日本HIOKI日置IM7587阻抗分析儀
HIOKIIM7587 阻抗分析儀產(chǎn)品特點(diǎn):

1.可進(jìn)行最高3GHz的穩(wěn)定的高頻測量

IM7587的測量頻率是1MHｚ～3GHz。在改變頻率的同時進(jìn)行測量的分析儀的模式下寬頻帶的話則可以進(jìn)行偏差較小的穩(wěn)定的阻抗評估，因此能夠從電子元件的開發(fā)到生產(chǎn)線上等各種領(lǐng)域內(nèi)使用。

2.最短0.5ms的高速測量，有助于提高生產(chǎn)性

最短0.5ms（0.0005秒）的高速測量。因此，對于希望能夠快速檢查大量電子元件的生產(chǎn)廠家來說，大幅提高了生產(chǎn)效率。

3.主機(jī)尺寸小巧，降低生產(chǎn)成本

和去年發(fā)售的IM7580系列同樣小巧、輕便。電子元件生產(chǎn)廠家的生產(chǎn)線中，可以實(shí)現(xiàn)為了提高空間效率的檢查系統(tǒng)的小型化，以及通過同時安裝多臺來縮短檢查時間，從而降低生產(chǎn)成本。而且，這類測量儀器非常的輕巧方便攜帶，能夠在研發(fā)、品保、生產(chǎn)線等多種場合同時使用，放在桌上也不會占太多空間。

4.各種判定功能，判斷合格與否

單一頻率測量的LCR測試儀模式下，有判斷電子元件合格與否的比較器功能、挑選電子元件的BIN功能。比較器功能是設(shè)置上下限值，并以其為判斷標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行合格與否的判斷。相對于以1個判斷標(biāo)準(zhǔn)判斷合格與否的比較器功能，BIN功能最多可以設(shè)置10種判斷標(biāo)準(zhǔn)，并進(jìn)行排名。

多種頻率測量的分析模式下，有從電子元件的頻率特性中能判斷合格與否的區(qū)域判定、峰值判定。區(qū)域判定是確認(rèn)測量值是否進(jìn)入任意設(shè)置的判定區(qū)域內(nèi)的功能。峰值判定是判定共振點(diǎn)的功能。另外，還具有任意設(shè)置多種頻率，并以此設(shè)定值為基礎(chǔ)判斷合格與否的點(diǎn)判斷功能

基本參數(shù)：

基本精度 Z：0.65%rdg.θ：0.38(代表值)

測量時間 最短0.5ms（模擬測量時間）

測量范圍 100mΩ～5kΩ

測量頻率 1MHz～3GHz

測量信號電平 -40.0dBm～+1.0dBm（4mV～502mV）

主要用途：

電子元件生產(chǎn)廠家內(nèi)的電子元件的出貨檢查和特性評估

電子設(shè)備生產(chǎn)廠家內(nèi)的電子元件的驗(yàn)貨檢查和特性評估

高校研究所內(nèi)的電子元件的特性評估

審核編輯 黃宇