兩種方法： 時(shí)域和頻域測試，如下：

?方法1. ATE time measurement unit （ TMU）測試。（時(shí)域，需要額外的TMU license，因此常不采用。）

實(shí)施步驟：ATE 構(gòu)造TMU TASK。TMU可以非常高精度地根據(jù)task設(shè)置trigger到上升沿的時(shí)刻，因此可以通過兩個(gè)上升沿的差值計(jì)算出頻率，支持多次采樣，如下圖所示：

?方法2. 構(gòu)造采樣向量，離散傅里葉公式計(jì)算頻譜，頻譜的最大和第2大頻率轉(zhuǎn)換即為待測信號(hào)頻率。（頻域）

?a）預(yù)先構(gòu)造一條全L的向量，假設(shè)叫做PLL_sample.

?b） 運(yùn)行DFT PLL向量的測試項(xiàng)。運(yùn)行后， 不復(fù)位的情況下DUT此時(shí)穩(wěn)定輸出時(shí)鐘信號(hào)。

?c） 運(yùn)行預(yù)先構(gòu)造好的向量PLL_sample，收集fail cycle，也就是ATE的error
map。獲得一串0/1組成的一維序列，如下圖（點(diǎn)擊可放大）：

?d）。對獲得一維序列進(jìn)行漢明窗口卷積后，使用快速離散傅立葉變換獲得頻譜。通過頻譜可以相當(dāng)高精度的獲得輸出的頻率，通過spec進(jìn)行分bin。

實(shí)際步驟：首先應(yīng)用DSP_FFT與漢明窗口。然后搜索頻譜第一大主頻kmax 和第二大頻，（kmax-1 或者kmax+1）。如圖所示，第1大和第2大頻率成為關(guān)鍵參數(shù)。

核心為兩個(gè)公式：