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室溫超導(dǎo)神話!太赫茲Onyx系統(tǒng)助力電性能無損檢測

虹科光電 ? 2023-08-17 09:25 ? 次閱讀
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我們會見證超導(dǎo)時(shí)代的到來嗎?

從7月底開始,“室溫超導(dǎo)”風(fēng)暴席卷全球,韓國團(tuán)隊(duì)在arXiv上傳了兩篇論文,宣稱成功合成了世界上第一個室溫常壓超導(dǎo)體——改性鉛磷灰石晶體結(jié)構(gòu)(LK-99)

該實(shí)驗(yàn)結(jié)果引起了科研界熱議,與此同時(shí),各國迅速展開重復(fù)實(shí)驗(yàn),包括中國高校以及美國相關(guān)公司、實(shí)驗(yàn)室,然而,無論是實(shí)驗(yàn)還是理論計(jì)算,不同的論文結(jié)果卻大相徑庭。有的論文給出了支持超導(dǎo)的幾項(xiàng)證據(jù)[1][2],有的卻說只是普通磁性材料[3],甚至是雜質(zhì)的假信號[4]。LK-99的前景也隨著論文的更新不停反轉(zhuǎn),籠罩在LK-99上的迷霧似乎越發(fā)濃重。

眾所周知,電流的傳導(dǎo)需要電子的移動,而溫度則與原子的振動有關(guān)。電子在移動時(shí),會受到振動的原子的阻礙,形成電阻。一般來說,溫度越高,電阻越大;反之亦然。常溫超導(dǎo)就是在材料的臨界溫度以下,原子停止振動,電子可以自由通過,從而實(shí)現(xiàn)零電阻的狀態(tài)。f382b48e-3c9c-11ee-ad04-dac502259ad0.png

在過去的數(shù)十年里,人們一直努力提高超導(dǎo)材料的臨界溫度。從1911年到1986年的75年間,臨界溫度僅從4K提高到23K,再到1986年達(dá)到35K。目前大規(guī)模應(yīng)用的超導(dǎo)材料是1987年發(fā)現(xiàn)的一種,但它依然需要在液氮溫區(qū)工作,液氮的溫度為零下196℃。因此,現(xiàn)在有研究人員聲稱發(fā)現(xiàn)常壓常溫超導(dǎo)材料,如果為真,則將是一項(xiàng)具有歷史性突破的成就。新的超導(dǎo)材料要想獲得認(rèn)可,既需要作者給出令人信服的數(shù)據(jù),又需要其他同行能夠重復(fù)出同樣的效果。要想確定一種新材料是否具有超導(dǎo)性,總需要用一臺儀器對一塊樣品做點(diǎn)什么。因此,對疑似超導(dǎo)體的驗(yàn)證工作至少可以分成兩大部分:獲得一塊高質(zhì)量的樣品,和對樣品完成測試。

制備樣品需要復(fù)雜的合成步驟,以及多次驗(yàn)證,獲得到一份完整純凈的樣品就不是一件易事。就算獲得了堪用的樣品,怎樣用它測出有服力的數(shù)據(jù)同樣是一件技術(shù)活:常規(guī)的測電阻的方法而言,比如四探針法,樣品首先需要清潔打磨——如果磨的力量輕了,樣品表面的雜質(zhì)沒被剝離,就會帶來假信號;如果磨得重了,樣品可能直接四分五裂。磨好以后,還要并排粘上四根導(dǎo)電電極。電極要粘得平行等長,彼此還要留出足夠的距離。從打磨到粘電極,這些顯微鏡下的精細(xì)活都要迅速完成,不然樣品在空氣中氧化變質(zhì),前面的工作就會全部前功盡棄了。

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實(shí)際上在樣品表征的這一步,如果有更為簡單的非接觸式的電阻檢測技術(shù),那對于超導(dǎo)材料的驗(yàn)證將會變得更加容易。針對薄膜以及二維材料的電參數(shù)無損檢測需求,虹科提供基于太赫茲技術(shù)的Onyx系統(tǒng),能夠無損傷、非接觸式地測量材料的多種電參數(shù),助力超導(dǎo)材料的研究!

虹科方案:太赫茲Onyx系統(tǒng)

HONGKE

太赫茲波位于微波紅外之間,具有諸多優(yōu)異性質(zhì),比如沒有電離輻射,對非極性材料的優(yōu)異穿透性,以及非接觸式的工作方式,在缺陷檢測、涂層測厚、參數(shù)表征功能方面具有極佳的應(yīng)用前景。

虹科Onyx系統(tǒng)基于先進(jìn)的太赫茲技術(shù)與專業(yè)算法,它是市場上第一個旨在為石墨烯、薄膜和其他2D材料提供非破壞性和非接觸式全面積表征的系統(tǒng)。

Onyx系統(tǒng)特點(diǎn)

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“ONYX

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  • 可測面積大:從1x1mm到200x200mm (8"),可定制更大面積(m2)
  • 適用范圍廣:可用于多種形態(tài)的石墨烯與碳納米管、旋涂光樹脂、PEDOT、GaN等其他二維材料
  • 高分辨率快速表征:分辨率高達(dá)50um,掃描速度最高12mm2/min

多種參數(shù):一次測量,即可得多種數(shù)據(jù),包括電導(dǎo)率、電阻率、折射率、電荷載流子遷移率、電荷載流子密度、介電常數(shù)ε'與ε”、吸收功率、單頻特性、厚度

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Onyx系統(tǒng)通過以非破壞性和非接觸方式表征從 >1 mm2 到大面積 (m2) 樣品的特性,填補(bǔ)了宏觀和納米級工具之間的技術(shù)空白,從而促進(jìn)了材料研究領(lǐng)域的工業(yè)化。這種技術(shù)是無損檢測的,不需要樣品制備,并且可以測量樣品質(zhì)量的空間分布。幾百微米量級的空間分辨率與太赫茲信號的快速采集和處理使得 Onyx 能夠快速表征大面積的樣品區(qū)域。
Onyx 符合 IEC TS 62607-6-10:2021 技術(shù)規(guī)范。IEC TS 62607-6-10:2021涉及使用太赫茲時(shí)域光譜法測量基于石墨烯的材料的薄片電阻。太赫茲技術(shù)與傳統(tǒng)電參數(shù)測量技術(shù)相比,具有明顯優(yōu)勢,對比見下表:f428892c-3c9c-11ee-ad04-dac502259ad0.png

案例分享:Onyx系統(tǒng)測量材料的電參數(shù)

/ HONGKE

虹科案例

Onyx系統(tǒng)已被CIEMAT、NanoGune、IHP等多個客戶用于石墨烯、光伏器件以及半導(dǎo)體晶圓等材料的電參數(shù)性能無損表征,并有推廣工業(yè)應(yīng)用的巨大潛力。

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01

ITO——查看材料之間的電性能差異

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02

GaN——Onyx可以發(fā)現(xiàn)GaN層與GaN棒上的差異

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03

在Si-ALD上的TiN

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200 mm 尺度的橢偏和電導(dǎo)率圖的相關(guān)性:3% 的厚度均勻度與4% 的電阻率均勻度

04

ALD-ZnO薄膜檢測

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虹科Onyx 可以發(fā)現(xiàn) ALD 過程中的損失并檢查樣品的質(zhì)量

05

更多可測量材料

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因此,太赫茲Onyx系統(tǒng)能夠為材料科研提供更加簡便、更加高效的電參數(shù)測量手段,不再需要復(fù)雜的樣品制備工作,兼顧了高速以及高分辨率的優(yōu)勢,有望助力未來的室溫超導(dǎo)的電參數(shù)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證!

寫在最后

據(jù)環(huán)球網(wǎng)援引韓聯(lián)社8月3日報(bào)道,自韓國量子能源研究所研究團(tuán)隊(duì)公開在常溫常壓條件下制造超導(dǎo)物質(zhì)“LK-99”的論文后,韓國超導(dǎo)低溫學(xué)會經(jīng)過科學(xué)研判,認(rèn)為“LK-99”并非室溫超導(dǎo)體,因?yàn)閷?shí)驗(yàn)材料沒有完全表現(xiàn)出“邁斯納現(xiàn)象”,且該韓國研究團(tuán)隊(duì)成員拒絕提交樣本進(jìn)行測試。目前,韓國團(tuán)隊(duì)所提出的室溫超導(dǎo)結(jié)果仍無定論或許,未來會有更多的“室溫超導(dǎo)材料”出現(xiàn)又被證偽;或許,常壓室溫超導(dǎo)根本就不存在。但人類對超導(dǎo)的探索不會停止,這是工程學(xué)的期盼,也是科學(xué)的追求。

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