摘要：AEC-Q系列認(rèn)證是公認(rèn)的車規(guī)元器件的通用測試標(biāo)準(zhǔn)。IC設(shè)計企業(yè)想要進(jìn)入汽車電子領(lǐng)域，進(jìn)入汽車電子零部件供應(yīng)鏈，AEC-Q系列是必須獲得的認(rèn)證之一。

車用電子主要依據(jù)國際汽車電子協(xié)會(Automotive Electronics Council，簡稱AEC)作為車規(guī)驗證標(biāo)準(zhǔn)，包括AEC-Q100(集成電路IC)、AEC-Q101(離散組件)、AEC-Q102(離散光電LED)、AEC-Q103（傳感器）、AEC-Q104(多芯片組件)、AEC-Q200(被動組件)，其測試條件比消費型芯片規(guī)范嚴(yán)苛。

01、進(jìn)入汽車領(lǐng)域的必經(jīng)之路

克萊斯勒、福特和通用汽車為建立一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)立了汽車電子協(xié)會（AEC）。AEC－Q系列認(rèn)證雖然不是強(qiáng)制性的認(rèn)證制度，但目前已成為公認(rèn)的車規(guī)元器件的通用測試標(biāo)準(zhǔn)，是進(jìn)入汽車領(lǐng)域的必經(jīng)之路。

要進(jìn)入車輛領(lǐng)域，打入各一級(Tier1)汽車電子大廠供應(yīng)鏈，必須取得兩張門票，第一張是由北美汽車產(chǎn)業(yè)所推的AEC-Q100(集成電路IC)、AEC-Q101(離散組件)、AEC-Q102(離散光電LED)、AEC-Q103（傳感器）、AEC-Q104(多芯片組件)、AEC-Q200(被動組件)可靠性標(biāo)準(zhǔn)；第二張門票，則要符合零失效(Zero Defect)的供應(yīng)鏈質(zhì)量管理標(biāo)準(zhǔn)ISO/IATF 16949規(guī)范(Quality Management System)。

02、不同半導(dǎo)體產(chǎn)品有不同的AEC-Q標(biāo)準(zhǔn)

芯片設(shè)計企業(yè)需以產(chǎn)品分類選擇適宜的標(biāo)準(zhǔn)，如AEC－Q100（IC芯片）、AEC－Q101（半導(dǎo)體分立器件）、AEC－102（光電器件）、AEC－Q103（傳感器）、AEC－Q104（多芯片模塊）和AEC－Q200（被動元器件）。若想進(jìn)入汽車領(lǐng)域，則必須取得汽車電子協(xié)會的AEC－Q可靠度標(biāo)準(zhǔn)，以及零失效（Zero Defect）的供應(yīng)鏈質(zhì)量管理標(biāo)準(zhǔn)IATF16949規(guī)范。

03、AEC－Q標(biāo)準(zhǔn)要求嚴(yán)格，認(rèn)證難度大

車規(guī)級的電子元件對環(huán)境要求、抗振動沖擊、可靠性和一致性等方面要求嚴(yán)格，所以必須采用更先進(jìn)的技術(shù)和更苛刻的測試程序。

以AEC－Q100為例，規(guī)范了測試7大類別：

1）測試群組A（環(huán)境壓力加速測試）

2）測試群組B（使用壽命模擬測試）

3）測試群組C（封裝組裝整合測試）

4）測試群組D（芯片晶圓可靠度測試）

5）測試群組E（電氣特性確認(rèn)測試）

6）測試群組F（瑕疵篩選監(jiān)控測試）

7）測試群組G（封裝凹陷整合測試），

只有完全通過7大類別共41項測試后，才能獲得AEC－Q100認(rèn)證。AEC-Q系列認(rèn)證，完成全部測試，平均最低時間也需要大概6個月左右。

04、進(jìn)化中的AE-Q標(biāo)準(zhǔn)

AEC-Q100、AEC-Q101和AEC-Q200這三個標(biāo)準(zhǔn)是最早制訂的、也最常被引用的AEC-Q標(biāo)準(zhǔn)。在AEC網(wǎng)站上的“文檔”頁面列出了37個標(biāo)準(zhǔn)和子標(biāo)準(zhǔn)，其中七個被列為“新New”或“初始版本Initial release”。所以說AEC-Q標(biāo)準(zhǔn)是在不斷進(jìn)化的，特別是隨著高級駕駛輔助系統(tǒng)（ADAS）和自動駕駛等新技術(shù)的發(fā)展，標(biāo)準(zhǔn)還將保持這種持續(xù)更新的狀態(tài)，以適應(yīng)新技術(shù)和應(yīng)用的需求。比如，專門為光電半導(dǎo)體optoelectronics, MEMS傳感器, 以及模組multichip modules制定的標(biāo)準(zhǔn)：

.AEC-Q102：汽車應(yīng)用的光電半導(dǎo)體應(yīng)力測試標(biāo)準(zhǔn)

.AEC-Q103：MEMS壓力傳感器應(yīng)力測試標(biāo)準(zhǔn)

.AEC-Q104：汽車應(yīng)用的多芯片模塊（MCM）應(yīng)力測試標(biāo)準(zhǔn)

審核編輯黃宇