日B视频 亚洲,啪啪啪网站一区二区,91色情精品久久,日日噜狠狠色综合久,超碰人妻少妇97在线,999青青视频,亚洲一区二卡,让本一区二区视频,日韩网站推荐

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

KRi 考夫曼離子源表面預(yù)清潔 Pre-clean 應(yīng)用

伯東企業(yè)(上海)有限公司 ? 2023-05-25 10:10 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

上海伯東代理美國(guó) KRi 考夫曼離子源適用于安裝在 MBE 分子束外延, 濺射和蒸發(fā)系統(tǒng), PLD 脈沖激光系統(tǒng)等, 在沉積前用離子轟擊表面, 進(jìn)行預(yù)清潔 Pre-clean 的工藝, 對(duì)基材表面有機(jī)物清洗, 金屬氧化物的去除等, 提高沉積薄膜附著力, 純度, 應(yīng)力, 工藝效率等!

KRi 離子源預(yù)清潔可以實(shí)現(xiàn)
去除物理吸附污染: 去除表面污染, 如水, 吸附氣體, 碳?xì)浠衔餁埩?br />去除化學(xué)吸附污染: 去除天然和粘合材料. 如表面氧化物, 通常去除 < 100?

考夫曼離子源KRi 離子源



KRi 考夫曼離子源表面預(yù)清潔 Pre-clean 應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)條件: 8寸硅片帶銅膜, 通氬氣, 60s
污染物清除: 有機(jī)物,吸附氣體
數(shù)據(jù)來(lái)源: 俄歇電子能譜 Auger spectra, 美國(guó) KRi 原廠資料

KRi 離子源預(yù)清潔KRi 考夫曼離子源表面預(yù)清潔 Pre-clean 應(yīng)用


KRi 考夫曼離子源表面預(yù)清潔 Pre-clean 應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)條件: 輕蝕刻, 硅片去除很薄的金屬膜, 通氬氣
污染物清除: 去除金屬薄膜 (w/ Ni/Fe)
數(shù)據(jù)來(lái)源: 美國(guó) KRi 原廠資料

考夫曼離子源,離子清洗KRi 考夫曼離子源表面預(yù)清潔 Pre-clean 應(yīng)用




1978 年 Dr. Kaufman 博士在美國(guó)創(chuàng)立 Kaufman & Robinson, Inc 公司, 研發(fā)生產(chǎn)寬束離子源, 根據(jù)設(shè)計(jì)原理分為考夫曼離子源,霍爾離子源射頻離子源. 美國(guó)考夫曼離子源歷經(jīng)40 年改良及發(fā)展已取得多項(xiàng)專利.

上海伯東美國(guó) KRi 離子源廣泛用于離子清洗 PC, 離子蝕刻 IBE, 輔助鍍膜 IBAD, 離子濺射鍍膜 IBSD 和離子束拋光工藝 IBF 等領(lǐng)域,上海伯東是美國(guó) KRi考夫曼離子源中國(guó)總代理.

若您需要進(jìn)一步的了解 KRi考夫曼離子源, 請(qǐng)聯(lián)絡(luò)上海伯東葉女士 分機(jī) 107

上海伯東版權(quán)所有, 翻拷必究!
現(xiàn)部分品牌誠(chéng)招合作代理商, 有意向者歡迎聯(lián)絡(luò)上海伯東 葉女士

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 硅片
    +關(guān)注

    關(guān)注

    13

    文章

    419

    瀏覽量

    35817
  • 離子源
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    18

    瀏覽量

    6171
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    印制電路板(PCB)離子清潔度測(cè)試

    影響電子產(chǎn)品的功能與長(zhǎng)期可靠性。離子污染最常見(jiàn)的危害包括表面腐蝕和結(jié)晶生長(zhǎng),最終可能引發(fā)短路,導(dǎo)致過(guò)多電流通過(guò)連接器,造成電子產(chǎn)品損壞。因此,準(zhǔn)確檢測(cè)離子清潔度,確定污染物
    的頭像 發(fā)表于 11-12 14:37 ?773次閱讀
    印制電路板(PCB)<b class='flag-5'>離子</b><b class='flag-5'>清潔</b>度測(cè)試

    聚焦離子束技術(shù)在TEM樣品制備中的應(yīng)用

    聚焦離子束技術(shù)聚焦離子束(FocusedIonBeam,簡(jiǎn)稱FIB)技術(shù)是一種先進(jìn)的微觀加工與分析手段,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)以及半導(dǎo)體研究等領(lǐng)域。FIB核心原理是利用離子源產(chǎn)生高能離子
    的頭像 發(fā)表于 11-11 15:20 ?474次閱讀
    聚焦<b class='flag-5'>離子</b>束技術(shù)在TEM樣品制備中的應(yīng)用

    納米技術(shù)之聚焦離子束(FIB)技術(shù)

    離子束具備的基本功能早期的FIB技術(shù)依賴氣體場(chǎng)電離(GFIS),但隨著技術(shù)的演進(jìn),液態(tài)金屬離子源(LMIS)逐漸嶄露頭角,尤其是以鎵為基礎(chǔ)的離子源,憑借其卓越的性能成為行業(yè)主流。鎵
    的頭像 發(fā)表于 09-22 16:27 ?797次閱讀
    納米技術(shù)之聚焦<b class='flag-5'>離子</b>束(FIB)技術(shù)

    制備TEM及掃描透射電鏡樣品的詳細(xì)步驟

    聚焦FIB技術(shù):微納尺度加工的利器聚焦離子束(FIB)技術(shù)以其卓越的精確度在微觀加工領(lǐng)域占據(jù)重要地位,能夠?qū)崿F(xiàn)從微米級(jí)到納米級(jí)的精細(xì)加工。FIB技術(shù)的關(guān)鍵部分是其離子源,大多數(shù)情況下使用的是液態(tài)金屬
    的頭像 發(fā)表于 09-15 15:37 ?641次閱讀
    制備TEM及掃描透射電鏡樣品的詳細(xì)步驟

    聚焦離子束(FIB)在材料分析的應(yīng)用

    FIB是聚焦離子束的簡(jiǎn)稱,由兩部分組成。一是成像,把液態(tài)金屬離子源輸出的離子束加速、聚焦,從而得到試樣表面電子像(與SEM相似);二是加工,通過(guò)強(qiáng)電流
    的頭像 發(fā)表于 08-26 15:20 ?1025次閱讀
    聚焦<b class='flag-5'>離子</b>束(FIB)在材料分析的應(yīng)用

    聚焦離子束(FIB)技術(shù)介紹

    聚焦離子束(FIB)技術(shù)因液態(tài)金屬離子源突破而飛速發(fā)展。1970年初期,多國(guó)科學(xué)家研發(fā)多種液態(tài)金屬離子源。1978年,美國(guó)加州休斯研究所搭建首臺(tái)Ga+基FIB加工系統(tǒng),推動(dòng)技術(shù)實(shí)用化。80至90年代
    的頭像 發(fā)表于 08-19 21:35 ?1333次閱讀
    聚焦<b class='flag-5'>離子</b>束(FIB)技術(shù)介紹

    什么是聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)?

    工作原理聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)是一種集多種先進(jìn)技術(shù)于一體的微觀分析儀器,其工作原理基于離子束與電子束的協(xié)同作用。1.離子束原理離子束部分的核心是液態(tài)金屬
    的頭像 發(fā)表于 07-15 16:00 ?1154次閱讀
    什么是聚焦<b class='flag-5'>離子</b>束掃描電鏡(FIB-SEM)?

    聚焦離子束技術(shù):微納米制造與分析的利器

    聚焦離子束技術(shù)概述聚焦離子束(FocusedIonBeam,F(xiàn)IB)技術(shù)是微納米尺度制造與分析領(lǐng)域的一項(xiàng)關(guān)鍵核心技術(shù)。其原理是利用靜電透鏡將離子源匯聚成極為精細(xì)的束斑,束斑直徑可精細(xì)至約5納米。當(dāng)這
    的頭像 發(fā)表于 07-08 15:33 ?685次閱讀
    聚焦<b class='flag-5'>離子</b>束技術(shù):微納米制造與分析的利器

    聚焦離子束技術(shù):微納加工與分析的利器

    部分,通常采用液態(tài)金屬離子源,如鎵離子源。針型液態(tài)金屬離子源的尖端是直徑約幾微米的鎢針,針尖正對(duì)著孔徑,在孔徑上加一外電場(chǎng),同時(shí)加熱金屬,液態(tài)金屬浸潤(rùn)針尖,在外加電場(chǎng)作
    的頭像 發(fā)表于 07-02 19:24 ?1020次閱讀
    聚焦<b class='flag-5'>離子</b>束技術(shù):微納加工與分析的利器

    FIB 與成分分析的關(guān)聯(lián)原理

    離子束與樣品的相互作用在FIB系統(tǒng)中,離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)聚焦后轟擊樣品表面,引發(fā)一系列物理現(xiàn)象。入射離子與樣品原子的原子核碰撞,產(chǎn)生濺射現(xiàn)
    的頭像 發(fā)表于 06-27 18:43 ?684次閱讀
    FIB 與成分分析的關(guān)聯(lián)原理

    聚焦離子束技術(shù)的崛起與應(yīng)用拓展

    掩模加工。聚焦離子束(FIB)技術(shù)的發(fā)展離不開(kāi)液態(tài)金屬離子源的關(guān)鍵突破。20世紀(jì)70年代初,來(lái)自美國(guó)阿貢國(guó)家實(shí)驗(yàn)室、英國(guó)Cluham實(shí)驗(yàn)室、美國(guó)俄勒岡研究中心等機(jī)構(gòu)
    的頭像 發(fā)表于 06-24 14:31 ?823次閱讀
    聚焦<b class='flag-5'>離子</b>束技術(shù)的崛起與應(yīng)用拓展

    離子束的傳輸與信號(hào)探測(cè)

    聚焦離子束(FIB)在材料科學(xué)和微納加工領(lǐng)域內(nèi)的重要性日益顯現(xiàn),離子束的傳輸過(guò)程由多個(gè)關(guān)鍵組件構(gòu)成,包含離子源、透鏡和光闌等,而其性能的提升則依賴于光學(xué)元件的校正和功能擴(kuò)展。此外,F(xiàn)IB技術(shù)的功能
    的頭像 發(fā)表于 06-17 15:47 ?1311次閱讀
    <b class='flag-5'>離子</b>束的傳輸與信號(hào)探測(cè)

    聚焦離子束顯微鏡(FIB)的應(yīng)用

    技術(shù)原理聚焦離子束顯微鏡(FocusedIonBeam,FIB)的核心在于其獨(dú)特的鎵(Ga)離子源。鎵金屬因其較低的熔點(diǎn)(29.76°C)和在該溫度下極低的蒸氣壓(?10^-13Torr),成為理想
    的頭像 發(fā)表于 06-12 14:05 ?980次閱讀
    聚焦<b class='flag-5'>離子</b>束顯微鏡(FIB)的應(yīng)用

    一文了解聚焦離子束(FIB)技術(shù)及聯(lián)用技術(shù)

    作為離子源材料。通過(guò)電場(chǎng)激發(fā),液態(tài)金屬離子源能夠生成穩(wěn)定的離子流。隨后,利用靜電透鏡系統(tǒng),將離子束聚焦至直徑僅幾納米的極細(xì)束斑。當(dāng)這束高能離子
    的頭像 發(fā)表于 05-29 16:15 ?1335次閱讀
    一文了解聚焦<b class='flag-5'>離子</b>束(FIB)技術(shù)及聯(lián)用技術(shù)

    光纖預(yù)端接方式有幾種

    光纖預(yù)端接方式主要包括以下幾種,每種方式都有其獨(dú)特的特點(diǎn)和應(yīng)用場(chǎng)景: 工廠預(yù)端接(Factory Pre-terminated) 特點(diǎn):在工廠環(huán)境下,通過(guò)高精度設(shè)備將光纖連接器(如LC、SC、MPO
    的頭像 發(fā)表于 05-13 14:13 ?1040次閱讀
    和硕县| 卓尼县| 洪雅县| 泌阳县| 颍上县| 广平县| 鞍山市| 松溪县| 怀仁县| 金塔县| 临邑县| 山西省| 泰安市| 阳高县| 绿春县| 龙海市| 资阳市| 庐江县| 杭锦后旗| 孟连| 西乌珠穆沁旗| 达孜县| 烟台市| 汉源县| 北京市| 乌鲁木齐市| 句容市| 镇宁| 晋宁县| 旌德县| 吴桥县| 扬州市| 东阳市| 探索| 左贡县| 肃北| 龙陵县| 临海市| 松溪县| 新绛县| 南江县|