如果使用傳統(tǒng)的示波器，一般使用疊加顯示波形功能。疊加顯示功能可以盡可能利用示波器的垂直分辨率，使測試波形占據(jù)整個(gè)屏幕，觀察波形的細(xì)節(jié)。然而，當(dāng)您需要同時(shí)觀察兩個(gè)或兩個(gè)以上的信號時(shí)，多個(gè)波形將疊加在一起。一些工程師選擇縮小波形，分別占據(jù)顯示區(qū)域的一部分進(jìn)行觀測，以便同時(shí)觀察而不相互干擾，這將導(dǎo)致整個(gè)示波器的垂直分辨率降低振幅分辨率。

假設(shè)同時(shí)觀察兩個(gè)信號，波形縮小到理想信號的50%，則分辨率降低到50%左右，如果觀察四個(gè)信號，則降低到全屏顯示的25%。

為了解決工程師的這個(gè)問題，泰克示波器啟動了分區(qū)顯示功能。使用此功能，您可以分割示波器屏幕的顯示區(qū)域，每個(gè)區(qū)域顯示一個(gè)通道的波形，以確保每個(gè)波形不會干擾，并且不會犧牲其垂直分辨率。

泰克示波器系列采用Tek049芯片，這是泰克最新開發(fā)的ASIC(專用集成電路)。它是一個(gè)高度集成的系統(tǒng)(SOC)混合信號ASIC，包含4億個(gè)晶體管和20億個(gè)連接，形成4個(gè)內(nèi)部ADCS(模數(shù)轉(zhuǎn)換器)和集成DSP(數(shù)字信號處理器)。

手動光標(biāo)測試功能(多種光標(biāo)模式)

光標(biāo)測試功能是工程師常用的示波器功能。信號的時(shí)間差或振幅差可以快速手動測試。大多數(shù)工程師將使用光標(biāo)測試的基本功能，但泰克示波器的高級光標(biāo)測試功能鮮為人知：

1.利用泰克示波器的光標(biāo)測試功能，可以測量波形、水平、垂直、水平和垂直，大大擴(kuò)大了光標(biāo)測試的應(yīng)用范圍。例如，選擇波形光標(biāo)測試可以測試光標(biāo)1和光標(biāo)2的水平和垂直參數(shù)以及兩個(gè)光標(biāo)參數(shù)的變化δ，并且可以設(shè)置光標(biāo)聯(lián)動，從而快速方便地比較其他周期波形和初始測試位置的參數(shù)。

2.如果選擇波形，可以設(shè)置兩個(gè)光源來測試不同波形之間的時(shí)間順序關(guān)系。如圖所示，可以很容易地測試通道1的**個(gè)上升邊緣和通道2的第三個(gè)上升邊緣之間的時(shí)間差。

3.如果選擇水平和垂直模式，可以在水平和垂直模式下指定不同的測試源，以便于測試兩種不同通道波形的水平和垂直關(guān)系。

審核編輯黃宇