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關鍵字：STM32F42xx，SPI，OSPEEDR，APB

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1.問題描述

2.問題的排查

3.原因的進一步分析

問題描述

客戶在項目開發(fā)中使用STM32F427GT6的SPI連接外部Flash時，發(fā)現(xiàn)在常溫下能正常讀寫，但是在高溫下一段時間后（大概5分鐘左右）出現(xiàn)讀寫異常的情況。讀寫異常時發(fā)生在發(fā)送0x5指令后，返回數(shù)據(jù)通過軟件讀取的是0，而硬件抓取的是1。同時也發(fā)現(xiàn)同一份代碼，同樣硬件，如果flash換成別的廠家的，在同樣溫度條件下又沒有出現(xiàn)讀寫異常。

問題的排查

根據(jù)客戶的描述，初期懷疑是否是不同F(xiàn)lash廠家的兼容性問題，現(xiàn)場進一步測試，發(fā)現(xiàn)客戶軟件在70℃環(huán)境溫度下，除了program、erase時寄存器會讀錯數(shù)據(jù)，用只讀指令0x03也會讀錯數(shù)據(jù)（0x55、0xaa會被軟件讀成0x54、0xab）。

根據(jù)這個結果，我們懷疑到tCLQV這個參數(shù)?？瓷先ギ斍暗能浖窃趂lash輸出數(shù)據(jù)時，在CLK下降沿時去采集flash MO數(shù)據(jù)的，所以高溫引起的細微的tCLQV變化可能會導致軟件采集出錯。我們建議MCU在下一個CLK的上升沿去采集數(shù)據(jù)，此時flash MO數(shù)據(jù)已經(jīng)穩(wěn)定為1。

現(xiàn)場調(diào)整GPIO（即flash CLK/SI/SO）OSPEEDR速率后異?，F(xiàn)象消失，GPIO速率調(diào)整后CLK信號斜率變大，tCLQV跟隨變小，軟件抓到錯誤數(shù)據(jù)的現(xiàn)象消失，這個實驗結果也與上述tCLQV這個懷疑點相匹配。下面是不同GPIO速率下的測試結果。

GPIO_SPEED_FREQ_LOW，常溫：tCLQV=5.584ns。

GPIO_SPEED_FREQ_LOW，70℃：tCLQV=6.064ns，FAIL。

GPIO_SPEED_FREQ_MEDIUM，70℃：tCLQV=4.805ns。

GPIO_SPEED_FREQ_HIGH，70℃：tCLQV=4.577ns。

原因的進一步分析

進一步了解客戶系統(tǒng)的初始化，其中clock配置信息如下：采用外部晶振為25MHZ，plln=360，pllm=25，pllp=2，pllq=8，系統(tǒng)主頻：25/25*360/2=180MHz，APB2：180/2=90MHz，SPI的波特率為2.8MHz。SPI的引腳設置均為GPIO_Initure.Speed為low。

查找到STM32F42xx的勘誤手冊，我們發(fā)現(xiàn)有同樣問題的描述：