乘用車中的電子部分持續(xù)快速增長，驅(qū)動這一現(xiàn)象的主要因素是乘用車中集成了各種先進安全功能。整個行業(yè)向全自動駕駛汽車的轉(zhuǎn)變有望進一步增加此類安全功能的數(shù)量，進而增加電子部分的比重。最近有報告表明，高端汽車中目前集成了成百上千的半導體器件。另外，這些元器件的復雜性也是與日俱增。先進半導體的前沿領域是在執(zhí)行人工智能算法所需的芯片中，這些算法可以管理新興的自動駕駛功能。這些安全相關的器件必須符合極高的質(zhì)量和可靠性標準。這些要求已在 ISO 26262 標準中正式提出，世界各地的汽車制造商和供應商也已紛紛采用這一標準。這是一項綜合標準，涵蓋軟件和硬件的完整生命周期，從設計一直到測試和在現(xiàn)場運行。為幫助企業(yè)滿足 ISO 26262 標準強制要求的質(zhì)量和可靠性指標，Tessent 產(chǎn)品系列提供了一套全面的測試解決方案。

通過在線自測試確保系統(tǒng)可靠性

要確保汽車電子的可靠性，其中一種方法便是在 功 能 運 轉(zhuǎn) 期 間 執(zhí) 行 定 期 測 試 。借 助 Tessent MissionMode 架構(gòu)，可以實現(xiàn)對所有片上測試資源的低延遲系統(tǒng)級訪問，以便進行在線測試和診斷。

圖 1. 基于 IJTAG 的 Tessent MissionMode 架構(gòu)。

圖 1 顯示的即為該架構(gòu)。使用基于 IEEE 1687(IJTAG) 1,2 的網(wǎng)絡可以訪問在整個設計流程中分發(fā)的所有測試 IP。測試 IP 可以包括任意具有 DFT 功能的Tessent BIST，或任何符合 IJTAG 標準的第三方 IP。利用 SIB（掃描插入位）交換機的層次化網(wǎng)絡，即可與測試 IP 進行多面而又高效的通信。IEEE 1149.1 TAP（測試訪問端口）可提供對 IJTAG 網(wǎng)絡的外部訪問，主要在制造測試環(huán)境中使用。居于此架構(gòu)中心的是 Tessent MissionMode 控制器，它能接管 TAP信號，并將任何測試或診斷命令驅(qū)動至 IJTAG 網(wǎng)絡中的任意和所有測試 IP。

Tessent MissionMode 控制器可配置為在兩種不同模式下工作。在 CPU 訪問模式下，該控制器支持與 CPU 總線之間的雙向并行讀寫操作。該控制器可根據(jù)需要執(zhí)行并行到串行和串行到并行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換，以便在 CPU 總線與 IJTAG 網(wǎng)絡之間傳輸信息。此模式支持模塊級或系統(tǒng)級通信架構(gòu)，如圖 2 所示。

圖 2. 電路板/系統(tǒng)級的測試通信架構(gòu)。

服務處理器可通過任意汽車總線，例如 CAN（控制器局域網(wǎng)）或 I2C（內(nèi)置集成芯片），訪問各個MissionMode 控制器，進而訪問任意片上測試 IP。在直接存儲器訪問 (DMA) 模式下，MissionMode 控制器可讀取在非易失性存儲器中預載的命令數(shù)據(jù)。在系統(tǒng)操作期間，根據(jù)需要，可以存儲多種測試序列，而且可以以任何順序不限次數(shù)的重新獲得這些測試序列。

審核編輯：湯梓紅