮的開關(guān)能量對于低電感系統(tǒng)來說是典型值。同樣,導(dǎo)通損耗和熱模型使用典型的數(shù)據(jù)表值。因此,留出設(shè)計余量始終至關(guān)重要,因為邊界情形缺陷器件的結(jié)溫比 PLECS 預(yù)測的標(biāo)稱 TJ 更高(因損耗和熱阻抗更高所致)。

一般來說,應(yīng)使用壽命模型設(shè)計最高每循環(huán)溫度 δ,因為允許 TFLUID 和 TJ,MAX 之間的擺幅可能無法保證獲得預(yù)期的系統(tǒng)運(yùn)行壽命。此外,還應(yīng)謹(jǐn)慎考量系統(tǒng)模型中的電信號。雖然低頻特性(如紋波電壓、輸出電流功率因數(shù))可被精確模擬,但在 PLECS 中無法預(yù)測由器件開關(guān)產(chǎn)生的動態(tài)特性。因此,器件邊緣速率和電壓過沖等參數(shù)未被模擬捕捉,而且對寄生元件建模也沒有意義,因為在經(jīng)簡化的電模擬中寄生元件所作的貢獻(xiàn)無關(guān)緊要。

為了演示理想化的開關(guān)和低頻電路動態(tài)特性,圖 2 示出了 PLECS 中的降壓型轉(zhuǎn)換器模擬。低側(cè)開關(guān)電壓示出硬開關(guān)行為被簡化為簡易方波;壓擺率、過沖、上升/下降時間和其他動態(tài)特性未被模擬。然而,從輸出電壓波形可以看出,電氣域波形仍然有用,因為許多參數(shù)(如輸出紋波)仍可被模擬,而無需精確的開關(guān)動態(tài)特性。一般而言,由電力電子器件和濾波器無源器件決定的低頻現(xiàn)象將在 PLECS 中被正確模擬。

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▲ 圖 2:PLECS 模型可捕捉低頻動態(tài)特性,

但無法捕捉開關(guān)動態(tài)特性

不同于 PLECS,電路級模擬器(如 SPICE)試圖預(yù)測詳細(xì)的開關(guān)瞬態(tài)事件,使得它們能夠模擬許多在 PLECS 中被忽略的電氣動態(tài)特性。對于需要器件瞬態(tài)變化的研究來說,電路級模擬應(yīng)是首選工具。一些可能的示例包括動態(tài)均流、蒙特卡羅分析或電磁兼容性(EMC)分析。遺憾的是,如果模型復(fù)雜性增加,還會對模擬速度產(chǎn)生重大不利影響。

對于轉(zhuǎn)換器模擬而言,必須按所模擬的秒來計算數(shù)千個此類動態(tài)事件,這使得此類模型的模擬速度很慢,對控制或熱設(shè)計并不實用。此外,當(dāng)模擬瞬態(tài)事件時,不應(yīng)假設(shè)開關(guān)事件被精確預(yù)測,因為要精確預(yù)測開關(guān)事件,需要晶體管、電路寄生元件和柵極驅(qū)動的精確模型。因此,不建議使用 Wolfspeed 提供的 SPICE 模型進(jìn)行“動態(tài)評估”。

作為應(yīng)用實例,圖 3 示出了箝位電感負(fù)載電路的 SPICE 模擬示例(類似于 Wolfspeed 的評估套件)。掃描總線電感會引起過沖電壓、振鈴頻率和阻尼比發(fā)生很大變化。具體而言,總線電感變化 9 nH 會導(dǎo)致 200 V 的過沖預(yù)測差值。改變柵極驅(qū)動模型也會產(chǎn)生類似影響,改變晶體管模型則會產(chǎn)生更大差異。因此,使用 SPICE 模型來預(yù)測詳細(xì)的器件動態(tài)特性可能極具挑戰(zhàn)性和誤導(dǎo)性。

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▲ 圖 3:在 SPICE 中預(yù)測的晶體管動態(tài)特性

依賴于系統(tǒng)寄生效應(yīng)

如果需要數(shù)據(jù)表中提供的信息之外的動態(tài)特性,請考慮使用測量而非 SPICE。雖然獲得精確的器件測量值成本高昂且過程復(fù)雜,但 Wolfspeed 為其所有產(chǎn)品都提供了動態(tài)特性評估套件,其中一些可通過 Arrow Testdrive 程序借用。這些動態(tài)特性評估套件可簡化測量過程,這得益于它們具有低寄生電感和高質(zhì)量計量(對于原型設(shè)計階段測量開關(guān)信號而言,這通常是一個需要突破的主要事項)。

這些評估套件非常適合測量時序(TDelay-On、TDelay-Off、TRise、TFall)、過沖(VDS-Max、ID-Max)、開關(guān)速度(di/dt、dv/dt)和開關(guān)能量(EON、EOFF、ERR),但執(zhí)行此類測量需要高帶寬示波器和探頭(至少 100 MHz/s)。高側(cè)柵極或漏極電壓的表征同樣需要具有高壓隔離的差分探頭。最后,評估套件包含可用于測量器件電流的電流查看電阻器 (CVR)。為了重點突出評估套件的功能,圖 4 示出了利用 Wolfspeed CIL 評估套件進(jìn)行的柵極電阻掃描。

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▲ 圖 4:可利用 CIL 評估套件分析整個 RG 值的

MOSFET 動態(tài)特性

這三種方法在電力電子設(shè)計過程中均有應(yīng)用,每種方法都應(yīng)在設(shè)計過程中加以適當(dāng)利用。

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▲ 圖 5:推薦的工作流程



審核編輯:劉清

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原文標(biāo)題:?選擇合適的 Wolfspeed 設(shè)計工具

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